Application of Optics and Electrics Technology in Small Particle s Measurement

SUN Hao

(College of Electrical Engineering, University of Shanghai for Science and Technology, Shanghai 200093, China)

　　Key words: laser; optics and electrics conversion; interface te chnology

　　雖然測量微小顆粒的方法很多，如顯微鏡法、沉降法等，但是用光學的方法測量具有更多優點：
　　(1)由于光的透射性，可以實現非接觸測量；(2)光電轉換頻響時間很短，且可與計算機配合使用；(3)對被測微小顆粒的物理特性(密度、粘度等)要求低；(4)適用固體、液體及氣體。
　　本裝置用光學中光的夫瑯和費衍射現象測量顆粒。根據夫瑯和費衍射的理論，當一束平行光照射到測量區中的顆粒群時，便會產生光的衍射現象，因此，衍射光的強度分布與測量區中被照射的顆粒直徑和顆粒數有關。圖1是微小顆粒測量的示意圖。

　　
式中，I0為平行入射光強度；f為接收透鏡的焦距；λ為入射光的波長；X=πdsinθ/λ，θ為衍射角，當衍射角比較小時，sinθ=θ；J1為一階Bessel函數。
　　從式(1)可知，在其他參數不變的情況下，I(θ)的大小與被照射的顆粒的粒徑d有一定的對應關系，粒徑越大衍射光的強度越大。衍射圖形與顆粒直徑之間存在著完全確定的對應關系。由于我們所用的是光電探測器，因此，對于光電探測器的第n環(設環半徑從rn～rn+1對應的衍射角從θn到θn+1)，其光能量為
　　
　

　
　　實際測量區中的顆粒數往往很多，而且所有顆粒的粒徑大小又不同。設顆粒直徑為di，顆粒有Ni個，這時光電探測器每一環的衍射光能量為：
　
　　探測器有30環，對其中每一環都可按式(6)寫出其衍射光能，e1、e2…e30。反之，如果光電探測器能探測到e1、e2…e30各環光能，就能算出與這個光能分布相對應的顆粒尺寸。以上所述就是用光的衍射理論，測量微小顆粒粒徑及顆粒分布的方法。

• 光電技術(13413) 光電技術(13413)