手機的拍照功能是像素、處理器、性能結合在一起的綜合體驗，對于手機攝像頭的應用，出廠前的測試肯定少不了。因為手機攝像頭測試的重要性，所以企業選擇測試模組的標準應當以測試的穩定性為先，其次是追求測試效率和較高的性價比。凱智通大電流彈片微針模組對于手機攝像頭測試有著極佳的性能，能夠滿足測試要求。

大電流彈片微針模組與傳統pogo pin探針模組相比，從傳輸電流到小pitch可取值再到外形結構、使用壽命等方面都占據著較大優勢。

（一）電流傳輸

大電流彈片微針模組在大電流測試時穩定可靠，可通過的額定電流能達到50A，電流傳導時在同一材料體內流通，電阻恒定，具有極好地連接功能。Pogo pin探針模組可通過的額定電流僅為1A，在大電流測試時通常會加大探針的尺寸來增加電流，但這樣做很容易出現卡pin、斷針的現象，造成誤測。

（二）小pitch領域測試

在小pitch領域的測試中，大電流彈片微針模組有著很好地測試解決方案，應對的pitch值范圍大，最小可以達到0.15mm，在0.15mm~0.4mm之間，性能都很穩定。Pogo pin探針模組在小pitch領域中壽命和穩定性都表現較差，應對的pitch值通常只在0.3mm~0.4mm之間，可取值范圍小，無法應對復雜的測試環境和要求。

（三）外形結構對比

大電流彈片微針模組是一體成型的彈片結構，多種頭型可以選擇，在對btb連接器公母座的測試中有獨特的應對方法。接觸形狀可根據客戶的要求進行定制，生產難度低，交期短。pogo pin探針模組是多配件組合結構，由針頭、針管、針尾構成，制作工藝復雜，表面鍍金厚度很難控制，生產難度高且交期長。電流傳輸時會在不同的部位衰減，造成測試不穩定。

（四）使用壽命

大電流彈片微針模組的使用壽命高達20w次以上，測試時不會對連接器造成損壞，不會留下扎痕，面對高頻率測試表現較好，無需頻繁更換，測試效率高。pogo pin探針模組的使用壽命在5w次左右，損壞率高，更換頻繁，無法應對高頻率的測試，效率低下，測試不穩定。

大電流彈片微針模組在手機攝像頭的測試中，性能穩定、測試效率高、性價比高，各方面都遠超pogo pin探針模組，是手機攝像頭測試的最佳選擇！

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