精譜測控薄膜表面檢測儀主要用于各類薄膜產品的檢測工作，可針對生產過程中的薄膜表面出現的斷經、斷緯、破洞、油污、經緯污、雙緯、稀弄、粗節紗、空織、松緊經、圈緯、小散絲、松緯、經起毛、開口不清等瑕疵進行檢測，同時系統會把檢測出來的問題，提供生產統計質檢報告，統計和分析各類疵點，完全取代人工肉眼進行瑕疵檢測。大大的節省了生產成本，為生產提質增效。那么薄膜瑕疵檢測系統的檢測方法及特點是什么呢?

精譜測控薄膜表面檢測儀檢測方法如下：

針對透光率高的薄膜材料，系統采用透射的打光檢測方式進行檢測，即光源在薄膜的下方，相機在薄膜的上方進行圖像拍攝。產線運行時，系統通過編碼器實時的采集產線運行狀態信息并開始檢測，系統將相機采集到的圖像通過圖像分析軟件進行瑕疵處理，由于瑕疵與正常產品的圖像在灰階上存在明顯差異，從而使得系統能夠發現瑕疵，并通過進一步的計算、分析來確定瑕疵的大小、位置、類型等信息。

精譜測控薄膜表面檢測儀特點：

1、該品種經過多次的測試，可檢測常見缺陷，檢測率高.

2、能提高降等率，降級索賠率，經濟效益高。以電子布為例，產量為168萬米/臺，總降等率為5%，GC Vision 攔截率為60%.

3、所有疵點進行有效記錄并自動保存相關圖片.

4、自動形成疵點統計報表.

5、偵測到疵點時，可根據要求進行相應的動作(記錄、報警、停機等).

6、顯示疵點的具體經緯位置和圖片，形成疵點地圖，為后期開裁提供基礎數據.

7、歷史記錄追溯：每卷布的各類信息可保存，可追溯。

精譜測控薄膜表面檢測儀技術參數:

檢測對象：保護膜、涂布膜、PE膜、食品包裝膜、太陽能薄膜、光學膜等等

典型瑕疵：晶點、黑點、蚊蟲、污點、線條、破洞等

檢測速度：Max：800m/min

檢測幅寬：任意（根據生產線定制）

檢測精度：0.1mm~1mm(取決于相機數量、產線幅寬及車速)

瑕疵標識：自動聲光報警、截取當前瑕疵圖片及實時X/Y坐標瑕疵分布圖顯示

歷史記錄：根據批次號自動記錄每一卷薄膜瑕疵的圖片、大小、分布位置等信息
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