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SEM，全稱為掃描電子顯微鏡，又稱掃描電鏡，英文名Scanning Electronic Microscopy.
SEM：即掃描電子顯微鏡，是1965年發明的較現代的細胞生物學研究工具，主要是利用二次電子信號成像來觀察樣品的表面形態，即用極狹窄的電子束去掃描樣品，通過電子束與樣品的相互作用產生各種效應，其中主要是樣品的二次電子發射。二次電子能夠產生樣品表面放大的形貌像，這個像是在樣品被掃描時按時序建立起來的，即使用逐點成像的方法獲得放大像。
SEM的優點：
?。ㄒ唬?能夠直接觀察樣品表面的結構，樣品的尺寸可大至120mm×80mm×50mm。
?。ǘ?樣品制備過程簡單，不用切成薄片。
（三） 樣品可以在樣品室中作三度空間的平移和旋轉，因此，可以從各種角度對樣品進行觀察。
（四） 景深大，圖象富有立體感。掃描電鏡的景深較光學顯微鏡大幾百倍，比透射電鏡大幾十倍。
?。ㄎ澹?圖象的放大范圍廣，分辨率也比較高?？煞糯笫畮妆兜綆资f倍，它基本上包括了從放大鏡、光學顯微鏡直到透射電鏡的放大范圍。分辨率介于光學顯微鏡與透射電鏡之間，可達3nm。
?。?電子束對樣品的損傷與污染程度較小。
（七） 在觀察形貌的同時，還可利用從樣品發出的其他信號作微區成分分析。
SEM的缺點：
①異常反差。 由于荷電效應，二次電子發射受到不規則影響，造成圖像一部分異常亮，另一部分變暗。
?、趫D像畸形。 由于靜電場作用使電子束被不規則地偏轉，結果造成圖像畸變或出現階段差。
?、蹐D像漂移。 由于靜電場作用使電子束不規則偏移引起圖像的漂移。 ④亮點與亮線。 帶電樣品常常發生不規則放電，結果圖像中出現不規則的亮點和亮線。
TEM，全稱為透射電子顯微鏡，又稱透射電鏡，英文名Transmission Electron Microscope.
TEM：即透射電子顯微鏡，簡稱透射電鏡，是把經加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度相關，因此可以形成明暗不同的影像。通常，透射電子顯微鏡的分辨率為0.1～0.2nm，放大倍數為幾萬～百萬倍，用于觀察超微結構，即小于0.2微米、光學顯微鏡下無法看清的結構，又稱“亞顯微結構”
TEM的優點：
光學鏡和透射電子顯微鏡都使用用薄片的樣品， 而透射電子顯微鏡的優點是，它比光學顯微鏡更大程度的放大標本。 放大10000倍或以上是可能的，這使科學家可以看到非常小的結構。 對于生物學家，如線粒體和細胞器，細胞，內部運作都清晰可見。 透射電鏡標本的晶體結構提供了出色的分辨率，甚至可以顯示樣本內的原子排列。
TEM的缺點：
透射電子顯微鏡需要在一個真空室制備標本。 由于這一要求，在顯微鏡可以用來觀察活標本，如原生動物，。 一些微妙的樣品也可能被損壞的電子束，必須先用化學染色或涂層來保護他們。 這種治療有時會破壞試樣。
SEM與TEM的區別
1、SEM樣品收集的有二次電子和背散射電子，二次電子用于表面成像，背散射用于不同平均原子量之間的像，就是電子打在樣品上，激發出來的二次電子和背散射電子被收集而成的像。 TEM是透射電鏡，它可以表征樣品的質厚襯度，也可以表征樣品的內部晶格結構。投射電鏡的分辨率比掃描電鏡要高一些。
2、SEM金相試樣即可，TEM則要求試樣必須有很薄的薄區，20~40μm。 SEM樣品普通的金相樣品就可以拿去做，而TEM樣品觀察的部分必須減薄到100nm厚度以下，一般做成直徑3mm的片，然后去做離子減薄，或雙噴。SEM對樣品唯一的要求就是導電，如果不導電就要噴碳或者噴金；TEM可以直接觀察不導電的樣品。以上這兩種方法，都要求樣品無磁性，要是有磁性會對結果產生一定的影響。
從原理上說SEM是接受二次電子或者是背散射電子 TEM接收的是透射電子
SEM主要觀察形貌，圖片的立體感強
TEM對于很薄的樣品也可以看形貌（景深較?。?，其主要觀測的是衍射電子圖和晶格像（高分辨）
簡單的說SEM只能觀測形貌（當然背散射像也能大概看出輕重元素分布） TEM可以測定結構
使用條件：
在以存儲器器件為代表的集成電路芯片的電子顯微分析中，掃描電子顯微鏡由于使用方便，往往是微觀分析的首選。另外不需要得到體內信號，結構信號，制樣方便，制樣周期短，需要非破壞性的分析的樣品表面結構保存好，沒有變形和污染，樣品干燥并且有良好導電性能使用SEM比較合適。
對于目標更小的分析需求以及要求高精度的場合，則必須進行TEM分析，那些需要你得到樣品內部結構的也需要選用TEM。以前TEM只是作為一種重要的科研儀器，然而當今的半導體制造由于采用了各種先進技術，器具逐漸縮小，TEM得到了更多的應用。
在要求精度不是很高，制樣方便，有良好的形貌，不需要得到體內信號，結構信號場合將掃描電鏡和透射電鏡有機的結合起來，相互補充，將能得到更加精確的分析結果。
工商網監
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