Onsemi HUF75639系列N溝道功率MOSFET:高效節(jié)能的理想之選
在電子設備的設計中,功率MOSFET作為關鍵的功率開關元件,對于提升設備的性能和效率起著至關重要的作用。今天,我們就來深入了解一下Onsemi公司推出的HUF75639G3、HUF75639P3、HUF75639S3S和HUF75639S3這一系列N溝道功率MOSFET。
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產品概述
HUF75639系列采用了創(chuàng)新的Ultrafet工藝制造,該先進工藝技術能夠在單位硅面積上實現(xiàn)盡可能低的導通電阻,從而帶來出色的性能表現(xiàn)。這些MOSFET能夠承受雪崩模式下的高能量,并且其二極管具有極短的反向恢復時間和低存儲電荷,非常適合用于對功率效率要求較高的應用場景,如開關穩(wěn)壓器、開關轉換器、電機驅動器、繼電器驅動器、低壓總線開關以及便攜式和電池供電產品的電源管理等。
產品特性
電氣性能卓越
- 高電流承載能力:能夠提供高達56A的連續(xù)漏極電流,可滿足多種高功率應用的需求。
- 耐壓能力強:漏源電壓(VDSS)可達100V,確保在較高電壓環(huán)境下穩(wěn)定工作。
- 低導通電阻:在ID = 56A、VGS = 10V的條件下,漏源導通電阻(RDS(on))典型值為25mΩ,有助于降低功率損耗,提高效率。
具備多種仿真模型
- 溫度補償模型:提供溫度補償?shù)腜SPICE?和SABER?電氣模型,以及Spice和Saber熱阻抗模型,方便工程師在設計階段進行精確的電路仿真和熱分析。
- 特性曲線參考:包含峰值電流與脈沖寬度曲線、UIS額定曲線等,為工程師提供了全面的性能參考。
環(huán)保合規(guī)
這些器件符合無鉛、無鹵素/BFR-free標準,并且滿足RoHS指令要求,符合環(huán)保理念。
封裝形式
HUF75639系列提供了多種封裝形式,包括TO - 247 - 3LD、TO - 220 - 3LD、D2PAK - 3和I2PAK,以滿足不同應用場景和設計需求。每種封裝都有其特定的尺寸和引腳布局,工程師可以根據(jù)實際情況進行選擇。
TO - 247 - 3LD封裝
適用于需要較高功率散熱的應用,其尺寸較大,能夠提供更好的散熱性能。
TO - 220 - 3LD封裝
是一種常見的封裝形式,具有較好的通用性和散熱能力,廣泛應用于各種電子設備中。
D2PAK - 3封裝
體積較小,適合對空間要求較高的應用場景,同時也具備一定的散熱性能。
I2PAK封裝
同樣具有較小的體積,并且在散熱和電氣性能方面取得了較好的平衡。
絕對最大額定值
| 在使用HUF75639系列MOSFET時,需要注意其絕對最大額定值,以確保器件的安全可靠運行。以下是一些關鍵的絕對最大額定值參數(shù): | 參數(shù) | 符號 | 額定值 | 單位 |
|---|---|---|---|---|
| 漏源電壓 | VDSS | 100 | V | |
| 漏柵電壓(RGS = 20k) | VDGR | 100 | V | |
| 柵源電壓 | VGS | ±20 | V | |
| 連續(xù)漏極電流 | ID | 56 | A | |
| 脈沖漏極電流 | IDM | 見曲線 | A | |
| 脈沖雪崩額定值 | EAS | 見曲線 | - | |
| 功率耗散 | PD | 200 | W | |
| 功率耗散降額(25°C以上) | - | 1.35 | W/°C | |
| 工作和存儲溫度 | TJ、TSTG | -55 to 175 | °C | |
| 引腳焊接最大溫度(距外殼0.063in,10s) | TL | 300 | °C | |
| 封裝本體焊接最大溫度(10s) | Tpkg | 260 | °C |
需要注意的是,超過這些最大額定值可能會損壞器件,影響其功能和可靠性。
電氣規(guī)格
關斷狀態(tài)規(guī)格
- 漏源擊穿電壓(BVDSS):在ID = 250μA、VGS = 0V的條件下,最小值為100V。
- 零柵壓漏極電流(IDSS):在VDS = 95V、VGS = 0V時,最大值為1μA;在VDS = 90V、VGS = 0V、TC = 150°C時,最大值為250μA。
- 柵源泄漏電流(IGSS):在VGS = ±20V時,最大值為±100nA。
導通狀態(tài)規(guī)格
- 柵源閾值電壓(VGS(TH)):在VGS = VDS、ID = 250μA的條件下,典型值為2 - 4V。
- 漏源導通電阻(RDS(on)):在ID = 56A、VGS = 10V時,典型值為25mΩ。
熱規(guī)格
- 結到外殼熱阻(RθJC):典型值為0.74°C/W。
- 結到環(huán)境熱阻(RθJA):TO - 247封裝為30°C/W,TO - 220、TO - 263、TO - 262封裝為62°C/W。
開關規(guī)格
在VGS = 10V的條件下,開關時間參數(shù)如下: 參數(shù) 數(shù)值 單位 開啟時間(tON) - 110 ns 開啟延遲時間(td(ON)) 15 ns 上升時間(tr) 60 ns 關斷延遲時間(td(OFF)) 20 ns 下降時間(tf) 25 ns 關斷時間(tOFF) 70 ns 柵極電荷規(guī)格
提供了不同條件下的柵極電荷波形,方便工程師進行開關特性的分析和設計。
電容規(guī)格
- 輸入電容(Ciss):在VDS = 25V、VGS = 0V、f = 1MHz時,典型值為2000pF。
- 輸出電容(Coss):典型值為500pF。
- 反向傳輸電容(CRSS):典型值為65pF。
源漏二極管規(guī)格
- 源漏二極管電壓(VSD):在ISD = 56A時,最大值為1.25V。
- 反向恢復時間(trr):在ISP = 56A、dISP/dt = 100A/μs時,最大值為110ns。
- 反向恢復電荷(QRR):在ISP = 56A、dISP/dt = 100A/μs時,最大值為320nC。
典型性能曲線
文檔中提供了一系列典型性能曲線,包括歸一化功率耗散與外殼溫度曲線、最大連續(xù)漏極電流與外殼溫度曲線、歸一化最大瞬態(tài)熱阻抗曲線、峰值電流能力曲線、正向偏置安全工作區(qū)曲線、非鉗位電感開關能力曲線、飽和特性曲線、傳輸特性曲線、歸一化漏源導通電阻與結溫曲線、歸一化柵極閾值電壓與結溫曲線、歸一化漏源擊穿電壓與結溫曲線、電容與漏源電壓曲線以及柵極電荷波形曲線等。這些曲線為工程師在設計電路時提供了重要的參考依據(jù),幫助他們更好地了解器件在不同工作條件下的性能表現(xiàn)。
仿真模型
PSPICE電氣模型
文檔中給出了詳細的PSPICE子電路模型,包括各種元件的參數(shù)設置和模型定義。通過使用該模型,工程師可以在PSPICE軟件中對HUF75639系列MOSFET進行精確的電路仿真,預測其在不同工作條件下的性能。
SABER電氣模型
同樣提供了SABER電氣模型,方便工程師在SABER軟件中進行電路仿真和分析。
熱模型
包括Spice熱模型和Saber熱模型,用于對器件的熱性能進行仿真和分析,幫助工程師優(yōu)化散熱設計,確保器件在正常工作溫度范圍內運行。
機械尺寸
文檔詳細給出了各種封裝形式的機械尺寸和標注說明,包括TO - 220 - 3LD、TO - 247 - 3LD、D2PAK - 3和I2PAK封裝。工程師可以根據(jù)這些尺寸信息進行PCB設計和布局,確保器件能夠正確安裝和使用。
總結
Onsemi的HUF75639系列N溝道功率MOSFET憑借其卓越的電氣性能、多種封裝形式、豐富的仿真模型和環(huán)保合規(guī)等特點,為電子工程師在設計高功率、高效率的電子設備時提供了一個理想的選擇。在實際應用中,工程師可以根據(jù)具體的設計需求,結合器件的特性和性能曲線,合理選擇封裝形式和工作參數(shù),以實現(xiàn)最佳的設計效果。你在使用這類MOSFET時遇到過哪些問題呢?歡迎在評論區(qū)分享你的經(jīng)驗和見解。
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onsemi NVMFWS002N10MCL N溝道功率MOSFET:高效設計的理想之選
Onsemi HUF75639系列N溝道功率MOSFET:高效節(jié)能的理想之選
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