NI于2014年推出的NI STS，基于實驗室儀表級別精度的模塊化儀器，同時滿足測試精度和量產測試覆蓋率的需求。NI STS是基于模塊化儀器的PXI平臺，因此，NI STS可以不斷擴展以滿足日益增多以及定制化的測試需求。

圖1. NI 半導體測試系統內部架構

NI STS 具有統一的測試平臺—— PXI 平臺，可根據設計檢驗到生產測試而隨時調整、讓設計與測試部門輕松共用資料，進而降低成本。此外，PXI 平臺開放式與模塊化的設計，使您可以獲得更強大的計算能力及更豐富的儀器資源，進一步提升半導體測試效率。

NI不斷在PXI平臺上提供最頂尖的儀器技術來滿足半導體產業的測試任務。在這樣的平臺下，在實驗室和產線中內部構造基本一致。在實驗室中使用到的高性能的儀器在產線中依然可以使用，并加入如分選機（Handler）/探針（Prober）的集成、標準Docking（包括Soft Dock/Hard Dock）、待測彈簧探針連接、STDF數據報表生成和系統校準等特性，可輕松集成到生產測試滿足半導體產線測試的要求。

同樣在實驗室和量產測試使用統一開發環境LabVIEW和測試管理執行軟件TestStand，可最大化復用實驗室中的代碼，減少數據關聯（Correlation）時間，進一步提升半導體測試效率。

圖 2. FT 測試

為了幫助半導體工程師更好的使用NI STS，小編特意為大家準備了STS 系列培訓教程（有詳細視頻講解哦），今天先講從“STS Test Head”開始~

NI STS使用培訓系列目錄

① STS Test Head

NI STS 是一系列用于半導體特性分析和生產的硬件/軟件產品。NI STS 系列由 STS T1、STS T2 和 STS T4 組成。T1、T2和 T4 的主要區別在于它們的尺寸以及它們可容納的 18 插槽 NI PXI 機箱的數量（T1 - 一個 PXI 機箱;T2 - 兩個 PXI 機箱;T4 - 四個 PXI 機箱）。本節介紹了 T1、T2 和 T4 的I/O和控件。本視頻展示了 NI STS 輸入和輸出面板及其在測試單元內集成的功能。

② STS Operator Interface

本章介紹了在STS上運行測試的流程。OI（操作員界面）由多個控件和顯示框組成，它們用于配置測試站、輸入批次信息、執行測試以及查看良率、分bin信息和測試結果。

③ Tester Admins

本章提供了創建可啟動 USB 驅動器的參考指南以及使用 Acronis Image 工具加載 STS 控制器鏡像的過程。由于 OI 是客戶端高度定制的操作員界面，因此我們還介紹了如何修改工廠的默認 STS 操作員界面并滿足客戶的特定需求。

④ Handlers and Probers

STS 可以Soft docking 或 Hard docking接到分選機和探針測試臺。每種類型的 STS 都由標準通信接口和Docking 接口所組成。NI 已與幾乎所有在大多數工廠中發現的常見Handler and Prober對接過。以下視頻介紹了分選機和探針測試臺驅動程序的配置過程，并介紹如何在操作員界面配置模擬分選機。

⑤ Tester Maintenance

本章——測試機維護介紹了 NI STS 系統的常規保養維護和基本操作。NI STS 維護軟件是一套軟件工具，使用戶能夠維護、監控、檢修并校準 NI 半導體測試系統。大多數測試維護操作可以使用 NI 維護軟件進行。

⑥ Test Program Development and Debug

本章介紹了 STS 測試程序架構、TestStand、TestStand半導體模塊 （TSM） 以及客戶在標準 Semi ATE 平臺期望的其它組件/功能。引腳編程、分 bin、Digital Pattern編輯器等相關主題也可在本節中找到。

STS Test Head

NI STS 是一系列用于半導體特性分析和生產的硬件/軟件產品。NI STS 系列由 STS T1、STS T2 和 STS T4 組成。

圖 3. STS Configurations

T1、T2和 T4 的主要區別在于它們的尺寸以及它們可容納的18 插槽 NI PXI 機箱的數量（T1- 一個 PXI 機箱;T2 - 兩個 PXI 機箱;T4 - 四個 PXI 機箱）。
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