憑借早期RTL測試集成、汽車功能安全和高帶寬測試，重新界定人們對測試的預期。

重點：

• 全面RTL DFT流程，加上新思科技Fusion Design Platform?，確保最快上市時間與最佳設計功耗、性能與面積
• 先進的汽車功能安全支持包括軟錯誤分析和X-tolerant邏輯BIST，以符合ISO 26262標準要求
• 通過功能用途高速接口進行的測試帶來了前所未有的測試帶寬與便攜性

新思科技，（Synopsys， Inc.，納斯達克股票市場代碼：SNPS）近日宣布TestMAX?系列產品上市，其創新的測試與診斷功能適用于半導體器件的所有數字、存儲和模擬部分。新思科技TestMAX系列包括用于汽車測試和功能安全的獨特功能以及技術，利用許多設計中常見的高速接口，實現全新級別的測試帶寬和效率。功能強大、可高度配置的測試自動化流程提供新思科技TestMAX所有功能的無縫集成。全面RTL集成支持復雜DFT邏輯的早期驗證，并且與新思科技Fusion Design Platform?的直接鏈接保證了對物理、時序和功耗的關注。這些新功能，加上早期可測試性分析與規劃、層次化ATPG壓縮、物理感知診斷、BIST、存儲自測試與修復以及模擬故障仿真等綜合支持，確保新思科技TestMAX產品系列在解決重要測試問題的同時，實現今后高要求應用的有效測試。

人工智能和汽車等快速發展的新應用增加了設計規模與復雜性。這些不斷發展的細分市場需要前所未有的高質量和長期可靠性。獨特的TestMAX軟錯誤分析計算ISO 26262標準數據，從而識別與解決設計周期早期發現的潛在問題，并引導有效的設計變動。滿足強制功能安全級別的需求讓先進半導體測試的重要性與集成必要性發生了重大改變。通常一旦車輛啟動并運行，器件就必須實施自測試機制。邏輯Logic BIST通常用于檢查器件邏輯中的安全故障，但無法容忍未知的電路狀態，如那些源自設計定案后時序異常引發的情況。新思科技TestMAX推出了業界首個X-tolerant邏輯BIST解決方案，該解決方案可以在未知狀況下運作，并且與競爭對手的邏輯BIST解決方案相比，創新的reseeding技術在更短的時間里顯著提升了故障覆蓋率。新思科技 TestMAX提供了片上基礎架構，用于車輛啟動或運行期間定期運行X-tolerant邏輯BIST。

三星電子代工廠設計技術團隊副總裁JY Choi表示：“我們客戶的設計越來越多地用于汽車應用。新思科技 TestMAX X-tolerant邏輯BIST解決方案讓我們的客戶能夠在最不影響設計的情況下，實現他們宏偉的測試時間和覆蓋率自測試目標。”

隨著設計規模不斷增長，管理制造測試時間已經越發困難。由于測試探針和相關時鐘頻率的有限增長，測試應用帶寬通常不升級。新思科技TestMAX利用高速功能接口，例如當今大部分器件上存在的USB和PCI Express，帶來了突破性的解決方案。新思科技TestMAX通過這些功能接口中的一個或多個，能夠應用到所有的制造測試上，因此帶來幾乎不受限制的測試帶寬，并且減少（如果無法消除）專有測試探針的開支。由于使用了功能接口，所有的測試變得完全便攜式，可以用于產品生命周期中的各個階段。

新思科技測試自動化營銷高級總監Steve Pateras表示：“由于多項技術與市場趨勢帶來的綜合影響，我們的客戶正面臨新的測試挑戰。通過新思科技TestMAX系列產品實現的創新已經為許多設計公司帶來關鍵優勢。我們致力于確保我們的解決方案繼續不斷改善，以滿足他們的未來需求。