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一顆小小的電容器牽動(dòng)整個(gè)供應(yīng)鏈的神經(jīng)
緊張的供應(yīng)局勢(shì),也加快了MLCC產(chǎn)業(yè)的產(chǎn)品變革,其中元件尺寸的全面小型化是重要的變革。說(shuō)到小尺寸MLCC,其實(shí)國(guó)內(nèi)廠商宇陽(yáng)的實(shí)力已經(jīng)非常突出,因?yàn)橛铌?yáng)一...
什么是軟端子MLCC?軟端子MLCC的特點(diǎn)及應(yīng)用
軟端子MLCC雖然可以通過(guò)樹(shù)脂層來(lái)有效緩和機(jī)械應(yīng)力,但另一方面,樹(shù)脂層比銅等金屬的電阻高,因此有ESR等電阻上升的缺點(diǎn)。為了解決這個(gè)問(wèn)題,TDK公司采用...
MLCC電容的結(jié)構(gòu)、特點(diǎn)及失效模式
A:多層陶瓷電容器是由印好電極(內(nèi)電極)的陶瓷介質(zhì)膜片以錯(cuò)位的方式疊合起來(lái),經(jīng)過(guò)一次性高溫?zé)Y(jié)形成陶瓷芯片,再在芯片的兩端封上金屬層(外電極)制成的電容。
測(cè)量片狀陶瓷電容器的解決案例以及注意事項(xiàng)
以1pF的MLCC靜電容量測(cè)定為例、改變OPEN補(bǔ)正時(shí)的測(cè)試治具端子間距離然后確認(rèn)靜電容量,結(jié)果、OPEN補(bǔ)正時(shí)端子間距離比MLCC的L尺寸越大靜電容量...
MLCC高損耗率的人為因素有哪些?怎樣能避免和減少人為因素的損耗呢?
眾所周知SMT廠的物料損耗中MLCC的比率是最高的,可是造成損耗的主要人為因素您是否都了解?怎樣避免和減少損耗?
平衡式MLCC方案1個(gè)X2Y電容設(shè)計(jì)
平衡MLCC解決方案的內(nèi)部極板結(jié)構(gòu)形成了一個(gè)集成的無(wú)源電路(Integrated Passive Circuit,IPC),該電路具有非常有趣的電磁屬性...
MLCC離型膜是MLCC生產(chǎn)制造過(guò)程中的核心耗材。MLCC生產(chǎn)過(guò)程中會(huì)耗用大量MLCC離型膜,MLCC通常需要堆疊300~1000層陶瓷介質(zhì)
陶瓷配方粉是MLCC的核心原材料,占MLCC成本的20%~45%,特別是高容 MLCC 對(duì)于瓷粉的純度、粒徑、粒度和形貌有嚴(yán)格要求
天風(fēng)國(guó)際證券分析師郭明錤31日指出,受到貿(mào)易戰(zhàn)導(dǎo)致消費(fèi)信心趨緩影響智能手機(jī)出貨量,加上供貨商擴(kuò)產(chǎn)積極,低容值積層陶瓷電容 (MLCC) 已在第四季出現(xiàn)跌價(jià)跡象。
溫度系數(shù)指溫度變化時(shí),電子元件特定物理量的相對(duì)變化,單位為ppm/°C,最常見(jiàn)的是電阻溫度系數(shù)(temperature coefficient of r...
隨著筆記本電腦、手機(jī)等設(shè)備的普及,由電容器振動(dòng)所產(chǎn)生的“嘯叫”問(wèn)題越來(lái)越多的受到人們的關(guān)注,如何優(yōu)化各電源架構(gòu)的電容嘯叫,讓電容閉嘴,是一個(gè)有趣的問(wèn)題。
什么是去耦電容?去耦電容的用途是什么?什么類型的電容器用于去耦?
系統(tǒng)噪聲已成為模擬和數(shù)字設(shè)備的關(guān)鍵問(wèn)題。對(duì)高速接口和低功耗的要求導(dǎo)致設(shè)備對(duì)來(lái)自電源和信號(hào)線的干擾很敏感。
MLCC具有體積小、電容量大、高頻使用時(shí)損失率低、適合大量生產(chǎn)、價(jià)格低廉及穩(wěn)定性高等特性。在信息產(chǎn)品講求輕、薄、短、小的發(fā)展趨勢(shì)及表面貼裝技術(shù)(SMT)...
MLCC(多層陶瓷電容器)是一種常見(jiàn)的電子元器件,廣泛用于電子設(shè)備中的電源、濾波、耦合等電路中。MLCC的制造工藝有幾個(gè)關(guān)鍵步驟,包括材料準(zhǔn)備、制備陶瓷...
隨著人們對(duì)電子設(shè)備的需求趨于平靜,在筆記本電腦、手機(jī)、數(shù)碼相機(jī) (DSC) 等各種應(yīng)用設(shè)備的電源電路方面,以前未引起重視的由電容器振動(dòng)所產(chǎn)生的“嘯叫”問(wèn)...
多層陶瓷電容器(MLCC)是微波組件或模塊中常用元件。由于組件或模塊的體積較小,數(shù)量小、品種多、結(jié)構(gòu)復(fù)雜,元器件的裝聯(lián)不適用鋼版印刷涂膠、自動(dòng)貼片等工藝...
對(duì)于外部缺陷,通常采用顯微鏡下人工目測(cè)法或自動(dòng)外觀分選設(shè)備進(jìn)行檢測(cè)。然而,內(nèi)部微小缺陷一直是MLCC檢測(cè)的難點(diǎn)之一,它嚴(yán)重影響到產(chǎn)品的可靠性,但卻難以發(fā)...
當(dāng)溫度發(fā)生變化時(shí),過(guò)量的焊錫在貼片電容上產(chǎn)生很高的張力,會(huì)使電容內(nèi)部斷裂或者電容器脫帽,裂紋一般發(fā)生在焊錫少的一側(cè);焊錫量過(guò)少會(huì)造成焊接強(qiáng)度不足,電容從...
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