在上一篇文章中，我們了解了一些精密模數轉換器 (ADC)支持的自校準功能。我們還討論了，除了ADC 的內部誤差外，外部電路也會在我們的測量中產生顯著的偏移和增益誤差。

本文研究了一些精密 ADC 中實現的另外兩種校準功能，即系統校準和背景校準模式。

通過系統校準消除偏移和增益誤差

在自校準補償 ADC 內部誤差的同時，系統校準功能試圖消除整個系統的偏移和增益誤差。自校準功能在內部提供 ADC 輸入所需的電壓，而系統校準則需要用戶從外部向 ADC 施加適當的輸入。此外，系統校準可以包括系統偏移和增益校準功能。

如前所述，許多 ADC 使用以下校準方案的變體，其中首先從 A/D 轉換過程的輸出中減去偏移校準寄存器 (OFC) 的值，然后將結果乘以增益校準值（FSC寄存器），如下圖1所示。

圖 1.?顯示 ADC、OFC 寄存器和 FSC 寄存器的示例框圖。圖片由TI提供

系統偏移校準

對于系統失調校準，用戶從外部向 ADC 輸入施加零伏并運行系統失調校準例程。校準功能試圖補償電路板和 ADC 內部電路產生的任何偏移。圖 2 說明了EVAL-AD7124-4SDZ?評估板的系統偏移校準。

圖 2.? EVAL-AD7124-4SDZ 的失調校準。圖片由Analog Devices提供

請注意，ADC 輸入 AIN?0和 AIN?2在外部短路。雖然 AD7124-4 具有 ±15 μV 的典型未校準失調，但上述系統在未經校準的情況下表現出 24 μV 失調。執行系統失調校準后，零輸入的 ADC 輸出代碼的模擬等效值約為 120 nV，與 ADC 噪聲數量級相當。

系統偏移誤差源

您可能會問：是什么影響使上述簡單系統具有 24 μV 的偏移，而 ADC 偏移僅為 ±15 μV？但是，由于 ADI 文檔沒有對此進行詳細說明，因此這種額外偏移的來源似乎可能是電路板寄生熱電偶。

當兩種不同的金屬在連接處連接時，就會產生熱電偶。這不可避免地發生在正常電路布線中（例如，在錫鉛焊料和銅 PCB 跡線之間的連接處），從而產生塞貝克系數為 3 至 4 μV/°C 的寄生熱電偶。寄生熱電偶也存在于銅 PCB 跡線和 IC 的 Kovar 引腳的連接處。這些結表現出大約 35 μV/°C 的塞貝克系數。

如您所見，電路板上的小溫度梯度可以產生與精密 ADC 的未校準偏移相當的熱電偶電壓。因此，兩個模擬輸入的信號路徑應保持相同且彼此靠近。對于匹配的輸入線路，熱電偶效應理想情況下應在 ADC 輸入端產生共模電壓，該電壓將被 ADC 的共模抑制比 (CMRR)衰減。

雖然相同的信號路徑可以最大限度地減少熱電偶效應，但它們不能完全消除它，因為整個電路板上可能存在溫度梯度。然而，如果這個溫度梯度是恒定的，系統校準可以消除剩余的偏移誤差。除了寄生熱電偶之外，信號路徑中的放大器和濾波器也會導致系統失調誤差。

例如，考慮下面圖 3 中的電路圖。

圖 3.?顯示校準輸入的示例電路圖。圖片由TI提供

同樣，對于偏移校準，輸入與信號源斷開連接并通過開關短接到地。在本例中，放大器 U1 和 U2 的失調以及 ADC 失調會影響整個系統的失調。這些偏移項以及熱電偶效應可以使用系統偏移校準來校準。?如果與前端信號調節電路相關的失調溫度漂移限制了性能，我們將需要在工作溫度發生顯著變化時重復系統校準。

系統增益校準

系統增益校準校正信號路徑中的增益誤差。在系統增益校準中，輸入從外部連接到適當的正滿量程，具體取決于 PGA 增益和參考電壓。例如，考慮EVAL-AD7124-4SDZ?評估板的系統增益校準（圖 4）。

圖 4.?顯示 EVAL-AD7124-4SDZ 系統增益校準的框圖。圖片由Analog Devices提供

在此示例中，基準電壓為 2.5 V。如果 PGA 增益為 2 且AD7124-4?配置為雙極性模式，則應向模塊輸入施加 1.25 V 的滿量程電壓。由于不同的增益誤差因素，1.25 V 輸入可能無法在未經校準的情況下產生滿量程輸出代碼。在系統增益校準期間，ADC 假定滿量程電壓施加到輸入。因此，校準功能將 A/D 轉換過程產生的代碼映射到 ADC 輸出端的理想滿量程代碼。再舉一個例子，考慮下面圖 5 中的3 線比例 RTD 測量系統。

圖 5.?三線比例 RTD 測量系統圖。

假設 RTD 將測量的最高溫度為 814 °C。要為 ADC 產生滿量程信號，我們可以用 0.01%、380Ω 電阻器代替 RTD，因為該電阻對應于PT100 RTD 的大約 814°C??。校準電阻就位后，我們可以使用 ADC 系統校準功能來消除增益誤差。然而，為了獲得更高的精度，我們可能決定手動確定增益校準寄存器的值，而不是依賴 ADC 系統校準功能。手動增益校準使我們能夠考慮校準電阻器的容差以及 814 °C 實際上對應于 379.871 Ω 而不是 380 Ω 等因素。通過手動增益校準，我們可以使用 8.5 位萬用表測量校準電阻的實際值，?并計算將輸出代碼映射到理想滿量程代碼的增益校準系數。

系統增益誤差源

此外，為了從 ADC 本身獲得誤差，根據應用的不同，可能還有其他幾個增益誤差因素。在圖 4 所示的示例中，電壓基準的初始精度導致 ADC 傳遞函數中的增益誤差。您可以驗證如果指定為百分比的參考電壓容差為 x，則來自電壓參考容差的增益誤差也約為 x 百分比。例如，初始精度為 0.05% 的參考電壓會導致 ADC 傳遞函數中出現大約 0.05% 的增益誤差。

對于更復雜的信號鏈，如圖 3 中的信號鏈，放大器和濾波器的增益誤差也會影響系統增益誤差。再舉一個例子，考慮圖 5 中的 RTD 應用。在這種情況下，R ref的容差、電流源之間的不匹配以及 ADC 增益誤差是系統增益誤差的三個主要影響因素。

關于系統校準的最終想法

如上所述，應將適當的輸入電壓從外部施加到 ADC 以進行系統校準。應該注意的是，這些輸入應該在系統校準步驟開始之前應用，并且必須保持穩定直到該步驟完成。沒有穩定的輸入，ADC 就無法準確確定校準系數。

考慮到信號鏈組件的漂移性能和系統運行的溫度范圍，您可能需要根據應用的精度要求增加校準頻率。?

背景校準

這是在某些 ADC 中發現的另一種自校準類型，例如 Analog Devices 的AD7714??。對于背景校準，校準過程與正常的轉換序列交織在一起。每次輸出更新后，AD7714 都會執行零電平自校準。這將 ADC 的輸出數據速率降低了 6 倍；但是，它使器件能夠持續消除溫度漂移、電源靈敏度和老化對零電平誤差的影響。?

TI的LMP90100?也是包含背景校準的設備的一個很好的例子。使用傳統的后臺校準方法，必須在 ADC 計算偏移或增益系數時中斷 ADC 輸入。但是，LMP90100 使用不同的校準技術（對輸入信號進行了一些假設），該技術對 ADC 的輸出數據速率的影響最小。有關此設備的更多信息，請參閱此應用報告。????

審核編輯：湯梓紅