近場測量特別適合進行組件和設備開發的工程師使用，他們使用近場測量來獲得干擾發射原因的重要數據。近場測量方法得到的信息和這些數據，能定位干擾源，從而采取相應措施以減少電磁干擾。

與EN55022和EN55011輻射標準相對應的超標條件，近場測量是開發人員的核心出發點。開發人員都知道采用天線進行干擾標準測試或預規性遠場測量是比較麻煩的。近場分析是減少輻射干擾一個實用的方式，通過它找到干擾源并得到合適的應對措施，特別適合在產品開發期間探測PCB 板的電磁場情況。

EMC標準認證測試，是遠場測試。遠場測試能給出頻率信息，即哪些頻點超標了，但是沒有位置信息。為了通過測試，需要從源頭上來采取措施，所以需要應用近場測量來尋找干擾源。通過電子電路的開關和充電電流導致模塊遠場干擾超限。根據模塊的特定諧振特性，通過引起的超限干擾，這些電流在遠場產生特定頻率的負效應，即像“天線”一樣，通過電流或場束耦合機制，干擾源傳送到諧振導體系統和結構組件。

近場分析的初衷是要得到一個理想的磁場分布，這非常必要。EM5030LF,EM5030,EM5030E,NFP3,都可以適用。

近場測試使其成為可能：

1、在關鍵的模擬應用中具有重要的頻率測量，確定輻射器件、結構部件和/或設計結構;

2、確定部件和布局區域的磁場方向和強度;

3、毗鄰顯示器和插頭連接器，檢測模塊的磁性耦合;

4、在模塊附近測量磁場。

要跟蹤干擾來源，在模塊上確定具有干擾頻率的電流路徑并追尋他們，這非常必要，如果有必要的話，還可到集成電路的管腳。

近場探頭用來做什么?

1、定位具有快速沿的引線和引腳，如時鐘線和總線驅動;

2、評估IC電路的旁路電容，如終端電感;

3、評估引線上的濾波措施，如總線引線;

4、主要應用于查找干擾源，判定干擾產生的原因;

5、檢測器件或者是表面的磁場方向及強度;

6、檢測磁場相合的通道，從而調整連接器或者顯示器位置;

7、檢測模塊附近的磁場環境情況。

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審核編輯?黃宇