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從InFO-MS到InFO_SoW的先進封裝技術

中科院半導體所 ? 來源:學習那些事 ? 2025-08-25 11:25 ? 次閱讀
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文章來源:學習那些事

原文作者:小陳婆婆

本文介紹了從InFO-MS到InFO_SoW的先進封裝技術。

在先進封裝技術向超大型、晶圓級系統集成深化演進的過程中,InFO 系列(InFO-MS、InFO-3DMS)與 CoWoS-L、InFO_SoW 等技術持續突破創新。

這些技術通過工藝融合與架構重構,在高帶寬存儲器集成、三維異構堆疊、晶圓級系統構建等方面實現突破,既優化了成本與性能平衡,又滿足了 HPC、AI 加速器等場景對高帶寬、高密度互連的需求,推動封裝技術向更廣闊的系統級擴展維度邁進,本文分述如下:

板載存儲芯片的InFO技術(InFO-MS)

3D多硅InFO(InFO-3DMS)和CoWoS-L

晶圓上 InFO系統(InFO_SoW)

板載存儲芯片的InFO技術(InFO-MS)

在高性能計算(HPC)系統向超異構集成演進的背景下,臺積電的InFO-MS(板載存儲器扇出型封裝)技術通過工藝創新與架構重構,為高帶寬存儲器(HBM)與邏輯芯片的集成提供了全新解決方案。作為InFO平臺的延伸,該技術將HBM芯片直接嵌入扇出型塑封料中,再通過高密度重布線層(RDL)實現與SoC的垂直互連,其核心突破在于通過改進的RDL線寬/間距(低至2μm/2μm)與嵌入式LSI(局部硅互連)芯片,在保持成本競爭力的同時,實現了媲美CoWoS-R的電氣性能與帶寬密度。

從技術實現路徑看,InFO-MS采用"芯片預嵌入+RDL成型"的工藝流程:HBM與SoC芯片首先在晶圓級基板上完成精準定位,隨后通過光刻工藝構建多層銅重布線層,線寬/線距可壓縮至2μm/2μm級別。這種設計使單塊封裝即可集成多顆異質芯片(如邏輯、存儲模塊),并通過扇出型走線實現芯片間橫向互連。值得關注的是,該技術通過模塊化預堆疊工藝,使存儲單元可獨立測試后嵌入系統,顯著提升了生產良率與設計靈活性。

針對第三方HBM的兼容性挑戰,InFO-MS通過自適應工藝調整與嚴格公差控制,解決了不同廠商存儲芯片在封裝過程中的對齊難題。

從成本與布局靈活性看,InFO-MS通過復用現有InFO產線設備,將高端封裝的準入門檻降低了30%以上。與CoWoS-R相比,該技術無需依賴硅轉接板,轉而采用有機基板與扇出工藝的結合,在保持超薄封裝外形(0.5mm量級)的同時,實現了光罩尺寸的突破——當前量產產品已覆蓋1.7倍光罩,而大于2.5倍光罩的下一代技術正在研發中。這種"全局寬松+局部精密"的互連設計,為構建超大型HPC系統(如數據中心交換機)提供了可行性路徑,滿足6.4Tbit/s至25.6Tbit/s級數據交換容量對帶寬與延遲的嚴苛要求。

隨著玻璃基板替代有機基材的研究推進,InFO-MS有望在2026年實現光罩尺寸突破3倍,進一步縮小與單片SoC的性能差距。這種技術演進不僅滿足了AI算力芯片、5G基站射頻模塊等高帶寬需求應用的需求,更通過模塊化設計與工藝解耦,為設計公司開辟了更靈活的制造資源調配路徑,重新定義了HPC系統集成的成本與性能平衡點。

3D多硅InFO(InFO-3DMS)和CoWoS-L

在先進封裝技術向三維異構集成深度演進的背景下,InFO-3DMS(3D多硅扇出型封裝)與CoWoS-L技術通過工藝融合與架構創新,重新定義了超大型系統集成的性能與成本平衡點。

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作為該領域的標志性創新,InFO-3DMS將扇出型重布線層(RDL)與多類型硅芯片(包括有源邏輯、無源器件及局部硅橋)的垂直堆疊相結合,既保留了InFO工藝的高密度互連優勢(線寬/間距低至2μm/2μm),又通過硅橋接片的嵌入式設計實現了局部亞微米級互連(如0.8μm節距)。這種"全局扇出+局部精密"的架構,使單塊封裝即可集成邏輯、存儲、射頻模塊及無源器件,并通過分層測試流程(先驗證芯粒功能,再組裝至InFO基板)將良率損失控制在行業領先水平。

CoWoS-L作為CoWoS平臺的延伸,通過局部硅互連(LSI)芯片與RDL層的協同設計,解決了傳統硅轉接板在成本與靈活性上的瓶頸。其核心突破在于將微型硅橋接片嵌入RDL層中,在特定區域實現超高密度互連(如0.5μm節距),同時保留有機基板的大面積布局優勢。當與InFO-3DMS結合時,系統架構師得以在超大型封裝內實現"全局寬松+局部精密"的互連設計——例如在AI加速器中,通過CoWoS-L完成HBM與計算核心的高速互連,再利用InFO-3DMS將射頻模塊與基帶芯片集成至同一封裝,從而在保持系統成本競爭力的同時,滿足6.4Tbit/s至25.6Tbit/s級數據交換容量對帶寬與延遲的嚴苛要求。

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從市場定位看,上圖定性比較揭示了InFO-3DMS與CoWoS-L的技術差異:前者通過扇出工藝與硅橋接片的結合,在移動終端與邊緣計算場景中提供超薄封裝(0.5mm量級)與低成本優勢;后者則依托硅轉接板的高熱導率特性,在HPC領域實現更高的帶寬密度(如HBM集成)。這種差異化布局使兩者在AI算力芯片、數據中心交換機等場景中形成互補,共同推動摩爾定律在系統級封裝(SiP)領域的延續。

晶圓上InFO系統(InFO_SoW)

在超大型系統集成向晶圓級架構演進的浪潮中,InFO_SoW(晶圓上InFO系統)技術通過全晶圓級工藝與三維異構集成,重新定義了高性能計算(HPC)與AI加速器的封裝邊界。

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作為業界首款晶圓級系統集成方案,該技術將整個300mm晶圓轉化為單一封裝基板,通過超低表面粗糙度的RDL(重布線層)實現芯片間高密度互連——線寬/間距低至5μm/5μm,單層RDL即可構建兩倍于傳統基板的布線密度,使30mm級互連的功耗降低15%,信號完整性在28GHz頻段下仍保持優異(30mm線路損耗僅0.7dB)。這種架構突破不僅消除了傳統封裝中基板與PCB的物理限制,更通過電源分配網絡(PDN)阻抗降低97%,為超萬兆級數據傳輸提供了零損耗的電力供應通道。

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散熱管理方面,InFO_SoW采用微通道液冷方案,通過2×5陣列加熱器測試結構驗證了其熱穩定性:在7000W功率密度(1.2W/mm2)與16℃冷卻水溫條件下,虛擬加熱器最高溫度控制在90℃以下,較傳統倒裝芯片MCM方案降低30%熱阻。值得關注的是,該技術通過晶圓級CPI(芯片-封裝-相互作用)研究證明,其熱機械風險顯著低于先進制程的倒裝芯片封裝,為超大型系統在數據中心機架中的密集部署提供了可靠性保障。

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原文標題:從InFO-MS到InFO_SoW,解鎖超大型系統集成新可能

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