透射電子顯微鏡（TEM）于1932年左右發明，是一種以波長極短的電子束作為電子光源，利用電子槍發出的高速的、聚集的電子束照射至非常薄的樣品，收集透射電子流經電磁透鏡多級放大后成像的高分辨率、高放大倍數的電子光學儀器。

透射電鏡具有分辨率高、可與能譜儀等其他技術聯用的優點，在物理、化學、生物學和材料學等多個領域有著廣泛的應用。近年來，隨著半導體行業飛速發展，相關產品關鍵結構尺寸的進一步微納米化，透射電鏡逐漸開始作為半導體失效分析的有力工具。

4nm制程芯片TEM成像圖

為了讓用戶對透射電鏡相關內容有進一步的了解，此次公開課特意邀請英國曼徹斯特大學材料學博士、廣電計量半導體技術副經理劉辰開展主題為《透射電鏡原理介紹及其在半導體失效分析中的應用》線上公開課。屆時，報名用戶不僅能免費參與課程，聽課期間還有超強的技術專家團隊為大家進行現場答疑。

活動介紹

【主題】透射電鏡原理介紹及其在半導體失效分析中的應用

【時間】時間3月30日上午9:30-11:00

【講師】劉辰

●英國曼徹斯特大學材料學博士

● 廣電計量MA技術線負責人

● 近十年材料分析和電鏡實操經驗

此次公開課不僅作為一場公益課程，更對于報名并成功聽課的客戶提供限時優惠檢測服務方案。

● 優惠期間，可享受優先檢測服務

● 優惠期間，可享受AEC-Q培訓課程八折優惠

【優惠期：2023.3.30-2023.4.30】

常見問題

Q：如何確定已報名成功？

A：掃碼報名后界面會提示“報名成功”。其次，如您已經關注廣電計量公眾號，將會推送報名成功信息。

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A：只要您關注公眾號并成功報名，在課程前5-10分會提醒您聽課。

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A：是的，視頻可限時回放。