? ? ? 在電子電路設(shè)計中，安規(guī)電容是保障設(shè)備安全與電磁兼容性（EMC）的關(guān)鍵元件。這類電容不僅具備常規(guī)電容的儲能特性，更重要的是在失效時能避免對人體造成觸電風(fēng)險，因此被廣泛應(yīng)用于開關(guān)電源的輸入
2026-01-04 11:14:23
26 
電解電容的失效模式多樣，主要涵蓋漏液、爆裂、容量衰減、等效串聯(lián)電阻(ESR)增大、電壓擊穿及壽命終止等類型，以下為具體分析： 漏液 原因 ：電解電容的密封結(jié)構(gòu)若存在缺陷，或長期在高溫、高濕度環(huán)境下工
2025-12-23 16:17:49134 電子領(lǐng)域，鋁電解電容是極為常見且關(guān)鍵的電子元件，被廣泛應(yīng)用于各類電子設(shè)備中。
2025-12-11 17:32:42695 無窮大，與正常芯片 42M 歐姆不符，確認(rèn)為供電腳異常。
推測損壞原因是靜電擊穿、電源尖峰或輸入電壓超 5.4V 極限。改良方案為控制電源輸入電壓、加裝 TVS。該芯片出貨損壞反饋極少，建議排查自身硬件設(shè)計
2025-12-01 16:38:13431 
工作電壓)應(yīng)至少為電路實際工作電壓的1.5倍，極端情況下(如電壓波動大、高溫環(huán)境)需提升至2倍。例如： 5V電路 ：優(yōu)先選擇耐壓值10V或16V的電容(如三星CL21A106KOQNNNE，0805封裝，10μF/16V)，避免長期過壓導(dǎo)致電容老化或擊穿。 12V電路 ：耐壓值需≥25V
2025-11-28 14:42:17289 
SOT-23封裝的AO3400型號MOS管擊穿失效的案例，過程中梳理出MOS管最常見的失效原因，以及如何從原理層面規(guī)避這些問題。
2025-11-26 09:47:34615 
設(shè)計不符合標(biāo)準(zhǔn)，最終導(dǎo)致認(rèn)證被駁回或市場抽查不合格。本文結(jié)合2025年最新監(jiān)管趨勢，深入剖析SAA認(rèn)證過程中最常見的被拒原因，并提供針對性解決方案，助您一次通過審
2025-11-24 10:46:34505 
800V系統(tǒng)里用450V額定電壓的電容，余量夠嗎？會不會容易擊穿？
2025-11-24 09:15:00
電壓擊穿試驗儀輸出波形的純凈度，直接決定了絕緣材料檢測數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性—— 若波形中混入雜波、畸變等干擾信號，可能誤觸發(fā)擊穿判斷，或掩蓋材料真實的絕緣性能特征。在高壓檢測場景中，需通過針對性技術(shù)手段
2025-11-19 09:24:11151 
/rules.d/99-openocd.rules以便編輯99-openocd.rules的，但是/etc/udev/rules.d/目錄下沒有99-openocd.rules？？？
請問可能的原因是什么？
2025-11-05 08:51:17
購買了HummingBird Evaluation kit，按照書本的指示，
（1）連接FPGA JTAG
（2）連接電源，并上電
（3）打開vivado，并進(jìn)入Hardware manager，發(fā)現(xiàn)沒有找到HummingBird Evaluation kit
可能的原因是什么？多謝！
2025-11-05 07:11:49
貼片電容的容值隨溫度變化是因其核心材料(如陶瓷、鉭等)的物理特性對溫度敏感，導(dǎo)致介電常數(shù)、電極結(jié)構(gòu)或幾何尺寸發(fā)生改變，進(jìn)而影響電容值。以下是具體原因分析： 一、陶瓷電容：介電常數(shù)與溫度的強相關(guān)性
2025-10-31 16:06:31638 
電子發(fā)燒友網(wǎng)綜合報道 在新能源汽車、脈沖功率系統(tǒng)等領(lǐng)域，聚合物薄膜電容器憑借超高功率密度與快速充放電能力，成為關(guān)鍵儲能部件。 ? 然而，長期以來，商用聚合物材料始終面臨性能瓶頸,雙向拉伸聚丙烯
2025-10-30 09:10:522178 
原因之一。柵極作為控制端，雖然不直接承載大電流，但其電壓的穩(wěn)定性卻直接決定了MOS的導(dǎo)通狀態(tài)與系統(tǒng)安全。任何一次“柵極失控”，都可能導(dǎo)致器件擊穿、短路甚至整機損壞
2025-10-23 09:54:26648 
電解電容鼓包是電容器外殼因內(nèi)部壓力升高而發(fā)生膨脹變形的現(xiàn)象，通常伴隨漏液、性能下降甚至爆炸風(fēng)險。其成因復(fù)雜，涉及材料、設(shè)計、使用環(huán)境等多方面因素。以下從原因分析和預(yù)防措施兩方面展開詳細(xì)說明： 一
2025-10-20 16:31:311016 據(jù)央視新聞報道美國芯片巨頭高通被中方立案調(diào)查，原因是高通在收購以色列芯片企業(yè)Autotalks時未依法申報經(jīng)營者集中，這涉嫌違反了《中華人民共和國反壟斷法》，市場監(jiān)管總局依法對高通公司開展立案調(diào)查。
2025-10-10 17:49:38606 作者： Abhishek Jadhav 觸摸屏技術(shù)徹底改變了人類操作員與工廠和工業(yè)場所復(fù)雜機器的交互方式。 受到智能手機和平板電腦精確且直觀的界面的啟發(fā)，制造商已在工廠車間采用電容式觸摸屏（圖 1
2025-10-04 18:13:001438 
國巨電容出現(xiàn)漏液現(xiàn)象，可能是由密封結(jié)構(gòu)失效、電化學(xué)腐蝕、機械損傷、材料老化、環(huán)境應(yīng)力以及制造缺陷等多種因素導(dǎo)致的，以下是對這些原因的詳細(xì)分析： 密封結(jié)構(gòu)失效 焊接不良 ：國巨電容的金屬外殼與密封蓋
2025-09-29 14:21:40419 
電解電容與法拉電容在結(jié)構(gòu)、性能和應(yīng)用上有顯著差異，電解電容采用鋁箔與電解液儲能，法拉電容則基于雙電層原理，容量更大，外觀和標(biāo)識也有明顯區(qū)別。
2025-09-21 09:12:001119 
最近被一個bug折磨了3天，一路debug進(jìn)來，發(fā)現(xiàn)最終的原因是，定義了一個char變量，但實際上是無符號的（代碼期望該變量是有符號的）。
然后我檢查了以下編譯器如下的設(shè)置，發(fā)現(xiàn)很奇怪，無論是否勾選
2025-09-16 08:23:50
在割草機器人電機驅(qū)動系統(tǒng)中，頻繁的啟停、轉(zhuǎn)向與負(fù)載變化會導(dǎo)致直流鏈路電容承受極大的高頻紋波電流與瞬態(tài)沖擊。普通鋁電解電容因ESR高、耐流能力差，易發(fā)熱、壽命短，引發(fā)系統(tǒng)重啟甚至硬件損壞。根本原因技術(shù)
2025-09-12 17:36:30889 
封裝完整性 檢查電容表面是否有裂紋、鼓包、漏液(鉭電容常見)或燒焦痕跡。 示例：鉭電容漏液會呈現(xiàn)白色或褐色結(jié)晶，陶瓷電容鼓包可能因內(nèi)部擊穿導(dǎo)致。 確認(rèn)極性標(biāo)識（僅限極性電容） 鉭電容和電解電容有明確極性標(biāo)識(如“+”號或色
2025-09-05 15:28:362012 
，成功破解了這一行業(yè)難題，其產(chǎn)品在連續(xù)工作12年后仍保持90%以上容量穩(wěn)定性，創(chuàng)造了家用設(shè)備鋁電解電容的"長壽紀(jì)錄"。 **電解液技術(shù)突破：從分子結(jié)構(gòu)到長效穩(wěn)定** 合粵研發(fā)團隊發(fā)現(xiàn)，傳統(tǒng)電解液失效的核心原因是乙二醇溶劑在高溫
2025-09-03 17:32:56689 在電壓擊穿試驗儀中，微電流檢測電路直接決定試驗數(shù)據(jù)可靠性，但微弱信號易受干擾。構(gòu)建抗干擾體系、保障檢測精度，是優(yōu)化試驗儀性能的關(guān)鍵。 一、微電流檢測電路的干擾來源分析 （一）外部電磁干擾 試驗環(huán)境中
2025-09-03 11:07:57457 電解電容鼓包是常見的失效現(xiàn)象，通常由內(nèi)部壓力積聚導(dǎo)致外殼變形，其根本原因與電解電容的結(jié)構(gòu)特性、工作條件及材料老化密切相關(guān)。以下是具體原因分析及預(yù)防措施： 一、電解電容鼓包的核心原因 1. 過電壓
2025-08-29 16:19:441345 在現(xiàn)代工業(yè)檢測與材料分析領(lǐng)域，激光誘導(dǎo)擊穿光譜(LIBS)技術(shù)因其快速、精準(zhǔn)、無損的特性，受到了廣泛關(guān)注。許多用戶常常問：“LIBS技術(shù)具體有哪些優(yōu)勢?”“它適合應(yīng)用于哪些行業(yè)?”隨著對元素分析需求
2025-08-20 11:12:42956 在電子元器件的世界里，鋁電解電容常常背負(fù)著"耗電大戶"的惡名。許多工程師和電子愛好者一提到鋁電解電容，腦海中就會浮現(xiàn)出漏電流大、損耗高的印象。然而，這種認(rèn)知可能存在著嚴(yán)重的偏差。事實上，現(xiàn)代鋁電解電容
2025-08-15 16:01:43670 
故障：
為什么它試圖擦除地址 0x11004000，以及硬故障的原因是什么？
有沒有什么地方可以找到 TLE9883 的扇區(qū)分配？哪個段具有什么地址范圍等等？
最好的問候
2025-08-15 06:05:23
太誘貼片電容的漏電流與絕緣電阻呈 反比關(guān)系 ，即絕緣電阻越大，漏電流越小;絕緣電阻越小，漏電流越嚴(yán)重，甚至可能引發(fā)擊穿。以下是對這一關(guān)系的詳細(xì)解釋： 漏電流與絕緣電阻的定義 漏電流 ：指通過電容器介
2025-08-12 14:48:13822 
場景。但在實際應(yīng)用中，整流管反向擊穿是一個常見且嚴(yán)重的問題，輕則導(dǎo)致整流效率下降，重則損壞器件、影響系統(tǒng)可靠性。本文從擊穿機理、常見原因、實際案例和設(shè)計建議四方面
2025-08-06 09:50:04788 
鋁電解電容容量衰減下降主要由電解液蒸發(fā)、電極腐蝕、氧化膜增厚、環(huán)境因素及制造工藝缺陷等因素導(dǎo)致，以下是具體分析： 1、電解液蒸發(fā) ：電解液是鋁電解電容的核心介質(zhì)，其蒸發(fā)是容量衰減的主因。電解液減少會
2025-08-01 15:36:51951 輸入電容在選購差分探頭時，通常有輸入電容大小參數(shù)一欄，以下是選擇輸入電容大小需要考慮以下的因素：被測信號的特征如信號帶寬/上升時間。通常測高頻信號需要極低的輸入電容，且由于輸入電容與被測信號阻抗形成
2025-07-29 15:30:48333 
余量 ： 電容實際工作電壓(含紋波峰值)應(yīng)低于額定耐壓值，避免因電壓波動或瞬態(tài)沖擊導(dǎo)致電容擊穿或壽命縮短。 通用推薦值 ：工作電壓 ≤ 額定耐壓的? 60%~80% (即余量20%~40%)。 高可靠性場景 (如汽車電子、醫(yī)療設(shè)備)：建議工作電壓 ≤ 額定耐壓的
2025-07-23 16:43:241005 
在寫入1024字節(jié)時，pktend信號拉低，但上位機還未收到數(shù)據(jù)。可以觀察到FPGA波形，數(shù)據(jù)已經(jīng)正常發(fā)送。造成這個問題的原因是什么？
2025-07-23 06:02:03
擾。
電路圖是從EVAL-AD5677RSDZ這個文件上抄的，版圖，實物圖如下
請教工程師，這種情況可能的原因是什么？
2025-07-22 06:44:26
電解電容(如鋁電解電容、鉭電解電容)因內(nèi)部結(jié)構(gòu)特殊，在長期使用或不當(dāng)操作下易出現(xiàn)鼓包現(xiàn)象，輕則性能下降，重則漏液、爆炸。其核心原因與材料老化、環(huán)境應(yīng)力及電路設(shè)計相關(guān)，以下是詳細(xì)分析及預(yù)防方案： 一
2025-07-21 15:22:081971 安規(guī)電容通常用于抑制噪聲、濾波或電氣隔離等。安規(guī)電容在設(shè)計時必須具備一定的安全標(biāo)準(zhǔn)，以保證在故障情況下不會對使用者造成電擊或火災(zāi)等危險。然而，安規(guī)電容也有可能因各種原因發(fā)生損壞，常見的原因包括： 一
2025-07-13 11:03:59999 法拉電容因其高能量密度和快速充放電特性，成為新能源和儲能領(lǐng)域的明星組件。然而，因其潛在風(fēng)險——爆炸，引發(fā)的安全事故屢見報端。法拉電容短路、設(shè)計缺陷、人為失誤是其爆炸誘因。
2025-07-11 09:39:001843 
失效因素 1、電壓應(yīng)力 過壓會導(dǎo)致陽極氧化膜擊穿，引發(fā)短路;電壓波動則會造成氧化膜局部微擊穿，形成厚度不均，最終失效。例如，開關(guān)電源輸出端電容常因負(fù)載突變產(chǎn)生的反電動勢而過壓損壞。 預(yù)防 ：選擇額定電壓高于工作電壓
2025-07-08 15:17:38783 UPS(不間斷電源)確保在電力中斷時，關(guān)鍵設(shè)備如服務(wù)器、工作站等仍能持續(xù)運行。然而，當(dāng)UPS電源警報聲持續(xù)響起時，這可能意味著系統(tǒng)出現(xiàn)了某種故障或異常情況，需要及時排查和處理。
2025-07-02 17:09:383001 
汽車電氣系統(tǒng)中，連接器端子燒壞是一種常見的故障形式，這一現(xiàn)象可能引發(fā)安全事故，甚至火災(zāi)。本期蓬生電子帶大家深入探討端子燒壞的原因，從接觸不良、過電流、環(huán)境劣化和材料與工藝缺陷四個方面進(jìn)行分析。
2025-06-27 17:01:511313 。
6. 使用壽命。電容器的使用壽命隨溫度的增加而減小。主要原因是溫度加速化學(xué)反應(yīng)而使介質(zhì)隨時間退化。
7. 絕緣電阻。由于溫升引起電子活動增加，因此溫度升高將使絕緣電阻降低。
電容器包括
2025-06-27 15:14:27
設(shè)計了一個如圖所示的電容三點式振蕩電路，但是電路無法起振，想請問一下原因是什么呢。
2025-06-19 17:06:46
電容作為電子電路中的核心元件，其可靠性直接影響系統(tǒng)性能。然而，鼓包、漏液、擊穿等失效模式卻成為制約電容壽命的「隱形殺手」。本文將從失效機理、誘因分析及預(yù)防策略三個維度，深度解析這些故障的根源與應(yīng)對
2025-06-19 10:21:153123 量與有關(guān)溫度的電容量的百分比表示。
6. 使用壽命。電容器的使用壽命隨溫度的增加而減小。主要原因是溫度加速化學(xué)反應(yīng)而使介質(zhì)隨時間退化。
7. 絕緣電阻。由于溫升引起電子活動增加，因此溫度升高將使絕緣電阻降低。
需要完整版資料可下載附件查看哦！
2025-05-26 15:52:47
汽車貼片電容價格較高的原因。 一、高標(biāo)準(zhǔn)的質(zhì)量要求 車規(guī)級貼片電容必須符合汽車行業(yè)嚴(yán)格的標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范。這些標(biāo)準(zhǔn)不僅涵蓋了電容的基本電氣性能，如容量、電壓、損耗等，還涉及到了電容的可靠性、溫度穩(wěn)定性、抗震性等多
2025-05-26 15:18:371105 系統(tǒng)壓力測試發(fā)現(xiàn)的問題通常都比較復(fù)雜，作者最近解決了一個有意思的系統(tǒng)穩(wěn)定性問題，也想請各位讀者一起思考下，想想問題的原因是什么。
2025-05-24 14:52:00823 
電容作為電子設(shè)備中的重要元件，其穩(wěn)定性和可靠性直接關(guān)系到整個系統(tǒng)的運行安全。然而，在某些情況下，電容可能會突然爆炸，給設(shè)備帶來嚴(yán)重的損害，甚至威脅到人員的安全。那么，電容為什么會爆炸呢?原因可能比你
2025-05-22 15:18:243911 
在電子系統(tǒng)中，MDD穩(wěn)壓二極管（ZenerDiode）憑借其在反向擊穿區(qū)域的穩(wěn)定電壓特性，被廣泛應(yīng)用于電壓參考、過壓保護(hù)和穩(wěn)壓電路中。然而在實際應(yīng)用中，穩(wěn)壓管并非“永不失手”。其失效往往會直接影響
2025-05-16 09:56:081095 
單脈沖雪崩擊穿能量(Energy during avalanche for single pulse)，即 EAS。指的是MOSFET器件串聯(lián)感性負(fù)載時，在單次脈沖(工作到關(guān)斷)狀態(tài)下，所能承受的最大能量消耗，單位是焦耳(J)，其值越大，器件在電路中遭遇瞬間過電壓或過電流情況時越不容易損壞。
2025-05-15 15:32:143840 
瞬態(tài)抑制二極管（TVS）擊穿后能否恢復(fù)
2025-05-08 10:26:411902 國巨貼片電容作為電子電路中的關(guān)鍵元件，其引腳斷裂失效會直接影響電路性能。要找出此類失效原因，需從機械應(yīng)力、焊接工藝、材料特性及電路設(shè)計等多維度展開系統(tǒng)性分析。 一、機械應(yīng)力損傷的排查 在電路板組裝
2025-05-06 14:23:30641 貼片電容和瓷片電容并不完全一樣，它們在結(jié)構(gòu)、材料、特點和應(yīng)用等方面存在一些差異。以下是對這兩種電容器的詳細(xì)比較： 一、結(jié)構(gòu)差異 貼片電容： 結(jié)構(gòu)上，貼片電容是一個硅芯片，電極片被鍍在芯片的兩側(cè)，外面
2025-04-30 15:05:44713 在電子設(shè)計中，MDD-TVS管是保護(hù)電路免受瞬態(tài)電壓沖擊的重要器件。然而，TVS管本身在惡劣環(huán)境或選型、應(yīng)用不當(dāng)時，也可能出現(xiàn)失效問題。作為FAE，本文將系統(tǒng)梳理TVS管常見的三大失效模式——熱擊穿
2025-04-28 13:37:05954 
一、主要失效原因分類MOSFET 失效可分為外部應(yīng)力損傷、電路設(shè)計缺陷、制造工藝缺陷三大類，具體表現(xiàn)如下：1. 外部應(yīng)力損傷（1）靜電放電（ESD）擊穿· 成因· MOSFET 柵源極（G-S）間
2025-04-23 14:49:27
在電子元件領(lǐng)域，電容作為儲能與信號處理的核心組件，其電容量參數(shù)直接影響電路性能。然而，行業(yè)長期存在“電容越厚電容量越高”的認(rèn)知誤區(qū)。 一、電容結(jié)構(gòu)與電容量基礎(chǔ)理論 電容器的核心結(jié)構(gòu)由兩個平行金屬電極
2025-04-18 14:41:26967 LTC3350電容充電上升電流很慢，而規(guī)格書上寫的是電流從0上升到設(shè)置的滿電流只需要2ms，實際測試遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于2ms，而且電流峰值也達(dá)不到設(shè)置值。請問是什么原因？
橙色波形為VIN處電流波形，原理圖見附件。
PDF
2025-04-17 07:54:03
自己用官方文件DC2519A打樣的PCB，按官方資料貼樣板。現(xiàn)在的問題是上電就損壞LTC3777的BG1 （第41腳對地短路），一直找不出損壞的原因，請教一下是什么原因導(dǎo)致，看論壇也有類似的情況，但是都沒有看到有說是什么原因。
2025-04-17 07:12:32
我們看到一個問題，當(dāng) S32K312 進(jìn)入睡眠狀態(tài)時，它會重置
這里可能的根本原因是什么？
2025-04-03 08:20:48
現(xiàn)場冶金物料均采用送樣定點檢測的方法，檢測數(shù)據(jù)時效性差、成本高。采用激光誘導(dǎo)擊穿光譜（LIBS）技術(shù)對冰銅、尾料和銅精礦中關(guān)鍵元素的成分進(jìn)行快速檢測。激光誘導(dǎo)擊穿光譜技術(shù)對銅物料成分的快速檢測，提高了銅冶煉工藝調(diào)控的精準(zhǔn)性
2025-04-01 17:57:40781 
。
6. 使用壽命。電容器的使用壽命隨溫度的增加而減小。主要原因是溫度加速化學(xué)反應(yīng)而使介質(zhì)隨時間退化。
7. 絕緣電阻。由于溫升引起電子活動增加，因此溫度升高將使絕緣電阻降低。
電容器包括
2025-04-01 13:55:30
一、引言 1.1 SiC材料在高壓電力電子領(lǐng)域的應(yīng)用背景 碳化硅（SiC）作為第三代寬禁帶半導(dǎo)體材料的代表，其物理特性（如3.3 eV的禁帶寬度、3.7×106 V/cm的臨界擊穿電場、高熱導(dǎo)率等
2025-03-31 13:36:51605 
問題，還可能受到測試條件、環(huán)境因素和使用方式等多方面的影響。本文將從多個角度深入分析貼片電容容值較大偏差的原因。 一、制造和材料因素 電介質(zhì)材料 ： 貼片電容的內(nèi)部電介質(zhì)材料具有特定的介電常數(shù)，該常數(shù)直接決定了電容
2025-03-28 14:40:291320 
信號邊沿由100ns變成了1us。
請問運放壓擺率變小的可能原因是什么呢？內(nèi)部什么結(jié)構(gòu)被燒壞了嗎？并且目前只發(fā)現(xiàn)壓擺率下來了，其他電壓擺幅等指標(biāo)還未發(fā)現(xiàn)異常，有沒有可能冷卻恢復(fù)呢？
2025-03-24 08:12:37
電壓偏差也被放大了，我通過ADI官方的仿真軟件進(jìn)行仿真，仿真結(jié)果與實測的一致 原因是在輸入端的信號上有13mV的共模偏差導(dǎo)致最終輸出的信號也存在偏差。麻煩ADI工程師幫忙支持一下，這種情況是否可以通過
2025-03-24 06:29:46
設(shè)備的損壞。本文將深入探討貼片電容短路的原因，以便更好地理解和預(yù)防這一問題。 ? 一、短路原因分析 1、電壓過高 當(dāng)貼片電容所承受的電壓超過其額定電壓或擊穿電壓時，電容內(nèi)部的絕緣介質(zhì)可能會被擊穿，導(dǎo)致極板間短路。這
2025-03-19 15:28:282911 儀器概述KD2670J數(shù)顯電壓擊穿測試儀作為武漢凱迪正大電氣有限公司開發(fā)用于測量耐壓強度的關(guān)鍵電氣安全設(shè)備，能夠直觀、精準(zhǔn)且高效地測定各類材料的擊穿電壓與漏電流等關(guān)鍵電氣性能指標(biāo)，同時可作為高壓源
2025-03-17 16:00:58
TVS到底是個啥？ 一句話總結(jié)：電路端口的“瞬態(tài)保鏢”！ ? TVS（瞬態(tài)電壓抑制器），江湖人稱“雪崩擊穿二極管”。它像電路端口的“瞬態(tài)保鏢”，平時低調(diào)隱身（高阻態(tài)），一旦遇到電壓浪涌（如雷擊、靜電
2025-03-16 17:30:321648 
武漢凱迪正大KD2670J 數(shù)顯電壓擊穿測試儀具備測試電壓與漏電流同時顯示的功能，實用性強。通過漏電流顯示，用戶不僅能實時了解被測體漏電流的實際數(shù)值，還能對不同批次或不同廠家的同類產(chǎn)品耐壓性能進(jìn)行比較，從而有效確保產(chǎn)品的安全...
2025-03-13 16:57:31709 
、高精度等優(yōu)勢，在高端制造、科研及醫(yī)療等領(lǐng)域發(fā)揮關(guān)鍵作用。 芯明天電容測微儀 電容測微儀是一種基于電容變化原理的非接觸式精密測量儀器。其核心原理是通過檢測電容器兩極板之間的電容值變化來反映被測物體的位移量。 芯
2025-03-06 09:11:19965 
CBOOT，通過自舉二極管 DBOOT，被電源 VDD瞬間充電。
由于 VDD 電源以地作為基準(zhǔn)，自舉電容產(chǎn)生的最大電壓等于 VDD 加上源極上的負(fù)電壓振幅。
2.4 VS 引腳產(chǎn)生負(fù)電壓的原因
如圖 5
2025-03-03 11:52:44
汽車電子：30KPA70A 單向二極管，70V 擊穿守護(hù)行車安全
2025-02-26 13:40:28625 深度解讀 30KPA64A 單向 TVS：64V 擊穿機制與高效防護(hù)策略
2025-02-24 13:52:12663 
變頻器防雷濾波板損壞的原因可能涉及多個方面，以下是對這些原因的分析以及相應(yīng)的維修建議： 一、損壞原因分析 1、雷電沖擊 雷電高壓串入變頻器系統(tǒng)時，防雷濾波板作為首要的防護(hù)屏障，會承受極大的電壓和電流
2025-02-23 07:36:521350 
51V 精準(zhǔn)擊穿 30KPA58A 單向二極管參數(shù)詳情
2025-02-21 13:35:33841 
VBT耐壓擊穿測試儀是一款專門用于評估壓電陶瓷介電強度的專業(yè)設(shè)備，該設(shè)備不僅可以直接測試壓電陶瓷在擊穿破損時的最大電壓值和在正常工作時的最大電壓值，還設(shè)計高壓擊穿隔離技術(shù)，確保設(shè)備安全可靠，廣泛應(yīng)用高校、科研院所，企業(yè)用于研究測試壓電陶瓷介電強度的必備可靠性驗證工藝設(shè)備。
2025-02-19 17:14:00605 ，是否我們得到的DLPA3000批次太老或者不正確呢？
目前DLPA3000驅(qū)動6A的LED，但是DLPA3000很容易被上電擊穿，而且后續(xù)VOFS ,VBIAA,VRST電壓無法進(jìn)行輸出，可能是什么原因
2025-02-19 07:17:10
我司在使用一片DLP3010的時候，出現(xiàn)工作一段時間后被擊穿的現(xiàn)象，取下來進(jìn)行檢查發(fā)現(xiàn)VRST管腳對地電阻僅有5歐姆，外觀無任何異常。我們想確定問題的原因，ESD/熱/電擊穿，結(jié)果在OM顯微鏡下出現(xiàn)了下面的圖像，猜測可能是問題點。
請問針對可能的原因或者下一步的排查方向，是否有什么建議呢？
2025-02-18 06:38:24
TPS61085做的隔離電源5V輸入,15V@100ma輸出,變壓器隔離,變壓器參數(shù)EE10,電感量8uH,二次惻TL431反饋,現(xiàn)在測量輸入5V被拉低至2.5V,輸出15V紋波很大,請高手解惑
2025-02-14 06:00:01
allegro 輸出通孔層被拆開成任意接的鐳射孔是什么原因？
2025-02-12 14:59:09
噪聲頻率往往高達(dá)數(shù)百MHz，甚至超過1GHz。對這樣高頻的電磁噪聲必須使用穿心電容才能有效地濾除。普通電容之所以不能有效地濾除高頻噪聲，是因為兩個原因：(1)一個原因是電容引線電感造成電容諧振，對高頻
2025-02-11 10:49:18
期間核查是保證電壓擊穿試驗儀在兩次校準(zhǔn)之間性能穩(wěn)定的重要手段，就像定期給汽車進(jìn)行保養(yǎng)檢查一樣，確保儀器始終處于良好的工作狀態(tài)。 可以選擇合適的核查方法，如使用有證標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)進(jìn)行比對試驗。有證標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)
2025-02-11 09:09:24513 
AMC1200后工作正常。
2）失效的兩顆AMC1200用在同一臺機器中，用于電流采樣，該項目AMC1200單機用量為2Pcs。
3）失效現(xiàn)象：隔離兩側(cè)擊穿，兩側(cè)電源，輸入輸出均已短路。同側(cè)端的電源和地也短路，兩顆失效現(xiàn)象相同。設(shè)備中其它器件均未損壞。
2025-02-11 08:43:43
貼片電容的容值隨溫度變化，主要是由于電容材料的物理特性受溫度影響所致。今天我們一起來看看這個是什么原因吧!昂洋科技人員為大家介紹： 一、電容材料的介電常數(shù)與溫度的關(guān)系 電容器的電容值與其
2025-02-10 14:40:222202
ADC的諧波產(chǎn)生的原因是什么
2025-02-08 08:25:33
，還可能對設(shè)備造成損害。本文將從多個角度探討變頻器無法進(jìn)行調(diào)速的原因，并提供相應(yīng)的解決方法，以幫助技術(shù)人員快速定位問題并恢復(fù)變頻器的正常工作。 ? ? ? 首先，變頻器無法進(jìn)行調(diào)速的一個常見原因是其輸出的最大扭矩小于負(fù)載
2025-02-07 15:50:572867 
釋放至地線。但在一些應(yīng)用場合中，ESD二極管可能會出現(xiàn)“不導(dǎo)電”的現(xiàn)象，導(dǎo)致保護(hù)失效。本文將分析ESD二極管不導(dǎo)電的原因，并提出解決方案。1.反向擊穿電壓過高ESD
2025-02-06 11:58:541254 
安全事故。本文將深入探討電容器的常見故障類型、產(chǎn)生原因、檢測方法以及預(yù)防措施，旨在為工程師在電容器選型、使用和維護(hù)過程中提供全面而詳細(xì)的指導(dǎo)。
2025-02-03 14:16:003575 一、鉭電容與鋁電容的區(qū)別 鉭電容和鋁電容作為兩種常見的電容器類型，在多個方面存在顯著差異。以下從結(jié)構(gòu)、性能、應(yīng)用場景等方面進(jìn)行詳細(xì)對比。 1. 電極材料與結(jié)構(gòu) 鉭電容 ：電極由鉭金屬制成，通常采用
2025-01-31 10:30:002206 在電子與電氣工程領(lǐng)域，雪崩失效與過壓擊穿是兩種常見的器件失效模式，它們對電路的穩(wěn)定性和可靠性構(gòu)成了嚴(yán)重威脅。盡管這兩種失效模式在本質(zhì)上是不同的，但它們之間存在一定的聯(lián)系和相互影響。本文將深入探討雪崩失效與過壓擊穿的發(fā)生順序、機制、影響因素及預(yù)防措施，為技術(shù)人員提供全面、準(zhǔn)確的技術(shù)指導(dǎo)。
2025-01-30 15:53:001271 ，即額定電壓。超過此電壓值，電容器可能會損壞甚至發(fā)生擊穿。因此，在使用法拉電容時，必須確保所連接電路的電壓在電容器的額定電壓范圍內(nèi)。 極性 ：部分法拉電容具有極性，即正負(fù)極。在連接時，必須確保極性正確，否則會導(dǎo)
2025-01-19 09:28:102785 直線導(dǎo)軌測量誤差的原因是多方面的，需要綜合考慮各種因素并采取相應(yīng)的措施來減小誤差。
2025-01-18 17:45:01888 
的形式被消耗掉，但是電容不會。 所以，電容是一個儲能元件。 這種特性，我將其描述為一個字：“藏”。 電容的一切應(yīng)用，都源自于“儲藏”。 2 基礎(chǔ)公式與推論 任意兩塊平行金屬板就能構(gòu)成一個簡易電容器。給極板兩側(cè)通上電的瞬間便完成了電
2025-01-17 10:25:112204 
僅會影響電容本身的壽命和性能，還可能對整個電路系統(tǒng)造成不良影響。那么，貼片電容發(fā)熱的原因究竟是什么呢? 貼片電容(MLCC)發(fā)熱的原因有多種，以下是一些主要因素： 電流過大：當(dāng)貼片電容所在的電路中電流過大時，尤其是紋波電流超過
2025-01-13 14:23:451762 鉭電容因其優(yōu)異的性能在電子領(lǐng)域中扮演著重要角色。然而，任何電子元件都可能因為各種原因出現(xiàn)故障。 鉭電容的工作原理 在深入探討故障之前，簡要了解鉭電容的工作原理是必要的。鉭電容是一種電解電容器，其核心
2025-01-10 09:20:032655 逆時針回復(fù)。 如果指針不能復(fù)原，則穩(wěn)定后的讀數(shù)就是電容器的漏電電阻。阻值越大，表示電容器的絕緣性能越好。 若在上述的檢測過程中，表頭指針無擺動，說明電容器開路。 若表頭指針向右擺動的角度大且不復(fù)原，說明電容器已擊穿或嚴(yán)重漏
2025-01-10 09:07:422481
電子發(fā)燒友App
工商網(wǎng)監(jiān)
評論