首先根據蘇州萊科斯多年對電站檢測的經驗來帶大家了解下什么是光伏組件EL檢測設備：el缺陷檢測儀用于檢測太陽能組件的隱裂缺陷，如沒有是無法檢測出內部缺陷問題的，這個設備無論實在流水線生產還是光伏電站現場，都是必備設備。

組件中的破片多出現在組件封裝過程的焊接和層壓工序，在EL測缺陷試儀中表現為電池片中有黑塊，因為電池片破裂后在電池片破裂部分沒有電流注入，從而導致該部分在EL測試中不發光。

晶體硅太陽電池所采用的硅材料本身易碎，因此在電池片生產和組件封裝過程中很容易產生裂片。裂片分兩種一種是顯裂，另一種是隱裂。顯裂是肉眼可以直接看到 的，在組件生產過程中的分選工序就可以剔除；而隱裂是肉眼無法直接看到的，并且在組件的制作過程中更容易產生破片等問題。由于單晶硅的解離面具有一定的規 則，通過EL測試圖可以清晰地看到單晶硅電池片的隱裂紋一般是沿著電池片對角線方向的“x”狀圖形；多晶硅電池片由于晶界的影響有時很難區分是多晶硅的晶 界還是電池片中的隱裂紋。

電池片的斷柵主要是由于電池片本身柵線印刷不良或電池片不規范焊接造成的。從EL測試圖中表現為沿電池片主柵線的暗線，這是因為電池片的副柵線斷掉 后，EL測試過程中從電池片主柵線上注入的電流在斷柵附近處的電流密度很小甚至沒有，從而導致電池片的斷柵處發光強度較弱或不發光。

在電池片生產過程中，燒結工序工藝參數不佳或燒結設備存在缺陷時，生產出來的電池片在EL測試過程中會顯示為大面積的履帶印。實際生產中通過有針對 性的工裝改造就可以有效的消除履帶印的問題。例如采用頂針式履帶生產出來的電池片在EL測試圖只能看到若干個黑點而沒有大面積的履帶印。

黑芯片在EL測試圖中我們可以清晰的看到從電池片中心到邊緣逐漸變亮的同心圓，它們產生于硅材料生產階段，與硅棒制作過程中氧的溶解度和分凝系數大 有關系。此種材料缺陷勢必導致晶體硅電池片的少數載流子濃度降低，從而導致電池片中有此類缺陷的部分在EL測試過程中表現為發光強度較弱或不發光。

一塊組件的EL測試圖中有部分電池片發光強度與該組件中的大部分電池片相比較弱，這是由于這部分電池片的電流或電壓分檔與該組件中大部分電池片的電流或電壓分檔不一致造成的。

EL測試單個電池片表面發光強度不均勻，這是由于電池片電阻不均勻造成的, 較暗區域一般串聯電阻較大。這種缺陷也能反應電池片少子壽命的分布狀況，缺陷部位少子躍遷機率降低，在EL測試過程中表現為發光強度較弱。

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