onsemi FDB1D7N10CL7:100V N溝道屏蔽柵功率MOSFET的卓越性能與應用
在現代電子設計領域,MOSFET作為關鍵的功率開關器件,其性能的優劣直接影響到整個系統的效率、穩定性和可靠性。今天,我們就來深入探討一下安森美半導體(onsemi)推出的一款高性能N溝道屏蔽柵功率MOSFET——FDB1D7N10CL7。
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產品概述
FDB1D7N10CL7是一款采用安森美先進POWERTRENCH工藝并結合屏蔽柵技術的100V N溝道MOSFET。該工藝經過優化,在降低導通電阻的同時,還能保持出色的開關性能,并擁有同類最佳的軟體二極管特性,這使得它在眾多工業和電源應用中具有顯著優勢。
關鍵特性
低導通電阻
- 不同柵源電壓下的低阻表現:在不同的柵源電壓(VGS)和漏極電流(ID)條件下,FDB1D7N10CL7展現出極低的導通電阻(RDS(on))。例如,在VGS = 10 V、ID = 100 A時,最大RDS(on)為1.75 mΩ;當VGS提升到12 V時,最大RDS(on)進一步降低至1.7 mΩ;而在VGS = 15 V、ID = 100 A的情況下,最大RDS(on)僅為1.65 mΩ。即使在VGS = 6 V、ID = 63 A的較低柵源電壓條件下,其最大RDS(on)也僅為4.4 mΩ。低導通電阻意味著在導通狀態下,MOSFET的功耗更低,能夠有效提高系統的效率。
低開關噪聲與EMI
該MOSFET的反向恢復電荷(Qrr)比其他MOSFET供應商的產品低50%,這一特性顯著降低了開關過程中的噪聲和電磁干擾(EMI),有助于提高系統的電磁兼容性(EMC),減少對其他電子設備的干擾。在實際應用中,這對于對EMI敏感的場合尤為重要,比如醫療設備、通信設備等。
高ESD保護能力
FDB1D7N10CL7具有出色的靜電放電(ESD)保護能力,人體模型(HBM)的ESD保護水平大于4 kV,帶電器件模型(CDM)的ESD保護水平大于2 kV。這使得該器件在生產、組裝和使用過程中,能夠更好地抵御靜電的沖擊,降低因靜電損壞導致的產品故障率,提高產品的可靠性。
穩健的封裝設計
采用MSL1級別的封裝,具有良好的防潮性能。其封裝設計經過精心考量,能夠更好地適應各種工業應用環境,提供可靠的機械和電氣連接。
極限參數
| 參數 | 符號 | 額定值 | 單位 |
|---|---|---|---|
| 漏源電壓 | VDS | 100 | V |
| 柵源電壓 | VGS | ±20 | V |
| 連續漏極電流(TC = 25°C) | ID | 268 | A |
| 連續漏極電流(TC = 100°C) | ID | 190 | A |
| 脈沖漏極電流 | ID | 1390 | A |
| 單脈沖雪崩能量 | EAS | 595 | mJ |
| 功率耗散(TC = 25°C) | PD | 250 | W |
| 功率耗散(TA = 25°C) | PD | 3.8 | W |
| 工作和存儲溫度范圍 | TJ, TSTG | -55 至 +175 | °C |
需要注意的是,超過最大額定值表中列出的應力可能會損壞器件,因此在設計過程中,必須嚴格遵守這些參數限制。
電氣特性
關斷特性
- 漏源擊穿電壓(BVdss):在ID = 250 μA、VGS = 0 V的條件下,漏源擊穿電壓為100 V,確保了器件在高壓環境下的穩定性。
- 擊穿電壓溫度系數(ΔBVdss/ΔTJ):在ID = 250 μA并參考25°C時,該系數為57 mV/°C,反映了擊穿電壓隨溫度的變化情況。
- 零柵壓漏極電流(Idss):當VDS = 80 V、VGS = 0 V時,零柵壓漏極電流最大為1 μA,體現了器件在關斷狀態下的低漏電流特性。
- 柵源泄漏電流(Igss):在VGS = +20 V、VDS = 0 V的條件下,柵源泄漏電流最大為 +100 nA,保證了柵極的穩定性。
導通特性
- 柵源閾值電壓(VGS(th)):在VGS = VDS、ID = 700 μA的條件下,柵源閾值電壓范圍為2.0 - 4.0 V,典型值為3.1 V。
- 柵源閾值電壓溫度系數(VGS(th)/TJ):在ID = 700 μA并參考25°C時,該系數為 -9 mV/°C,表明閾值電壓隨溫度升高而降低。
- 靜態漏源導通電阻(RDS(on)):如前文所述,在不同的VGS和ID條件下,RDS(on)具有不同的值,且隨著VGS的升高而降低。
動態特性
- 輸入電容(Ciss):在VDS = 50 V、VGS = 0 V、f = 1 MHz的條件下,輸入電容范圍為8285 - 11600 pF。
- 輸出電容(Coss):其范圍為5025 - 7035 pF。
- 反向傳輸電容(Crss):范圍為50 - 80 pF。
- 柵極電阻(Rg):范圍為0.1 - 1.6 Ω。
開關特性
包括開通延遲時間(td(on))、上升時間(tr)、關斷延遲時間(td(off))和下降時間(tf)等參數,這些參數反映了MOSFET的開關速度和性能。例如,在VDD = 50 V、ID = 100 A、VGS = 10 V、RGEN = 6 Ω的條件下,開通延遲時間為39 - 63 ns,上升時間為33 - 53 ns。
源漏二極管特性
- 脈沖和連續源漏二極管正向電流(IS):最大可達268 A。
- 源漏二極管正向電壓(VSD):在VGS = 0 V、IS = 100 A的條件下,正向電壓范圍為0.9 - 1.2 V。
- 反向恢復時間(trr)和反向恢復電荷(Qrr):在不同的測試條件下,trr和Qrr具有不同的值,反映了源漏二極管的反向恢復特性。
典型特性曲線
文檔中還提供了一系列典型特性曲線,如導通區域特性曲線、歸一化導通電阻與漏極電流和柵極電壓的關系曲線、歸一化導通電阻與結溫的關系曲線等。這些曲線對于工程師在實際設計中評估器件在不同工作條件下的性能非常有幫助。例如,通過歸一化導通電阻與結溫的關系曲線,工程師可以了解到隨著結溫的升高,導通電阻的變化趨勢,從而合理設計散熱方案,確保器件在安全的溫度范圍內工作。
應用領域
由于其卓越的性能,FDB1D7N10CL7適用于多種工業和電源應用,包括但不限于:
- 工業電機驅動:低導通電阻和良好的開關性能有助于提高電機驅動系統的效率和響應速度。
- 工業電源:能夠降低電源損耗,提高電源的轉換效率和穩定性。
- 工業自動化:為自動化設備提供可靠的功率開關解決方案。
- 電池供電工具:延長電池的使用時間,提高工具的性能。
- 電池保護:有效保護電池免受過充、過放等損害。
- 太陽能逆變器:提高逆變器的效率和可靠性,促進太陽能的有效利用。
- UPS和能量逆變器:確保在停電等情況下,能夠穩定地提供電力。
- 能量存儲:實現高效的能量存儲和釋放。
- 負載開關:用于控制電路的通斷,實現靈活的負載管理。
總結
FDB1D7N10CL7作為一款高性能的N溝道屏蔽柵功率MOSFET,憑借其低導通電阻、低開關噪聲、高ESD保護能力和穩健的封裝設計等優勢,在眾多工業和電源應用中具有廣闊的應用前景。電子工程師在進行相關設計時,可以充分考慮該器件的特性和參數,結合具體的應用需求,合理選擇和使用,以實現系統的高效、穩定和可靠運行。不知道大家在實際設計中有沒有使用過類似的MOSFET呢?在應用過程中又遇到過哪些問題呢?歡迎在評論區分享交流。
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