我們很高興展示基于臺積電成熟 N4 工藝打造的Gen1 UCIe IP 的 16GT/s 眼圖。該 IP 一次流片成功且眼圖清晰開闊,為尋求 Die-to-Die連接的客戶再添新選擇。

圖1:Cadence UCIe IP 的 16GT/s 接收端眼圖
UCIe 提供芯片間連接,支持跨技術節點的異構集成。憑借我們經過流片驗證的 D2D IP,這一突破為我們共有的客戶在多芯片設計實施上提供了更大靈活性。這建立在我們先前展示的 16GT/s IP 成功基礎上,其標準和先進的 3nm 封裝設計均已被 IEEE 會議收錄。
廣泛的測試旨在最大限度地覆蓋用例,這一直是 Cadence 芯片驗證的基石。為此,我們在臺積電 N4 工藝上的 UCIe 測試芯片集成了三對(而非一對)芯片間連接,成功演示了跨多種通道長度的數據傳輸。芯片對間距分別為 5mm、15mm 和 25mm,基板尺寸為 50mm×50mm。

圖2:Cadence 采用大尺寸基板設計測試多種通道長度
與所有 UCIe-SP 測試芯片一樣,發射端(Tx)眼圖也輸出至商用示波器,實現對信號質量的實時監測。這進一步證明了設計的穩健性,并讓我們能更深入地了解這款低功耗、高速 IP 的性能。

圖3:16GT/s 發射端輸出眼圖
(連接至示波器,PRBS23 碼型)
自 2018 年以來,Cadence 一直是高速 D2D 連接領域值得信賴的 IP 合作伙伴。此次最新的 16GT/s UCIe 流片演示延續了我們的征程。
歡迎聯系我們,一起探討 Cadence 豐富的 D2D 經驗及廣泛的芯片間連接 IP 組合如何助力加速您的分解式設計。
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原文標題:硅片一次性成功:Cadence 基于臺積電 N4 工藝交付 16GT/s UCIe Gen1 IP
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