国产精品久久久aaaa,日日干夜夜操天天插,亚洲乱熟女香蕉一区二区三区少妇,99精品国产高清一区二区三区,国产成人精品一区二区色戒,久久久国产精品成人免费,亚洲精品毛片久久久久,99久久婷婷国产综合精品电影,国产一区二区三区任你鲁

0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認識你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

鋰金屬電極的兩種典型失效形式

ExMh_zhishexues ? 來源:知社學(xué)術(shù)圈 ? 作者:知社學(xué)術(shù)圈 ? 2022-04-21 15:32 ? 次閱讀
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

鋰金屬電池是下一代高能量密度電池的重要候選者之一,其優(yōu)點在于電極電位較低、理論容量高、能量密度大,但存在安全性和壽命問題。

近日,復(fù)旦大學(xué)董曉麗、夏永姚等在《國家科學(xué)評論》(National Science Review, NSR)發(fā)表綜述文章,總結(jié)了鋰金屬電池中的鋰金屬電極的兩種主要失效形式,并總結(jié)了五大類具有應(yīng)用價值的鋰金屬電極,為未來的研究提供了思路。

文章中,作者對鋰金屬電極的兩種典型失效形式(短路與容量衰減)進行了分析。其中:

短路主要是由鋰枝晶所造成的,比如,電極表面鋰離子濃度不均勻等因素會導(dǎo)致鋰枝晶生長,從而刺穿隔膜,造成短路。

容量衰減則來自于鋰與電解液的反應(yīng)與其自身的粉化過程。鋰的反應(yīng)性較為活潑,會與電解液反應(yīng),消耗一定的活性鋰,造成一部分電池容量損失;同時,充放電過程中鋰金屬的粉化(dusting)會造成阻抗的上升,耗費電池電量。

在了解這兩種主要的鋰金屬電極失效機理后,研究人員就可以展開更具針對性的研究和設(shè)計。

接下來,作者根據(jù)制備方法和相關(guān)應(yīng)用,將目前的鋰金屬電極研究分為五類,并分別進行了介紹和分析。

1c65d12e-bf8f-11ec-9e50-dac502259ad0.png

五種鋰金屬負極的性能對比雷達圖

其中:

穩(wěn)定化金屬鋰粉電極(stabilized lithium-metal powder anode,SLMP),可有效補償石墨等商業(yè)負極材料的不可逆容量;

穩(wěn)定化鋰金屬電極(stabilized lithium-metal anode,SLMA),可降低鋰金屬的粉化過程并抑制枝晶;

沉積鋰金屬電極(deposited lithium-metal anode,DLMA),可有效控制電極表面的電流密度,但制備過程較為繁瑣復(fù)雜;

復(fù)合鋰金屬電極(composite lithium-metal anode,CLMA),較容易形成可靠的電極結(jié)構(gòu),避免了預(yù)鋰化等復(fù)雜的制備工藝;

無陽極鋰金屬電極(anode-free lithium-metal anode,AFLMA),直接使用銅作為陽極,大大簡化了電池的制備工藝。

綜合來看,穩(wěn)定化鋰金屬電極是最為有前景、實用化程度最高的一種電極;而穩(wěn)定化鋰金屬粉末電極則是提升電池能量密度的首選。

文章還指出,當前的技術(shù)距離鋰金屬電極的實用化仍有一段差距。隨著先進表征技術(shù)與制備工藝的發(fā)展,對鋰金屬電池的工作機制會研究得更加透徹,制作工藝會得到進一步的完善;在此基礎(chǔ)上,安全且高能的鋰金屬電池或許有望很快推出并進入市場,引領(lǐng)新的能源革命。

審核編輯 :李倩

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
  • 電極
    +關(guān)注

    關(guān)注

    5

    文章

    894

    瀏覽量

    28412
  • 電解液
    +關(guān)注

    關(guān)注

    10

    文章

    879

    瀏覽量

    23814
  • 金屬
    +關(guān)注

    關(guān)注

    1

    文章

    621

    瀏覽量

    25160

原文標題:NSR綜述 | 鋰金屬電極的實用化之路:圣杯還是未爆彈?

文章出處:【微信號:zhishexueshuquan,微信公眾號:知社學(xué)術(shù)圈】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請注明出處。

收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

    評論

    相關(guān)推薦
    熱點推薦

    芯片失效故障定位技術(shù)中的EMMI和OBIRCH是什么?

    探針,但原理、適用場景與檢測能力存在顯著差異。兩種技術(shù)常集成在一個檢測系統(tǒng)合稱光發(fā)射顯微鏡,互為補充能夠應(yīng)對絕大多數(shù)失效模式,可在較大范圍內(nèi)準確迅速定位集成電路中的微小失效點,并通過后續(xù)去層處理、電鏡
    發(fā)表于 02-27 14:59

    超快熱響應(yīng)電解質(zhì):構(gòu)建本質(zhì)安全型金屬電池的新途徑

    金屬負極因其極高的理論比容量,被視為實現(xiàn)高能量密度的關(guān)鍵。然而,金屬的高反應(yīng)活性以及有機電解液的易燃性,使得
    的頭像 發(fā)表于 12-18 18:03 ?666次閱讀
    超快熱響應(yīng)電解質(zhì):構(gòu)建本質(zhì)安全型<b class='flag-5'>鋰</b><b class='flag-5'>金屬</b>電池的新途徑

    電子元器件典型失效模式與機理全解析

    在現(xiàn)代電子設(shè)備中,元器件的可靠性直接影響著整個系統(tǒng)的穩(wěn)定運行。本文將深入探討各類電子元器件的典型失效模式及其背后的機理,為電子設(shè)備的設(shè)計、制造和應(yīng)用提供參考。典型元件一:機電元件機電元件包括電連接器
    的頭像 發(fā)表于 10-27 16:22 ?583次閱讀
    電子元器件<b class='flag-5'>典型</b><b class='flag-5'>失效</b>模式與機理全解析

    電子元器件失效分析之金鋁鍵合

    電子設(shè)備可靠性的一大隱患。為什么金鋁鍵合會失效金鋁鍵合失效主要表現(xiàn)為鍵合點電阻增大和機械強度下降,最終導(dǎo)致電路性能退化或開路。其根本原因源于金和鋁兩種金屬的物理與化
    的頭像 發(fā)表于 10-24 12:20 ?645次閱讀
    電子元器件<b class='flag-5'>失效</b>分析之金鋁鍵合

    金屬電池穩(wěn)定性能:解決固態(tài)電池界面失效的新策略

    固態(tài)電池因其高能量密度和增強的安全性而備受關(guān)注。然而,固體電解質(zhì)層與電極之間形成的空隙,已成為制約其長期穩(wěn)定運行的關(guān)鍵障礙。如今,研究人員通過將一電化學(xué)惰性且機械柔軟的金相相整合到金屬
    的頭像 發(fā)表于 10-23 18:02 ?1577次閱讀
    <b class='flag-5'>鋰</b><b class='flag-5'>金屬</b>電池穩(wěn)定性能:解決固態(tài)電池界面<b class='flag-5'>失效</b>的新策略

    重要突破!中科院團隊實現(xiàn)全固態(tài)金屬電池長循環(huán)壽命

    全固態(tài)金屬電池因其潛在的高能量密度和本征安全性,被視為下一代儲能技術(shù)的重要發(fā)展方向。然而,金屬負極與固態(tài)電解質(zhì)之間固-固界面的物理接觸失效
    的頭像 發(fā)表于 10-09 18:05 ?1044次閱讀
    重要突破!中科院團隊實現(xiàn)全固態(tài)<b class='flag-5'>鋰</b><b class='flag-5'>金屬</b>電池長循環(huán)壽命

    兩種散熱路徑的工藝與應(yīng)用解析

    背景:兩種常見的散熱設(shè)計思路 在大電流或高功率器件應(yīng)用中,散熱和載流能力是PCB設(shè)計中必須解決的難題。常見的兩種思路分別是: 厚銅板方案:通過整體增加銅箔厚度(如3oz、6oz甚至更高),增強導(dǎo)熱
    的頭像 發(fā)表于 09-15 14:50 ?787次閱讀

    貴港光電固定式雙測頭的兩種典型應(yīng)用形式

    成像技術(shù),配合LED平行光源,通過測量被遮擋光斑尺寸計算實際物理尺寸。在板材檢測中,個測頭分別檢測邊緣位置,通過固定間距值+邊緣測量值得出總寬度。這種形式相比可調(diào)式測頭更適合規(guī)格統(tǒng)一的大批量生產(chǎn)場景
    發(fā)表于 07-23 15:17

    液態(tài)金屬接觸電阻精確測量:傳輸線法(TLM)的新探索

    液態(tài)金屬(如galinstan)因高導(dǎo)電性、可拉伸性及生物相容性,在柔性電子領(lǐng)域備受關(guān)注。然而,其與金屬電極間的接觸電阻(Rc)測量存在挑戰(zhàn):傳統(tǒng)傳輸線法(TLM)假設(shè)電極薄層電阻(Rshe)可忽略
    的頭像 發(fā)表于 07-22 09:51 ?1457次閱讀
    液態(tài)<b class='flag-5'>金屬</b>接觸電阻精確測量:傳輸線法(TLM)的新探索

    芯片封裝失效典型現(xiàn)象

    本文介紹了芯片封裝失效典型現(xiàn)象:金線偏移、芯片開裂、界面開裂、基板裂紋和再流焊缺陷。
    的頭像 發(fā)表于 07-09 09:31 ?1798次閱讀

    LED失效典型機理分析

    一、芯片缺陷在LED器件的失效案例中,芯片缺陷是一個不容忽視的因素。失效的LED器件表現(xiàn)出正向壓降(Vf)增大的現(xiàn)象,在電測過程中,隨著正向電壓的增加,樣品仍能發(fā)光,這暗示著LED內(nèi)部可能存在電連接
    的頭像 發(fā)表于 07-08 15:29 ?684次閱讀
    LED<b class='flag-5'>失效</b>的<b class='flag-5'>典型</b>機理分析

    貼片晶振中兩種常見封裝介紹

    貼片晶體振蕩器作為關(guān)鍵的時鐘頻率元件,其性能直接關(guān)系到系統(tǒng)運行的穩(wěn)定性。今天,凱擎小妹帶大家聊聊貼片晶振中兩種常見封裝——金屬面封裝與陶瓷面封裝。
    的頭像 發(fā)表于 07-04 11:29 ?1262次閱讀
    貼片晶振中<b class='flag-5'>兩種</b>常見封裝介紹

    液態(tài)金屬電阻率測試儀中的常見誤差來源及規(guī)避方法

    電極材料與液態(tài)金屬發(fā)生化學(xué)反應(yīng)或相互擴散,會改變液態(tài)金屬的成分和性質(zhì),從而影響電阻率。例如,普通金屬電極在測試某些活潑液態(tài)金屬時,可能會形成
    的頭像 發(fā)表于 06-17 08:54 ?860次閱讀
    液態(tài)<b class='flag-5'>金屬</b>電阻率測試儀中的常見誤差來源及規(guī)避方法

    電子元器件失效分析與典型案例(全彩版)

    本資料共分篇,第一篇為基礎(chǔ)篇,主要介紹了電子元器件失效分析基本概念、程序、技術(shù)及儀器設(shè)備;第二篇為案例篇,主要介紹了九類元器件的失效特點、失效模式和
    發(fā)表于 04-10 17:43

    太誘電容的失效分析:裂紋與短路問題

    太誘電容的失效分析,特別是針對裂紋與短路問題,需要從多個角度進行深入探討。以下是對這個問題的詳細分析: 一、裂紋問題 裂紋成因 : 熱膨脹系數(shù)差異 :電容器的各個組成部分(如陶瓷介質(zhì)、端電極
    的頭像 發(fā)表于 03-12 15:40 ?1408次閱讀
    太誘電容的<b class='flag-5'>失效</b>分析:裂紋與短路問題