眼圖參數，特別是眼高和眼寬，經常造成工程師的困惑，針對眼高眼寬以及其他像1電平、0電平等眼圖參數的算法并不是通用的，因為他們假設眼圖垂直片段上的電壓分布很好的擬合高斯分布。對于光信號，這是一個很好的假設。實際上，眼圖參數最初就是定義用在光信號上的，沒有考慮ISI等信號完整性的影響，通過電路板和互聯器件傳輸的串行信號的眼圖片段通常不是高斯分布的。這樣測試出來的眼高眼寬的結果可能不會返回正確的結果，這篇文章針對眼高測量，討論為什么會發生這種狀況，并且給讀者避免這種狀況的建議，相似的分析適用于眼寬，但是不在這篇文章中討論。

眼圖參數的算法基于高斯模型，使用眼圖中心的3sigma來定義眼高和眼寬。描述光信號眼圖時，這種算法工作的很好。光眼圖來自通過光纖路徑傳輸光信號。當然，當進入示波器時，光信號會被轉換成電信號。但是預期是眼圖不會受到信號完整性的影響。這些眼圖一般都很干凈，有很清晰的高低電平。相對應的是，受到頻率相關損耗導致的ISI影響的信號形成的眼圖，在這種狀況下，眼高和眼寬會返回不準確的結果。TeledyneLecroy，Agilent，Tektronix都使用相同的3sigma推算算法，這種技術會在后面做詳細描述。

受ISI影響的眼圖例子

下圖1顯示的是受通道中的ISI影響的眼圖，這個信號完整性影響導致信號會根據歷史bit位有不同的信號軌跡，這個信號是PRBS11，8Gbps NRZ碼型。信號源的幅度設置為+/-300mv，示波器測量的是經過過電路板上11英寸走線的信號。信號通過通道后，信號幅度衰減減為大約+/-250mv，但是由于歷史bit位的不同，0電平和1電平電壓差異很大，這種特性是問題的根源。

圖1右測的直方圖顯示的是眼圖中間20%垂直片段的電壓的分布狀況。左側的直方圖是0電平的分布狀況，右測的直方圖是1電平的分布狀況，兩個直方圖都不是單高斯分布，由于分布狀況不擬合高斯模型，計算出來的眼高參數返回的是一個錯誤的結果。

為了進一步說明ISI對眼圖的影響，圖2顯示的是一個帶有ISI但沒有抖動的模擬PRBS5信號的的眼圖，由ISI導致的穿過眼圖不同的信號軌跡可以很容易的觀察到。相應的直方圖清楚的顯示垂直片段電壓的分布不是一個高斯分布。