一、摘要

　　晶體管測量儀器是以通用電子測量儀器為技術基礎，以半導體器件為測量對象的電子儀器。用它可以測試晶體三極管（NPN型和PNP型）的共發射極、共基極電路的輸入特性、輸出特性；測試各種反向飽和電流和擊穿電壓，還可以測量場效管、穩壓管、二極管、單結晶體管、可控硅等器件的各種參數。下面以XJ4810型晶體特性圖示儀為例介紹晶體管圖示儀的使用方法。

　　二、晶體管測試儀作用

　　可測試儀性能穩定，能自動讀出準確數據，使用方便，適用于電子愛好者、電子開發者、設計者、與電子維修者必需小儀器。它可測各種二極管，三極管，可控硅，MOS場效應管；能判斷器件類型，引腳的極性，輸出HFE，閥電壓，場效應管的結電容，附加條件可測電容和電阻等。特別適合晶體管配對和混雜表貼元件識別。

　　三、XJ4810型晶體管特性圖示儀面板功能介紹

　　XJ4810型晶體管特性圖示儀面板如圖A-23所示：

　　1. 集電極電源極性按鈕，極性可按面板指示選擇。

　　2. 集電極峰值電壓保險絲：1.5A。

　　3. 峰值電壓%：峰值電壓可在0～10V、0～50V、0～100V、0～500V之連續可調，面板上的標稱值是近似值，參考用。

　　4. 功耗限制電阻：它是串聯在被測管的集電極電路中，限制超過功耗，亦可作為被測半導體管集電極的負載電阻。

　　5. 峰值電壓范圍：分0～10V/5A、0～50V/1A、0～100V/0.5A、0～500V/0.1A四擋。當由低擋改換高擋觀察半導體管的特性時，須先將峰值電壓調到零值，換擋后再按需要的電壓逐漸增加，否則容易擊穿被測晶體管。

　　AC擋的設置專為二極管或其他元件的測試提供雙向掃描，以便能同時顯示器件正反向的特性曲線。

　　6. 電容平衡：由于集電極電流輸出端對地存在各種雜散電容，都將形成電容性電流，因而在電流取樣電阻上產生電壓降，造成測量誤差。為了盡量減小電容性電流，測試前應調節電容平衡，使容性電流減至最小。

　　7. 輔助電容平衡：是針對集電極變壓器次級繞組對地電容的不對稱，而再次進行電容平衡調節。

　　8. 電源開關及輝度調節：旋鈕拉出，接通儀器電源，旋轉旋鈕可以改變示波管光點亮度。

　　9. 電源指示：接通電源時燈亮。

　　10. 聚焦旋鈕：調節旋鈕可使光跡最清晰。

　　11. 熒光屏幕：示波管屏幕，外有座標刻度片。

　　12. 輔助聚焦：與聚焦旋鈕配合使用。

　　13. Y軸選擇（電流/度）開關：具有22擋四種偏轉作用的開關。可以進行集電極電流、基極電壓、基極電流和外接的不同轉換。

　　14. 電流/度×0.1倍率指示燈：燈亮時，儀器進入電流/度×0.1倍工作狀態。

　　15. 垂直移位及電流/度倍率開關：調節跡線在垂直方向的移位。旋鈕拉出，放大器增益擴大10倍，電流/度各擋IC標值×0.1，同時指示燈14亮。

　　16. Y軸增益：校正Y軸增益。

　　17. X軸增益：校正X軸增益。

　　18.顯示開關：分轉換、接地、校準三擋，其作用是：

　　⑴轉換：使圖像在Ⅰ、Ⅲ象限內相互轉換，便于由NPN管轉測PNP管時簡化測試操作。

　　⑵接地：放大器輸入接地，表示輸入為零的基準點。

　　⑶校準：按下校準鍵，光點在X、Y軸方向移動的距離剛好為10度，以達到10度校正目的。

　　19. X軸移位：調節光跡在水平方向的移位。

　　20. X軸選擇（電壓/度）開關：可以進行集電極電壓、基極電流、基極電壓和外接四種功能的轉換，共17擋。

　　21. “級/簇”調節：在0～10的范圍內可連續調節階梯信號的級數。

　　22. 調零旋鈕 ：測試前，應首先調整階梯信號的起始級零電平的位置。當熒光屏上已觀察到基極階梯信號后，按下測試臺上選擇按鍵“零電壓”，觀察光點停留在熒光屏上的位置，復位后調節零旋鈕，使階梯信號的起始級光點仍在該處，這樣階梯信號的零電位即被準確校正。

　　23. 階梯信號選擇開關：可以調節每級電流大小注入被測管的基極，作為測試各種特性曲線的基極信號源，共22擋。一般選用基極電流/級，當測試場效應管時選用基極源電壓/級。

　　24. 串聯電阻開關：當階梯信號選擇開關置于電壓/級的位置時，串聯電阻將串聯在被測管的輸入電路中。

　　25. 重復－－關按鍵：彈出為重復，階梯信號重復出現；按下為關，階梯信號處于待觸發狀態。

　　26. 階梯信號待觸發指示燈：重復按鍵按下時燈亮，階梯信號進入待觸發狀態。

　　27. 單簇按鍵開關：單簇的按動其作用是使預先調整好的電壓（電流）/級，出現一次階梯信號后回到等待觸發位置，因此可利用它瞬間作用的特性來觀察被測管的各種極限特性。

　　28. 極性按鍵：極性的選擇取決于被測管的特性。

　　29. 測試臺：其結構如圖A-24所示。