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CSD17585F5 30V、N 通道 NexFET? 功率 MOSFET、單個 LGA 0.8mm x 1.5mm、33mOhm、柵極 ESD 保護數據手冊

科技綠洲 ? 2025-04-16 11:15 ? 次閱讀
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這種 30V、22mΩ、N 溝道 FemtoFET? MOSFET 技術經過設計和優化,可在許多手持式和移動應用中最大限度地減少占用空間。該技術能夠取代標準小信號 MOSFET,同時顯著減小基底面尺寸。
*附件:csd17585f5.pdf

特性

  • 低導通電阻
  • 超低 Qg和 QGD
  • 超小尺寸
    • 1.53 毫米 × 0.77 毫米
  • 低調
    • 0.36 mm 高
  • 集成 ESD 保護二極管
    • 額定 > 4 kV HBM
    • 額定> 2 kV CDM
  • 無鉛和無鹵素
  • 符合 RoHS 規范

參數
image.png

方框圖
image.png

1. 產品特性

  • ?低導通電阻?:RDS(on)在VGS=4.5V時為26mΩ,在VGS=10V時為22mΩ。
  • ?超低柵極電荷?:Qg(總柵極電荷)在VGS=4.5V時為1.9nC,有助于減少開關損耗。
  • ?超小封裝?:1.53mm × 0.77mm的封裝尺寸,適用于空間受限的應用。
  • ?低剖面?:0.36mm的最大高度,便于表面貼裝。
  • ?集成ESD保護二極管?:HBM評級>4kV,CDM評級>2kV,提高靜電放電保護能力。
  • ?環保特性?:無鉛、無鹵素,符合RoHS標準。

2. 應用領域

  • ?工業負載開關?:優化用于工業領域的負載開關應用。
  • ?通用開關應用?:適用于各種需要小封裝和高開關頻率的通用開關電路

3. 產品描述

CSD17585F5是一款30V、22mΩ的N溝道FemtoFET?MOSFET,采用超小封裝設計,旨在最小化手持和移動設備中的占用空間。該器件能夠替換標準小信號MOSFET,同時顯著減小封裝尺寸。

4. 規格參數

image.png

4.1 電氣特性

  • ?漏源電壓?:VDS最大值為30V。
  • ?柵源閾值電壓?:VGS(th)的典型值為1.3V。
  • ?漏源導通電阻?:RDS(on)在VGS=4.5V時為26mΩ,在VGS=10V時為22mΩ。
  • ?柵極電荷?:Qg(總柵極電荷)在VGS=4.5V時為1.9nC,Qgd(柵極到漏極電荷)為0.39nC。

4.2 熱信息

  • ?結到環境熱阻?:RθJA為90°C/W(在最大銅墊上),245°C/W(在最小銅墊上)。

5. 典型MOSFET特性

  • ?瞬態熱阻抗?:展示了器件在不同條件下的瞬態熱阻抗特性。
  • ?飽和特性?:展示了漏源電流與漏源電壓在不同柵源電壓下的關系。
  • ?轉移特性?:展示了柵源電壓與漏極電流的關系。
  • ?柵極電荷?:展示了柵極電荷與柵源電壓的關系。
  • ?電容特性?:展示了輸入電容、輸出電容和反向傳輸電容與柵源電壓的關系。

6. 設備與文檔支持

  • ?文檔更新通知?:用戶可以通過TI官網的產品文件夾接收文檔更新通知。
  • ?商標信息?:FemtoFET?是Texas Instruments的商標。

7. 包裝與訂購信息

  • ?封裝類型?:1.53mm × 0.77mm的SMD無引腳封裝。
  • ?訂購信息?:提供了器件的訂購編號、封裝類型、引腳數、包裝數量等信息。
聲明:本文內容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網站授權轉載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發燒友網立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用,如有內容侵權或者其他違規問題,請聯系本站處理。 舉報投訴
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