產品概述

IMPERATA是簡矽自主研發的一款DFT EDA工具。它提供了一整套解決方案，用于在集成電路設計過程中實現測試和驗證的自動化。IMPERATA工具包括了多種先進的測試技術，如Boundary Scan、MBIST（Memory Built-In Self-Test）、iJTAG（Internal Joint Test Action Group）測試等。通過這些技術，IMPERATA可以幫助設計人員在設計階段就考慮測試需求，從而提高芯片的可測試性，減少制造時的測試成本和時間。

功能介紹

1. iJTAG（IEEE 1687）測試

實現對芯片內部各個功能模塊的全面測試。該功能使得用戶能夠輕松地實現iJTAG測試架構的配置和控制，幫助用戶快速構建和定制符合特定需求的測試解決方案，從而大大簡化了測試流程。

2. JTAG（IEEE 1149.1）測試

工具支持通過測試芯片上的JTAG端口對芯片進行訪問和控制，以執行測試操作。

3. Boundary Scan測試

提供一套完整的Boundary Scan測試解決方案。IMPERATA的Boundary Scan測試功能包括了掃描鏈的生成、測試向量的生成、以及與JTAG接口的交互等功能。用戶可以輕松地配置和管理Boundary Scan測試，以滿足不同的測試需求和目標。

4. MBIST測試

提供一套完整的針對RAM和ROM的測試解決方案。IMPERATA的MBIST測試功能包括了MBIST IP的生成、與iJTAG接口的交互以及生成測試向量等功能。對于RAM提供了9種測試算法，以滿足不同的測試需求和目標。

5. 自動生成DFT解決方案

支持自動分析design，生成DFT architect，幫助用戶優化測試策略。

產品特點

1. 高度自動化

在運行IMPERATA工具之前，用戶可以將所有配置寫入一個文件中，執行該文件即可完成工具運行，無需人工干預。

2. 自主研發

IMPERATA工具從設計到開發完全采用自主開發的程序，不依賴任何國外工具，實現了完全自主的國產化。

3. 操作簡便

即使是DFT經驗有限的新手，也可以使用IMPERATA生成一套工具推薦的DFT解決方案，無需過度依賴DFT經驗。

4. 穩定性和適用性高

IMPERATA工具具備完整的異常處理機制，運行中出現異常情況時，會向用戶提供詳細的報錯信息和日志，確保了工具的穩定性和適用性。

審核編輯：劉清