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國產氮化鎵芯片最新動態:合封驅動、封裝工藝升級雙面散熱

lPCU_elecfans ? 來源:電子發燒友網 ? 作者: 李誠 ? 2021-12-07 13:57 ? 次閱讀
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電子發燒友網報道(文/李誠)自Type-C 2.1與PD 3.1新的標準協議發布之后,氮化鎵再次被推上風口。氮化鎵以低損耗、高效率、高功率密度的自身優勢,迅速占領快充市場。隨著硅基氮化鎵成本的下降,氮化鎵材料或將發展成為快充行業的主流。國產內的氮化鎵廠商也陸續推出了多款氮化鎵產品,并在芯片的功率、驅動、封裝方面均有不小的突破。

封裝工藝升級、雙面散熱的650V GaN FET

據介紹,氮矽科技現已發布多款基于氮化鎵的產品,同時還推出了多個可直接量產的氮化鎵快充解決方案。

據氮矽科技銷售總監伍陸軍介紹,氮矽科技目前已推出一款面積超小的650V氮化鎵功率器件DX6510D。該器件的封裝規格為PDDFN 4*4mm,面積僅為16mm2,與DFN5*6封裝的產品相比面積減少了一半,進一步減小了充電器的體積,同時還對芯片的封裝工藝進行了升級。

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電子發燒友網 攝

在通常情況下芯片面積減小,芯片的散熱性能也會減弱。氮矽科技為解決DX6510D的散熱問題,這枚芯片采用了Chip Face Down封裝工藝,和RDL取代傳統打線工藝,以及雙面散熱的設計,提高芯片的散熱能力,降低熱量對系統效率的影響,保證系統長時間運行的穩定性。

Chip Face Down封裝工藝是為了讓電流溝道更接近PCB板面,加速芯片底部散熱,并通過RDL工藝重布線的方式加快芯片內部散熱。RDL工藝的應用還大幅降低了芯片的寄生電感和電阻等寄生參數,減小寄生參數對于氮化鎵來說是非常重要的。

因為氮化鎵柵極的閾值很低,對工作電壓的精度要求很高,如果寄生電感或寄生電阻太大,會導致氮化鎵MOS管存在誤開啟、關斷的現象,甚至是在正常工作中出現跳壓,隨著時間的累積,電壓慢慢提高,這不僅會嚴重影響氮化鎵MOS管的使用壽命,還可能會因電壓升高而導致氮化鎵MOS管炸斷。

同時為提高小面積芯片的散熱能力,氮矽科技還在芯片的頂部添置了散熱模塊,增大了散熱面積,氮化鎵MOS管內部的熱量可由頂部的散熱模塊進行釋放。與傳統增大PCB增大敷銅面積的方式相比,氮矽科技通過自研板級封裝與雙面散熱結合的方式的散熱效果更好。

氮矽科技采用雙面散熱的PDDF4*4封裝芯片與TO252傳統封裝芯片進行的溫升實驗,通過上圖可看出兩者的溫度變化差距不大,但從面積上來看,PDDF4*4封裝芯片的面積僅為TO252封裝的1/4。據氮矽科技介紹,即使芯片的面積減小了3/4,DX6510D的功率因數與系統效率也不會因此受到影響。

合封驅動的氮化鎵芯片

氮化鎵之所以在電源領域被廣泛應用,是因為氮化鎵的開關頻率更高,與硅基產品相比,在同等輸出功率下,基于氮化鎵的電路更為精簡、元器件使用數量更少、設備體積更小,功率密度更高。

合封氮化鎵芯片是通過內部走線的方式,將氮化鎵功率芯片與驅動器控制器或其它控制芯片連接起來,在很大程度上縮短了導線的長度,大大地降低了寄生參數的值,尤其是寄生電感。

寄生電感對氮化鎵功率芯片的影響很大,當氮化鎵功率芯片工作在高頻狀態下時,會增加系統的開關損耗、提高幅值、降低系統效率,同時還會增加開發工程師的調試難度。通過將多種控制器、驅動器合封起來的方式恰好能解決這一問題,因此將氮化鎵驅動合封在功率器件中具有重大意義,并且已成為電源領域的主要發展趨勢。

據官網顯示,東科半導體目前已將開發出多款合封氮化鎵驅動器、邏輯控制器的氮化鎵合封芯片,這些芯片多采用QR的電源架構,工作頻率均在200kHz左右。據介紹,現階段有一款65W采用有源鉗位反激式電源架構的合封芯片目前已進入調試階段,該芯片的最高工作頻率達500kHz,應用于電源系統中能夠明顯的降低開關損耗并提高系統效率。

DK051QF是東科半導體的一款合封氮化鎵芯片,該芯片采用的是QR的電源架構 ,設計輸出功率為65W,工作最高頻率可達200kHz,芯片合封了邏輯控制器,驅動器和高壓啟動管。

在電路調試方面,由于該芯片采用的是多種控制器合封的方式,寄生參數影響較少。同時還采用了較為簡單的QR電路拓撲,減少了元器件的使用數量,并將系統電路簡化到了最低,大幅的降低了系統的調試難度,縮短了產品的開發周期。

同時,南芯半導體也推出合封了氮化鎵驅動與控制器的氮化鎵功率芯片SC3050。這款芯片采用了獨特的EPAD設計,優化了在大電流工作狀態下的電氣特性,并得到了很好的熱體驗。通過合封的方式,將控制器與氮化鎵功率器件結合,充分地發揮了低寄生參數下,氮化鎵低開關損耗、高功率密度的性能。

上圖為SC3050在滿載情況下不同的工作狀態的變化曲線。該芯片在QR模式下,開關頻率為170kHz。當工作電壓在100V~220V時,系統的轉換效率都能穩定在93%以上。當系統處于空載狀態或輕載狀態時,芯片會自動切換到突發模式,以降低系統功耗。據南芯半導體介紹,該方案現已被廣泛應用于高能效、小體積的快充解決方案中。

結語

隨著制造工藝的升級,目前市場上的氮化鎵產品現已向著小型化、高度集成化發展。氮矽科技的雙面散熱技術在產品面積縮小的情況下,還保證了產品的工作性能,與相同面積的芯片相比,工作溫度更低,該技術的應用將會推動快充充電器向更高功率密度方向的發展。

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編輯:jq

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原文標題:國產氮化鎵芯片動態:合封驅動、封裝工藝升級雙面散熱

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