移動通信的不斷發展，對測試技術提出了非常高的要求，測試儀器和儀表在產業鏈各環節中是不可或缺的一環，沒有這一環，技術和業務都無法正常開展。LTE即將在中國規模商用，在這一進程中，構建完善的LTE產業鏈至關重要。LTE測試是整條產業鏈中重要的一環。

　　據（艾斯）Frost & Sullivan的研究報告顯示，全球LTE測試設備市場到2018年將增至28.456億美元。研究指出，多種類型的測試設備和應用技術，如研究和開發、制造、安裝、維護和監控等，將推動整體LTE測試設備市場的增長。高帶寬應用和服務的使用增加將為無線測試設備供應商創造無數機會。

　　當前，LTE產業的推進主要聚焦在幾個環節上，而測試測量領域是其中非常重要的一環。NI射頻與無線通信產品市場開發經理姚遠先生日前接受了電子發燒友專訪，就LTE測試發表了獨到見解。
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　　圖：NI射頻與無線通信產品市場開發經理姚遠先生

　　NI：打破常規 積極布局

　　4G時代正式來臨，NI非常看好中國LTE測試市場，4年前就開始積極布局，并有針對性的推出“打破常規”的解決方案。

　　NI射頻與無線通信產品市場開發經理姚遠先生表示：NI對4G/LTE在中國未來幾年的市場前景還是比較樂觀的。作為全球的手機制造基地，中國的手機廠商非常關注快速、高質量、高性價比的測試方案，滿足大規模的手機終端生產需要。另一方面，相比于傳統電子產品行業，移動終端，特別是智能手機的出貨量受市場波動很大，當一款手機受到消費者青睞，其出乎量可能出現脈沖式的增長，風頭過后，出乎量可能又會迅速萎縮，這就更需要一種靈活而兼具成本效益的測試系統解決方案。面對這樣的市場現狀，NI提出的基于PXI平臺的無線測試平臺提供了一種“打破常規”的解決思路。一方面，在PXI平臺上，我們可以更快享受到商業現成可用技術所帶來的成本優勢。另一方面，這種軟件定義的模塊化的解決方案具有極強的靈活性和可擴展性，可以很好的支持最新的通信標準。

　　姚遠先生還表示，在LTE測試方面，早在2009年，NI就已經開始利用PXI平臺針對LTE-FDD進行相關實驗，在2010年12月5日LTE-FDD正式商用之前已經推出相關測試方案。在2012年全球圖形化系統設計大會NIWeek和2013年世界移動通信大會（MWC2013）上，NI先后發布了兩款矢量信號收發儀（VST）NI PXIe-5644R和NI PXIe-5645R，它是全新的軟件完全自定義儀器，不僅具備快速的測量速度和小巧的生產測試儀器組成結構，同時還擁有研發級箱型儀器的靈活性和高性能，可以全面支持LTE的相關測試。

　　以軟件為中心、全方位合作快速推出極具競爭力的測試方案

　　NI的無線通信測試方案，采用以軟件為中心的模塊化儀器構架，基于現成可用的模塊化硬件設備，與相關廠商積極合作，快速開發出最合適的高性價比測試方案，贏得市場認可。工程師可快速實現從研發驗證到生產測試的全方位一體化流程。

　　姚遠先生表示，一個成熟的市場一定是一個充分競爭的市場。特別是由于TD-LTE的國產背景，在這個市場中，除了許多老牌國際測試廠商，還會有眾多國內測試廠商參與其中。由于NI的測試方案是基于軟件定義的理念，我們特別看重和具有技術實力的國內測試測量廠商以及研究所合作，為客戶提供極具性價比的方案。舉個例子，大家都知道在TD-LTE之前，國內首先嘗試的是TD-SCDMA，這個標準雖然表現一般，但這確是中國走向標準制定者的第一步。在TD-SCDMA剛剛提出時，面臨的一個很重要的挑戰就是國際上大的測試測量廠商都沒有足夠重視這一塊的市場，所以相關的商業測試方案遲遲沒有出來，在一定程度上制約了這個標準的發展。我們的聯盟合作伙伴，聚星儀器，在標準的制定階段，他們就已經積極投入并參與到這個協議的測試方案之中。這正是得益于軟件定義，針對一些比較前期的標準可以找到頂尖的射頻測試工程師利用這個平臺，來針對協議測試進行快速開發。

　　LTE測試難點解讀

　　新的標準也意味著新的挑戰，相比于3G移動通信標準，4G/LTE終端產品的測試項目要多出近百項。不僅無線制式在增加，終端支持的頻段也在增加。這對生產測試提出了更高的要求，測試項目和測試時間達以前的數倍。測試時間的增加意味著測試成本的提高，如何尋找快速有效的測試方法，則成為針對4G/LTE系統測試的一個重要挑戰。另一方面，隨著數據傳輸量的上升，測量的復雜性也隨之增加，4G/LTE信號的調制解調需要提高一個數量級的信號處理能力，這些都對于測試系統提出了新的要求。NI采用“非信令模式” （Non-signaling）由于無需建立信令呼叫，可以省去由于信令所需要的大量時間，因此大大提高了測試速度，使得測試時間可以加快50%以上，非常適用于快速、高效率的生產測試。

　　LTE的另一個很重要挑戰就是它的功耗很大。如果大家以后使用LTE手機，可能就會有所體會。NI為市場提供了LTE-TDD和LTE-FDD的測試方案，不止包括了通訊協議的測試，也可以進行射頻功放（PA）的測試。

　　對于PA來說，它需要有一個確定的輸出功率。為了精確的校準一個功放，在每個PA出廠之前，我們使用功率伺服定標系統來進行確定其最終的增益。這個定標系統通過監測并分析PA的輸出功率來及時調整輸入端的功率直到最終達到了理想值，這是一個非常耗時的過程。基于FPGA的VST是一個非常理想的進行功率定標的儀器，因為我們可以將分析的算法放在FPGA上，并且利用它的射頻輸入進行快速調諧，從而可以加速整個校準的過程。

　　測試技術是LTE發展產業鏈上十分關鍵的一環，面對LTE產業多模多頻的終端發展方向以及移動互聯網時代復雜的網絡環境，NI獨具優勢的LTE測試方案可以快速靈活的應對市場挑戰，幫助工程師們降低測試成本、提高產品市場競爭力，為整個LTE產業發展做好鋪墊。

　　姚遠先生簡介：

　　姚遠先生目前擔任美國國家儀器中國地區市場開發經理，負責NI射頻與無線通信產品及方案在中國區重要行業的市場推廣與合作等工作。此前，姚遠先生曾在NI公司擔任應用工程師，系統工程師，技術市場工程師等職務，在測試測量與自動化領域具有多年的系統開發及行業經驗。姚遠先生畢業于上海交通大學，獲碩士學位。