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標(biāo)簽 > JTAG
JTAG是英文“Joint Test Action Group(聯(lián)合測(cè)試行為組織)”的詞頭字母的簡(jiǎn)寫,該組織成立于1985 年,是由幾家主要的電子制造商發(fā)起制訂的PCB 和IC 測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。
JTAG是英文“Joint Test Action Group(聯(lián)合測(cè)試行為組織)”的詞頭字母的簡(jiǎn)寫,該組織成立于1985 年,是由幾家主要的電子制造商發(fā)起制訂的PCB 和IC 測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。JTAG 建議于1990 年被IEEE 批準(zhǔn)為IEEE1149.1-1990 測(cè)試訪問端口和邊界掃描結(jié)構(gòu)標(biāo)準(zhǔn)。該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了進(jìn)行邊界掃描所需要的硬件和軟件。自從1990 年批準(zhǔn)后,IEEE 分別于1993 年和1995 年對(duì)該標(biāo)準(zhǔn)作了補(bǔ)充,形成了現(xiàn)在使用的IEEE1149.1a-1993 和IEEE1149.1b-1994。JTAG 主要應(yīng)用于:電路的邊界掃描測(cè)試和可編程芯片的在線系統(tǒng)編程。
JTAG是英文“Joint Test Action Group(聯(lián)合測(cè)試行為組織)”的詞頭字母的簡(jiǎn)寫,該組織成立于1985 年,是由幾家主要的電子制造商發(fā)起制訂的PCB 和IC 測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。JTAG 建議于1990 年被IEEE 批準(zhǔn)為IEEE1149.1-1990 測(cè)試訪問端口和邊界掃描結(jié)構(gòu)標(biāo)準(zhǔn)。該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了進(jìn)行邊界掃描所需要的硬件和軟件。自從1990 年批準(zhǔn)后,IEEE 分別于1993 年和1995 年對(duì)該標(biāo)準(zhǔn)作了補(bǔ)充,形成了現(xiàn)在使用的IEEE1149.1a-1993 和IEEE1149.1b-1994。JTAG 主要應(yīng)用于:電路的邊界掃描測(cè)試和可編程芯片的在線系統(tǒng)編程。
JTAG也是一種國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試協(xié)議(IEEE 1149.1兼容),主要用于芯片內(nèi)部測(cè)試。現(xiàn)今多數(shù)的高級(jí)器件都支持JTAG協(xié)議,如DSP、FPGA、ARM、部分單片機(jī)器件等。標(biāo)準(zhǔn)的JTAG接口是4線:TMS、TCK、TDI、TDO,分別為模式選擇、時(shí)鐘、數(shù)據(jù)輸入和數(shù)據(jù)輸出線。 相關(guān)JTAG引腳的定義為:TCK為測(cè)試時(shí)鐘輸入;TDI為測(cè)試數(shù)據(jù)輸入,數(shù)據(jù)通過TDI引腳輸入JTAG接口;TDO為測(cè)試數(shù)據(jù)輸出,數(shù)據(jù)通過TDO引腳從JTAG接口輸出;TMS為測(cè)試模式選擇,TMS用來設(shè)置JTAG接口處于某種特定的測(cè)試模式;TRST為測(cè)試復(fù)位,輸入引腳,低電平有效。GND
TI還定義了一種叫SBW-JTAG的接口,用來在引腳較少的芯片上通過最少的利用引腳實(shí)現(xiàn)JTAG接口,它只有兩條線,SBWTCK,SBWTDIO。實(shí)際使用時(shí)一般通過四條線連接,VCC,SBWTCK,SBWTDIO,GND,這樣就可以很方便的實(shí)現(xiàn)連接,又不會(huì)占用大量引腳。
JTAG最初是用來對(duì)芯片進(jìn)行測(cè)試的,基本原理是在器件內(nèi)部定義一個(gè)TAP(Test Access Port測(cè)試訪問口)通過專用的JTAG測(cè)試工具對(duì)內(nèi)部節(jié)點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試。JTAG測(cè)試允許多個(gè)器件通過JTAG接口串聯(lián)在一起,形成一個(gè)JTAG鏈,能實(shí)現(xiàn)對(duì)各個(gè)器件分別測(cè)試。現(xiàn)今,JTAG接口還常用于實(shí)現(xiàn)ISP(In-System Programmable;在線編程),對(duì)FLASH等器件進(jìn)行編程。
JTAG編程方式是在線編程,傳統(tǒng)生產(chǎn)流程中先對(duì)芯片進(jìn)行預(yù)編程后再裝到板上因此而改變,簡(jiǎn)化的流程為先固定器件到電路板上,再用JTAG編程,從而大大加快工程進(jìn)度。JTAG接口可對(duì)DSP芯片內(nèi)部的所有部件進(jìn)行編程。
在硬件結(jié)構(gòu)上,JTAG 接口包括兩部分:JTAG 端口和控制器。與JTAG 接口兼容的器件可以是微處理器(MPU)、微控制器(MCU)、PLD、CPL、FPGA、DSP、ASIC 或其它符合IEEE1149.1 規(guī)范的芯片。IEEE1149.1 標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定對(duì)應(yīng)于數(shù)字集成電路芯片的每個(gè)引腳都設(shè)有一個(gè)移位寄存單元,稱為邊界掃描單元BSC。它將JTAG 電路與內(nèi)核邏輯電路聯(lián)系起來,同時(shí)隔離內(nèi)核邏輯電路和芯片引腳。由集成電路的所有邊界掃描單元構(gòu)成邊界掃描寄存器BSR。邊界掃描寄存器電路僅在進(jìn)行JTAG 測(cè)試時(shí)有效,在集成電路正常工作時(shí)無效,不影響集成電路的功能。
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