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基于測(cè)試系統(tǒng)的FPGA測(cè)試方法研究與實(shí)現(xiàn) - 全文

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2025-10-22 17:21:384118

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2019-07-11 06:15:12

如何實(shí)現(xiàn)自動(dòng)重復(fù)配置和 FPGA 測(cè)試?

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2021-04-08 06:14:46

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通用測(cè)試系統(tǒng)是如何組成的?如何實(shí)現(xiàn)通用測(cè)試系統(tǒng)的硬件設(shè)計(jì)?如何實(shí)現(xiàn)通用測(cè)試系統(tǒng)的軟件設(shè)計(jì)?
2021-04-14 06:47:55

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2021-04-30 06:13:48

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2010-12-14 10:07:1216

FPGA系統(tǒng)內(nèi)部邏輯在線測(cè)試技術(shù)

隨著FPGA設(shè)計(jì)復(fù)雜度的增加,傳統(tǒng)測(cè)試方法受到限制。在高速集成FPGA測(cè)試中,其內(nèi)部信號(hào)的實(shí)時(shí)獲取和分析比較困難。介紹了Quartus II中SingalTap II嵌入式邏輯分析器的使用,并給出一個(gè)
2010-12-17 15:25:1716

IPM自動(dòng)測(cè)試平臺(tái)的研究實(shí)現(xiàn)

摘 要: IPM測(cè)試需要測(cè)試多個(gè)參數(shù),這些不同的參數(shù)需要不同的測(cè)試平臺(tái)。本文通過(guò)對(duì)各種不同參數(shù)的測(cè)試方法進(jìn)行研究,設(shè)計(jì)并實(shí)現(xiàn)了自動(dòng)測(cè)試平臺(tái)。問(wèn)題的提出火車
2006-03-11 13:45:291145

采用FPGA低成本虛擬測(cè)試系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)

      本文選用FPGA實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)處理、邏輯控制,充分利用PC機(jī),結(jié)合Labwindows圖形化上層應(yīng)用軟件界面生成的虛擬測(cè)試系統(tǒng)具有較強(qiáng)的競(jìng)爭(zhēng)力。本系統(tǒng)FPGA單板
2009-02-12 11:49:27778

基于IEEE1149.4的測(cè)試方法研究

基于IEEE1149.4的測(cè)試方法研究 根據(jù)混合信號(hào)邊界掃描測(cè)試的工作機(jī)制,提出了符合1149.4標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試方法,并用本研究室開發(fā)的混合信號(hào)邊界掃描測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行了測(cè)試
2009-05-04 22:29:181344

基于IEEE1149.4的測(cè)試方法研究

根據(jù)混合信號(hào)邊界掃描測(cè)試的工作機(jī)制,提出了符合1149.4標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試方法,并用本研究室開發(fā)的混合信號(hào)邊界掃描測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行了測(cè)試驗(yàn)證。
2009-05-09 11:42:12728

FPGA 重復(fù)配置和測(cè)試實(shí)現(xiàn)

FPGA 重復(fù)配置和測(cè)試實(shí)現(xiàn) 從制造的角度來(lái)講,FPGA測(cè)試是指對(duì)FPGA器件內(nèi)部的邏輯塊、可編程互聯(lián)線、輸入輸出塊等資源的檢測(cè)。完整的FPGA測(cè)試包括
2009-09-03 11:17:08725

新型耐壓測(cè)試系統(tǒng)研究

新型耐壓測(cè)試系統(tǒng)研究 介紹由工業(yè)PC控制的且符合IEC61010標(biāo)準(zhǔn)的耐壓測(cè)試系統(tǒng)。系統(tǒng)由程控電源、測(cè)試回路、信號(hào)采樣/調(diào)理電路和數(shù)據(jù)采集接口
2009-10-12 23:39:131275

基于FPGA的PCB測(cè)試機(jī)硬件電路設(shè)計(jì)研究

基于FPGA的PCB測(cè)試機(jī)硬件電路設(shè)計(jì)研究  引言   PCB 光板測(cè)試機(jī)基本的測(cè)試原理是歐姆定律,其測(cè)試方法是將待測(cè)試點(diǎn)間加一定的測(cè)試電壓,用譯碼電路選中PCB
2010-01-04 09:12:331227

FPGA重復(fù)配置和測(cè)試實(shí)現(xiàn)

FPGA重復(fù)配置和測(cè)試實(shí)現(xiàn) 從制造的角度來(lái)講,FPGA測(cè)試是指對(duì)FPGA器件內(nèi)部的邏輯塊、可編程互聯(lián)線、輸入輸出塊等資源的檢測(cè)。完整的FPGA測(cè)試包括兩步,一是配置FPGA
2010-01-26 09:39:56690

基于FPGA的新型誤碼測(cè)試儀的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)

基于FPGA的新型誤碼測(cè)試儀的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn) 本文設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)了一種用于測(cè)量基帶傳輸信道的誤碼儀,闡述了主要模塊的工作原理,提出了一種新的積分鑒相同步時(shí)鐘提取的實(shí)
2010-02-09 10:42:011172

基站發(fā)射系統(tǒng)匹配測(cè)試方法研究

基站發(fā)射系統(tǒng)匹配測(cè)試方法研究 基站發(fā)射系統(tǒng)是移動(dòng)通信系統(tǒng)的重要組成部分,其性能優(yōu)劣對(duì)整體移動(dòng)通信質(zhì)量的影響至關(guān)重要。根據(jù)移動(dòng)網(wǎng)運(yùn)行質(zhì)量統(tǒng)計(jì)結(jié)果分析,
2010-01-06 14:18:291241

基于SoPC的FPGA在線測(cè)試方法

本文提出了一種基于SoPC的FPGA在線測(cè)試方法,是對(duì)現(xiàn)有FPGA在線測(cè)試方法的一種有效的補(bǔ)充。
2011-04-18 11:46:201551

模擬電路中常用檢測(cè)儀器及測(cè)試方法研究

模擬電路中常用檢測(cè)儀器及測(cè)試方法研究介紹了 模擬電路 中常用檢測(cè)儀器的性能特征以及在電路故障診斷中儀器的測(cè)試方法。在電路故障檢測(cè)中,正確的測(cè)試方法可以大大提高操作人
2011-07-24 11:46:22101

基于FPGA系統(tǒng)測(cè)試性的研究

本文就調(diào)試FPGA系統(tǒng)時(shí)遇到的問(wèn)題及有助于提高調(diào)試效率的方法,針對(duì)Altera和Xilinx的FPGA調(diào)試提供了最新的方法和工具。
2011-09-27 14:28:391197

基于軟件測(cè)試技術(shù)的FPGA測(cè)試研究

基于對(duì)FPGA系統(tǒng)失效機(jī)理的深入分析, 提出了軟件測(cè)試技術(shù)在FPGA測(cè)試中的應(yīng)用, 并分析了其可行性; 通過(guò)對(duì)比FPGA與軟件系統(tǒng)的異同, 歸納出FPGA特有的測(cè)試要求,從而在軟件測(cè)試技術(shù)的基礎(chǔ)
2011-09-29 17:41:2165

一種基于FPGA的新型誤碼測(cè)試儀的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)

誤碼儀是評(píng)估信道性能的基本測(cè)量?jī)x器。本文介紹的誤碼儀結(jié)合FPGA 的特點(diǎn),采用全新的積分式鑒相結(jié)構(gòu),提出了一種新的誤碼測(cè)試方法,經(jīng)多次測(cè)試驗(yàn)證,方案可行,設(shè)計(jì)的系統(tǒng)穩(wěn)定。
2012-05-02 14:31:021291

基于FPGA的低成本虛擬測(cè)試系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)

傳統(tǒng)測(cè)試測(cè)量?jī)x存在價(jià)格昂貴、體積龐大、數(shù)據(jù)傳輸速率低、存儲(chǔ)顯示困難等問(wèn)題,本文選用FPGA實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)處理、邏輯控制,充分利用PC機(jī),結(jié)合Labwindows圖形化上層應(yīng)用軟件界面生成的虛
2012-05-15 10:45:071224

FPGA自動(dòng)化測(cè)試難度凸顯

本文核心提示: 隨著FPGA接口的速度提高,高速接口的測(cè)試、PCB板級(jí)的測(cè)試、EMI/EMC的測(cè)試等,這些測(cè)試的難度會(huì)越來(lái)越突出。想要實(shí)現(xiàn)FPGA的自動(dòng)化測(cè)試的話,就需要提高軟件的可控性和
2012-08-27 10:09:081243

伺服及變頻驅(qū)動(dòng)環(huán)境下測(cè)試系統(tǒng)抗干擾理論和方法研究

伺服及變頻驅(qū)動(dòng)環(huán)境下測(cè)試系統(tǒng)抗干擾理論和方法研究,有興趣的同學(xué)可以下載學(xué)習(xí)
2016-04-26 18:16:4221

基于FPGA的ADC指標(biāo)測(cè)量及測(cè)試系統(tǒng)

基于FPGA的ADC指標(biāo)測(cè)量及測(cè)試系統(tǒng)。
2016-05-10 11:47:1314

基于位流回讀的Virtex_內(nèi)嵌BRAM的測(cè)試方法研究

基于位流回讀的Virtex_內(nèi)嵌BRAM的測(cè)試方法研究_閻哲
2017-01-07 18:56:131

基于反熔絲的FPGA測(cè)試方法

基于反熔絲的FPGA測(cè)試方法_馬金龍
2017-01-07 19:08:432

汽車ECU測(cè)試系統(tǒng)研究實(shí)現(xiàn)_莫太平

汽車ECU測(cè)試系統(tǒng)研究實(shí)現(xiàn)_莫太平
2017-01-19 21:54:1514

基于LabVIEW與FPGA的飛行訓(xùn)練彈測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)_劉克軒

基于LabVIEW與FPGA的飛行訓(xùn)練彈測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)_劉克軒
2017-02-07 18:22:066

APU外部件自動(dòng)測(cè)試方法研究_羅云林

APU外部件自動(dòng)測(cè)試方法研究_羅云林
2017-01-31 21:14:561

IT硬件能耗測(cè)試方法應(yīng)用研究_黃植勤

IT硬件能耗測(cè)試方法應(yīng)用研究_黃植勤
2017-03-19 11:27:342

STUN協(xié)議的實(shí)現(xiàn)原理及測(cè)試方法研究_吳任國(guó)

STUN協(xié)議的實(shí)現(xiàn)原理及測(cè)試方法研究_吳任國(guó)
2017-03-19 11:28:020

基于FPGA技術(shù)在車載測(cè)試系統(tǒng)中的應(yīng)用

性能??紤]到測(cè)試空間、預(yù)算等因素,廠商也希望能夠用一個(gè)集成的并且高度可靠的測(cè)試系統(tǒng)替代這些不同的分立測(cè)試設(shè)備,以期根據(jù)具體應(yīng)用定義功能,同時(shí)又能滿足測(cè)試環(huán)境和技術(shù)指標(biāo)的要求。 現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列FPGA(Field Prog
2017-09-05 14:38:311

基于magnumII測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試技術(shù)研究

基于magnumII測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試技術(shù)研究,提出了采用magnumII測(cè)試系統(tǒng)的APG及其他模塊實(shí)現(xiàn)對(duì)MRAMVDMR8M32進(jìn)行電性測(cè)試及功能測(cè)試。
2017-09-19 08:49:2624

基于DSP的FPGA配置方法研究實(shí)現(xiàn)

基于DSP的FPGA配置方法研究實(shí)現(xiàn)
2017-10-19 16:15:1936

針對(duì)FPGA可編程邏輯模塊的離線BIST測(cè)試方法

隨著FPGA在現(xiàn)代電子系統(tǒng)中應(yīng)用的不斷增多.FPGA測(cè)試技術(shù)也得到非??斓陌l(fā)展。其中,內(nèi)建白測(cè)試(BIST)的方法已經(jīng)成為一種主流的解決方案。BIST方法一般來(lái)說(shuō)可以分為兩大類,一類是離線BIST
2017-11-08 14:21:461

基于FPGA的軟硬件協(xié)同測(cè)試設(shè)計(jì)影響因素分析與設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)

,不利于硬件的開發(fā)進(jìn)度。面對(duì)這一難題,文章從FPGA 的軟硬件協(xié)同測(cè)試角度出發(fā),利用PC 機(jī)和測(cè)試硬件設(shè)備的特點(diǎn),進(jìn)行FPGA 的軟硬件協(xié)同測(cè)試的設(shè)計(jì),努力實(shí)現(xiàn)FPGA 的軟硬件協(xié)調(diào)測(cè)試系統(tǒng)在軟硬件的測(cè)試和分析中的應(yīng)用。
2017-11-18 05:46:282320

以功能建模為基礎(chǔ)的含FPGA電路板測(cè)試方法研究過(guò)程詳解

FPGA 具有高速度、高集成度,可重復(fù)編程的特點(diǎn),將其用于電路系統(tǒng)設(shè)計(jì),可簡(jiǎn)化電路設(shè)計(jì),增強(qiáng)電路功能。而作為電路系統(tǒng)的“中樞控制神經(jīng)”,FPGA 的故障會(huì)引起整個(gè)電路系統(tǒng)的癱瘓,而用一般的測(cè)試方法很難對(duì)其實(shí)施故障測(cè)試診斷。
2018-07-18 14:37:001827

基于SRAM結(jié)構(gòu)FPGA邏輯資源的測(cè)試編程

隨著現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列( FPGA)芯片在商業(yè)、軍事、航空航天等領(lǐng)域越來(lái)越廣泛的應(yīng)用,其可靠性和可測(cè)試性也顯得尤為重要。本文介紹一種基于SRAM結(jié)構(gòu)FPGA邏輯資源的測(cè)試編程方法,并以Xilinx公司的XC4000系列為例,在BC3192V50數(shù)模混合集成電路測(cè)試系統(tǒng)上,通過(guò)從串模式,實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)的配置和測(cè)試。
2017-11-23 14:48:025903

FPGA配置與測(cè)試的詳細(xì)方法分析與特點(diǎn)

從制造的角度來(lái)講,FPGA測(cè)試是指對(duì)FPGA器件內(nèi)部的邏輯塊、可編程互聯(lián)線、輸入輸出塊等資源的檢測(cè)。完整的FPGA測(cè)試包括兩步,一是配置FPGA、然后是測(cè)試FPGA,配置FPGA是指將FPGA通過(guò)將
2017-11-24 20:55:538774

幾種常用的單片機(jī)系統(tǒng)RAM測(cè)試方法研究

針對(duì)性地介紹了幾種常用的單片機(jī)系統(tǒng)RAM測(cè)試方法,并在其基礎(chǔ)上提出了一種基于種子和逐位倒轉(zhuǎn)的RAM故障測(cè)試方法。 1 RAM測(cè)試方法回顧 (1)方法1 參考文獻(xiàn)中給出了一種測(cè)試系統(tǒng)RAM的方法。該方法是分兩步來(lái)檢查,先后向整個(gè)數(shù)據(jù)區(qū)
2017-12-02 09:07:57992

面向源代碼的導(dǎo)向Concolic測(cè)試方法研究

軟件測(cè)試是發(fā)現(xiàn)程序中錯(cuò)誤或缺陷的重要方法,隨著程序規(guī)模及復(fù)雜性的增加,如何全面高效地測(cè)試程序代碼一直是業(yè)內(nèi)的研究熱點(diǎn)。雖然人工審計(jì)、靜態(tài)分析和動(dòng)態(tài)測(cè)試技術(shù)在安全領(lǐng)域有著廣泛應(yīng)用,但結(jié)合了靜態(tài)分析
2018-01-15 10:06:170

基于軟件測(cè)試技術(shù)的FPGA測(cè)試研究[圖]

摘要: 基于對(duì)FPGA系統(tǒng)失效機(jī)理的深入分析,提出了軟件測(cè)試技術(shù)在FPGA測(cè)試中的應(yīng)用,并分析了其可行性;通過(guò)對(duì)比FPGA與軟件系統(tǒng)的異同,歸納出FPGA特有的測(cè)試要求,從而在軟件測(cè)試技術(shù)的基礎(chǔ)上
2018-01-19 22:34:593023

FPGA測(cè)試系統(tǒng)中有哪四種典型應(yīng)用

FPGA可以通過(guò)專享的硬件資源進(jìn)行處理數(shù)據(jù),從而實(shí)現(xiàn)較高的吞吐率,可以比通過(guò)I/O硬件先獲取數(shù)據(jù)再通過(guò)軟件執(zhí)行數(shù)據(jù)處理的速率更快。結(jié)合FPGA技術(shù)的測(cè)試系統(tǒng),不是按照傳統(tǒng)意義上的“采集、數(shù)據(jù)傳輸
2018-10-07 11:47:475640

基于FPGA的PCB測(cè)試機(jī)如何去設(shè)計(jì)硬件電路

基于FPGA的PCB測(cè)試機(jī)的硬件控制系統(tǒng),提高了PCB測(cè)試機(jī)的測(cè)試速度、簡(jiǎn)化電路的設(shè)計(jì)。
2020-04-01 17:56:562884

基于FPGA的PCB怎樣來(lái)測(cè)試

 基于FPGA的PCB測(cè)試機(jī)的硬件控制系統(tǒng),提高了PCB測(cè)試機(jī)的測(cè)試速度、簡(jiǎn)化電路的設(shè)計(jì)。
2019-10-23 15:15:452901

采用FPGA器件實(shí)現(xiàn)基站模擬測(cè)試系統(tǒng)的應(yīng)用方案

在基站的模擬測(cè)試系統(tǒng)中,終端控制子系統(tǒng)負(fù)責(zé)生成上行測(cè)試數(shù)據(jù)并將其發(fā)送到被測(cè)基帶板,測(cè)試基帶板上行接收的功能及性能;同時(shí)根據(jù)后臺(tái)控制采集下行發(fā)射的基帶數(shù)據(jù)并送后臺(tái)進(jìn)行分析,測(cè)試其發(fā)射功能。而FPGA部分屬于終端控制子系統(tǒng)的前臺(tái)部分,負(fù)責(zé)IQ數(shù)據(jù)的發(fā)送及采集,基帶測(cè)試板的功能主要在這里面實(shí)現(xiàn)
2020-08-07 17:53:521482

基于FPGA實(shí)現(xiàn)及硬件測(cè)試介紹

的鎖定、編譯適配下載到FPGA芯片,實(shí)現(xiàn)所設(shè)計(jì)的帶寬自適應(yīng)全數(shù)字鎖相環(huán),并完成硬件測(cè)試。在硬件測(cè)試中需要用到信號(hào)發(fā)生器和示波器,信號(hào)發(fā)生器用來(lái)產(chǎn)生鎖相環(huán)的輸入測(cè)試信號(hào),示波器用來(lái)觀測(cè)鎖相環(huán)的輸入/輸出波形。圖7為輸入信號(hào)Phi_ref取不同頻率時(shí)的實(shí)測(cè)波形。
2020-08-21 10:55:003048

晶閘管參數(shù)的自動(dòng)測(cè)試方法研究實(shí)現(xiàn)

本文著重分析晶閘管直流參數(shù)的測(cè)試方法,并實(shí)現(xiàn)其自動(dòng)化測(cè)試。本文首先 詳細(xì)分析了晶閘管的各個(gè)直流參數(shù)的測(cè)量方法,并給出了各個(gè)參數(shù)相應(yīng)的測(cè)試電 路原理圖。其次,本文介紹了測(cè)試平臺(tái)的硬件總體構(gòu)成和軟件
2022-07-05 17:49:242

基于模糊測(cè)試方法實(shí)現(xiàn)車載通信測(cè)試

作者|J小編|吃不飽模糊測(cè)試是網(wǎng)絡(luò)安全測(cè)試領(lǐng)域必然會(huì)被提及的一類測(cè)試方法。它有著極其鮮明的特點(diǎn),包括極低的需求依賴性、可逆向的測(cè)試理念等,與常規(guī)測(cè)試方法顯得是那么的“風(fēng)格迥異”。但同時(shí),這種測(cè)試方法
2022-09-15 11:09:061246

FPGA測(cè)試面臨哪些挑戰(zhàn)?測(cè)試方案是什么?

點(diǎn)擊上方 藍(lán)字 關(guān)注我們 大容量、高速率和低功耗已成為FPGA的發(fā)展重點(diǎn)。 嵌入式邏輯分析工具無(wú)法滿足通用性要求,外部測(cè)試工具可以把FPGA內(nèi)部信號(hào)與實(shí)際電路聯(lián)合起來(lái)觀察系統(tǒng)真實(shí)運(yùn)行情況。 隨著
2023-10-23 15:20:011956

基于ARM9平臺(tái)和FPGA的1553B總線測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)

電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《基于ARM9平臺(tái)和FPGA的1553B總線測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn).pdf》資料免費(fèi)下載
2023-11-08 10:10:291

性能測(cè)試實(shí)現(xiàn)方法是什么

性能測(cè)試是一種評(píng)估軟件系統(tǒng)在不同負(fù)載下性能表現(xiàn)的測(cè)試方法。它可以幫助開發(fā)團(tuán)隊(duì)發(fā)現(xiàn)性能瓶頸,優(yōu)化系統(tǒng)性能,確保軟件在實(shí)際運(yùn)行中能夠滿足用戶需求。本文將詳細(xì)介紹性能測(cè)試實(shí)現(xiàn)方法,包括性能測(cè)試的目的
2024-05-29 15:44:101504

Verilog 測(cè)試平臺(tái)設(shè)計(jì)方法 Verilog FPGA開發(fā)指南

Verilog測(cè)試平臺(tái)設(shè)計(jì)方法是Verilog FPGA開發(fā)中的重要環(huán)節(jié),它用于驗(yàn)證Verilog設(shè)計(jì)的正確性和性能。以下是一個(gè)詳細(xì)的Verilog測(cè)試平臺(tái)設(shè)計(jì)方法及Verilog FPGA開發(fā)
2024-12-17 09:50:061630

FPGA測(cè)試DDR帶寬跑不滿的常見原因及分析方法

FPGA測(cè)試 DDR 帶寬時(shí),帶寬無(wú)法跑滿是常見問(wèn)題。下面我將從架構(gòu)、時(shí)序、訪問(wèn)模式、工具限制等多個(gè)維度,系統(tǒng)梳理導(dǎo)致 DDR 帶寬跑不滿的常見原因及分析方法。
2025-10-15 10:17:41735

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