近日，杭州廣立微電子股份有限公司正式推出了晶圓級可靠性（Wafer Level Reliability WLR）測試設備。該產品支持智能并行測試，可大幅度縮短WLR的測試時間。同時，可以結合廣立微提供的定制化軟件系統來提升用戶工作效率。

廣立微WLR晶圓級可靠性測試設備的上市進一步拓展了公司的產品線布局，服務有晶圓可靠性測試要求的客戶，也是實現公司業務多元化增長的新動能，標志著廣立微在晶圓級電性測試設備領域取得了又一重大創新突破。

隨著新興的應用場景涌現，如大型數據中心、新能源汽車等，市場對芯片產品的可靠性和性能需求大幅度提升，也越來越重視在芯片制造階段的晶圓級可靠性(WLR)。這些特殊應用場景的使用環境復雜多變，芯片在整個生命周期內會經歷不同的溫度、濕度環境，以及集成電路本身的電磁干擾，所以WLR測試往往是模擬一些應用環境中極端的情況，針對芯片元器件在特定狀態下，經過一定時間的加速測試后，檢查元器件是否能保持其電性規格高一致性的能力。

廣立微潛心研發的WLR晶圓級可靠性測試設備，硬件穩定性高，具有高量測精度和高效的量測效率，支持并行量測。同時，可以結合廣立微提供的定制化軟件系統來進行軟硬件協同，可使其能夠滿足芯片各種可靠性測試的需求，包含：高電壓、高電流、長時間以及高低溫量測等，通過模擬工作環境進行全面檢測，確保在研發、設計、制造中芯片的高質量和可靠性。

廣立微一直致力于開發和提供技術領先、具有國際競爭力的半導體參數測試系統，如今公司緊跟市場需求，橫向拓展WLR晶圓級可靠性測試設備品類，滿足更多樣化市場需求。未來，廣立微將繼續瞄準世界科技前沿，差異化產品布局戰略有序推進，努力創新出更多自主設計的半導體設備，為客戶創造更大價值，推動中國半導體產業的發展。

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杭州廣立微電子股份有限公司（股票代碼：301095）是領先的集成電路EDA軟件與晶圓級電性測試設備供應商，公司專注于芯片成品率提升和電性測試快速監控技術，是國內外多家大型集成電路制造與設計企業的重要合作伙伴。公司提供EDA軟件、電路IP、WAT電性測試設備以及與芯片成品率提升技術相結合的整套解決方案，在集成電路設計到量產的整個產品周期內實現芯片性能、成品率、穩定性的提升，成功案例覆蓋多個集成電路工藝節點。

審核編輯：湯梓紅