深入解析FQP45N15V2/FQPF45N15V2 N-Channel QFET? MOSFET
一、公司背景與產(chǎn)品變更
Fairchild半導(dǎo)體現(xiàn)已成為ON Semiconductor的一部分。由于系統(tǒng)要求,F(xiàn)airchild部分可訂購(gòu)的產(chǎn)品編號(hào)需要變更,原編號(hào)中的下劃線 “_” 將替換為破折號(hào) “-”。大家可訪問ON Semiconductor官網(wǎng)(www.onsemi.com)核實(shí)更新后的設(shè)備編號(hào)。
文件下載:FQPF45N15V2-D.pdf
二、產(chǎn)品概述
FQP45N15V2 / FQPF45N15V2是一款N - Channel增強(qiáng)型功率MOSFET,采用Fairchild Semiconductor專有的平面條紋和DMOS技術(shù)制造。這種先進(jìn)的MOSFET技術(shù)旨在降低導(dǎo)通電阻,提供卓越的開關(guān)性能和高雪崩能量強(qiáng)度,適用于開關(guān)模式電源、音頻放大器、直流電機(jī)控制和可變開關(guān)電源等應(yīng)用。
三、產(chǎn)品特性
3.1 電氣特性
- 高電流與耐壓:可承受45 A的連續(xù)電流((T{C}=25^{circ}C)),耐壓達(dá)150 V,導(dǎo)通電阻 (R{DS(on)}) 最大為40 mΩ((V{GS}=10 V),(I{D}=22.5 A))。
- 低柵極電荷與電容:典型柵極電荷為72 nC,反向傳輸電容 (C_{rss}) 典型值為135 pF,有助于降低開關(guān)損耗。
- 雪崩測(cè)試:經(jīng)過100%雪崩測(cè)試,具備良好的雪崩能量強(qiáng)度。
3.2 熱特性
| 符號(hào) | 參數(shù) | FQP45N15V2 | FQPF45N15V2 | 單位 |
|---|---|---|---|---|
| (R_{θJC}) | 結(jié)到外殼的熱阻(最大) | 0.68 | 2.25 | °C / W |
| (R_{θCS}) | 外殼到散熱器的熱阻(典型) | 0.5 | -- | °C / W |
| (R_{θJA}) | 結(jié)到環(huán)境的熱阻(最大) | 62.5 | 62.5 | °C / W |
四、絕對(duì)最大額定值
| 符號(hào) | 參數(shù) | FQP45N15V2 | FQPF45N15V2 | 單位 |
|---|---|---|---|---|
| (V_{DSS}) | 漏源電壓 | 150 | V | |
| (I_{D}) | 連續(xù)漏極電流((T_{C}=25^{circ}C)) | 45 | 45* | A |
| 連續(xù)漏極電流((T_{C}=100^{circ}C)) | 31 | 31* | A | |
| (I_{DM}) | 脈沖漏極電流 | 180 | 180* | A |
| (V_{GSS}) | 柵源電壓 | ± 30 | V | |
| (E_{AS}) | 單脈沖雪崩能量 | 1124 | mJ | |
| (I_{AR}) | 雪崩電流 | 45 | A | |
| (E_{AR}) | 重復(fù)雪崩能量 | 22 | mJ | |
| (dv/dt) | 峰值二極管恢復(fù) (dv/dt) | 4.5 | V/ns | |
| (P_{D}) | 功率耗散((T_{C}=25^{circ}C)) | 220 | 66 | W |
| 25°C以上降額 | 1.47 | 0.44 | W/°C | |
| (T{J}, T{STG}) | 工作和存儲(chǔ)溫度范圍 | -55 to +150 | °C | |
| (T_{L}) | 焊接時(shí)最大引腳溫度(距外殼1/8 ",5秒) | 300 | °C |
注:* 漏極電流受最大結(jié)溫限制。
五、典型特性曲線
文檔中給出了多個(gè)典型特性曲線,包括導(dǎo)通區(qū)域特性、導(dǎo)通電阻隨漏極電流和柵極電壓的變化、電容特性、轉(zhuǎn)移特性、體二極管正向電壓隨源極電流和溫度的變化、柵極電荷特性、擊穿電壓隨溫度的變化、導(dǎo)通電阻隨溫度的變化、最大安全工作區(qū)、最大漏極電流隨外殼溫度的變化以及瞬態(tài)熱響應(yīng)曲線等。這些曲線有助于工程師全面了解器件在不同工作條件下的性能。
六、測(cè)試電路與波形
文檔還提供了多種測(cè)試電路和波形,如柵極電荷測(cè)試電路、電阻性開關(guān)測(cè)試電路、無鉗位電感開關(guān)測(cè)試電路和峰值二極管恢復(fù) (dv/dt) 測(cè)試電路等。這些測(cè)試電路和波形對(duì)于驗(yàn)證器件性能和進(jìn)行電路設(shè)計(jì)具有重要參考價(jià)值。
七、機(jī)械尺寸
分別給出了TO - 220和TO - 220F兩種封裝的機(jī)械尺寸圖,并提供了相關(guān)的尺寸說明和注意事項(xiàng)。工程師在進(jìn)行PCB設(shè)計(jì)時(shí),需要根據(jù)這些尺寸信息合理布局器件。
八、商標(biāo)與免責(zé)聲明
文檔中列出了Fairchild Semiconductor及其全球子公司擁有的眾多商標(biāo)。同時(shí),強(qiáng)調(diào)了公司對(duì)產(chǎn)品的相關(guān)免責(zé)聲明,包括有權(quán)隨時(shí)更改產(chǎn)品設(shè)計(jì)、不承擔(dān)產(chǎn)品應(yīng)用或使用中的任何責(zé)任、不授予專利許可等。此外,明確指出產(chǎn)品不適合用于生命支持系統(tǒng)或FDA Class 3醫(yī)療設(shè)備等特定應(yīng)用。
九、產(chǎn)品狀態(tài)定義
文檔對(duì)產(chǎn)品狀態(tài)進(jìn)行了定義,包括提前信息(設(shè)計(jì)中)、初步(首次生產(chǎn))、無標(biāo)識(shí)(全面生產(chǎn))和過時(shí)(停產(chǎn))等狀態(tài),并說明了不同狀態(tài)下數(shù)據(jù)手冊(cè)的特點(diǎn)和公司的相關(guān)權(quán)利。
作為電子工程師,在使用FQP45N15V2 / FQPF45N15V2 MOSFET進(jìn)行設(shè)計(jì)時(shí),需要充分了解上述各項(xiàng)特性和參數(shù),結(jié)合具體應(yīng)用需求進(jìn)行合理選型和電路設(shè)計(jì)。大家在實(shí)際應(yīng)用中遇到過哪些關(guān)于MOSFET的問題呢?歡迎在評(píng)論區(qū)分享交流。
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