處于兩種極端之間，像遠端環回這樣的創新技術將DFT的靈活性與較深入的功能測試診斷結合在一起。這種遠端環回在Credence Systems公司的Sapphire D-6432DFT儀器中得到了有效實現。Sapphire D-6432DFT儀器是業界首套高速串行總線方面的集成測試解決方案。該方案結合了全速環回測試、抖動測量、注入測量，還有掃描/功能測試以及直流參數測量，所有功能都位于一個單獨的插件中。更好的是，它提供了帶有可編程信號劣化功能的遠端環回，這為測試工程師賦予了很大的靈活性，使得他們可以將DUT DFT/圖形產生器插入到盡可能遠的上游端。其結果是實現了更高的測試覆蓋率(與其他環回方法相比)。圖4中顯示的是利用DUT主圖案(master pattern)產生器在一個單獨的PCI Express通道上的一個簡單實現，其中D-6432DFT提供遠端環回。

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　　圖4：利用內部DUT DFT實現數據包產生、帶可編程信號劣化功能的遠端環回可以完成高速通道的端到端測試。

　　D-6432DFT提供了比同類產品高四倍的密度，為制造商提供了一項突破性的DFT方法，從而大大減少了半導體器件的總成本和上市時間。與需要數倍投資卻僅能測試有限幾個通道的其他方案不同，D-6432DFT整合了大量的功能，可以在一臺儀器上測試多達16個環回對。這套儀器是與微處理器制造商Advanced Micro Devices (AMD)公司合作制造的，該公司的工程師們將獲獎的Sapphire平臺與D-6432DFT整合在一起，加快了該公司最新型產品的測試時間和上市時間。各地生產線上在用的D-6432DFT儀器已有200多套，這些儀器基于驗證過的Sapphire平臺，其全球用戶數量已達上百個。

　　利用D-6432DFT可以使DUT與智能的測試設備通信，從而首次實現了高速總線的生產級測試。測試工程師在編程信號劣化性能以便器件的發射和接收通道留出更多余量方面具有很大的靈活性，還能夠在一個具有成本效益的生產環境中實現抖動容差和抖動傳輸方面的測試。

　　這類環回提供了以下一些重要優點：

　　提供了能夠側重電壓和時間域眼圖的信號控制

　　增加了對信號完整性和誤碼靈敏度的測試覆蓋

　　儀器中整合了抖動注入和抖動測量

　　覆蓋了損耗預算所有的三個部分

　　接收和發射通道可以被用來向內核邏輯和協議棧提供測試向量

　　可以訪問器件引腳實現全面的直流參數測試

　　很明顯，呈指數式增長的總線速度給電路板的設計到生產帶來了根本轉變。重要的是要記住絕大多數器件都還有其他一些信號，甚至符合傳統接口標準的其它總線。一些器件同時使用幾種由不同協議和信令規范支持的高速總線已經是常見的事情了。實際上，正是技術和時間域的結合才使得這些器件功能如此強大，也使設計、調試和測試變得更加困難。在快節奏環境中，通過提供創新產品和解決方案來幫助用戶以更低的成本和更低的風險進一步優化和加速他們的最新測試技術，測試公司將扮演重要的領導角色。