2026年3月,日本名古屋大學(xué)低溫等離子體科學(xué)研究中心與該校孵化初創(chuàng)企業(yè)nu-rei株式會社,將在應(yīng)用物理學(xué)會春季學(xué)術(shù)講演會上集中發(fā)布關(guān)于次世代功率半導(dǎo)體材料——氧化鎵(Ga?O?)的六項(xiàng)關(guān)鍵研究成果。這一系列突破標(biāo)志著日本在氧化鎵材料生長工藝上取得系統(tǒng)性進(jìn)展,有望大幅降低制造成本、提升器件性能,為電動汽車、可再生能源及宇宙開發(fā)等高端領(lǐng)域的應(yīng)用鋪平道路。
一、核心工藝突破:高密度氧自由基源(HD-ORS)
本次研究的核心技術(shù)亮點(diǎn),是成功開發(fā)了高密度氧自由基源(HD-ORS)。傳統(tǒng)氧化鎵生長過程中,反應(yīng)速率與結(jié)晶質(zhì)量長期受到限制。HD-ORS通過采用臭氧與氧氣的混合氣體,將原子態(tài)氧密度提升至傳統(tǒng)方法的2倍。
這一技術(shù)突破帶來了雙重優(yōu)勢:
· 強(qiáng)力促進(jìn)氧化反應(yīng):顯著加速Ga?O向Ga?O?的轉(zhuǎn)化;
· 有效抑制副產(chǎn)物生成:減少生長過程中易揮發(fā)的Ga?O中間產(chǎn)物,從而在分子束外延(MBE)和物理氣相沉積(PVD)兩種主流工藝中,均實(shí)現(xiàn)了高速、穩(wěn)定的薄膜生長。
二、生長速度飛躍:量產(chǎn)成本有望大幅下降
利用HD-ORS技術(shù),研究團(tuán)隊(duì)在生長效率上取得了顯著提升:
· MBE工藝:在僅300℃的低溫條件下,實(shí)現(xiàn)了1微米/小時的超高速同質(zhì)外延生長。
· PVD工藝:生長速度更是超過1微米/小時,接近傳統(tǒng)MBE工藝效率的10倍。
這種高吞吐量技術(shù)直接解決了氧化鎵量產(chǎn)中的效率瓶頸,對于降低功率器件的制造成本具有決定性意義,有力推動了從實(shí)驗(yàn)室研究到產(chǎn)業(yè)應(yīng)用的轉(zhuǎn)化進(jìn)程。
三、異質(zhì)外延突破:在硅基板上實(shí)現(xiàn)高質(zhì)量生長
長期以來,氧化鎵難以在低成本硅(Si)基板上高質(zhì)量生長,是制約其集成化應(yīng)用的主要障礙。此次研究團(tuán)隊(duì)成功攻克了這一難題。
技術(shù)路徑包括:
· 采用RCA濕法清洗與鎵原子層朗繆爾吸著前處理相結(jié)合的方法;
· 有效去除硅基板表面的自然氧化膜,并防止高溫環(huán)境下的二次氧化。
最終,研究團(tuán)隊(duì)在2英寸硅基板上成功實(shí)現(xiàn)了氧化鎵的異質(zhì)外延生長,并經(jīng)由熱處理獲得了單晶結(jié)構(gòu)。這一成果意味著,氧化鎵器件可以借助硅基板優(yōu)異的熱傳導(dǎo)性和成熟的工藝平臺,開發(fā)出更高耐壓、更低成本、更易集成的功率器件,為未來與硅基產(chǎn)線兼容鋪平道路。
四、P型摻雜難題取得關(guān)鍵進(jìn)展
功率器件制造中長期存在的p型摻雜難題也獲得了重要突破。研究團(tuán)隊(duì)深化了利用NiO(氧化鎳)擴(kuò)散層形成p型氧化鎵的工藝路線。
具體步驟包括:
· 鎳離子注入;
· 氧等離子體退火;
· 快速熱退火(RTA)。
實(shí)驗(yàn)證實(shí),該技術(shù)不僅在氧化鎵基板上能夠形成穩(wěn)定的pn結(jié),在氮化鎵基板上同樣有效。所形成的pn結(jié)電流密度達(dá)到鎳肖特基二極管的2倍,為構(gòu)建完整的氧化鎵功率開關(guān)器件(如MOSFET、IGBT等)提供了關(guān)鍵的材料基礎(chǔ)。
五、產(chǎn)學(xué)研協(xié)同:從基礎(chǔ)研究到產(chǎn)業(yè)轉(zhuǎn)化的高效鏈條
日本在第三代及第四代半導(dǎo)體材料領(lǐng)域持續(xù)高強(qiáng)度投入,尤其在氧化鎵這種超寬禁帶半導(dǎo)體方面,試圖通過材料生長工藝的革新確立領(lǐng)先地位。名古屋大學(xué)與nu-rei公司的此次合作,是典型的產(chǎn)學(xué)研協(xié)同創(chuàng)新模式——從高校的基礎(chǔ)理論突破,到初創(chuàng)企業(yè)的技術(shù)轉(zhuǎn)化,再到公開學(xué)術(shù)講演會的集中發(fā)布,形成了完整的成果轉(zhuǎn)化鏈條。這種機(jī)制有助于加速實(shí)驗(yàn)室成果向工業(yè)化生產(chǎn)過渡,并在全球半導(dǎo)體供應(yīng)鏈重構(gòu)的背景下,增強(qiáng)日本在下一代功率半導(dǎo)體領(lǐng)域的競爭力。
六、對中國半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的啟示
對于中國半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)而言,這一系列技術(shù)突破釋放了明確的信號:功率半導(dǎo)體材料迭代的緊迫性正在加劇。
· 氧化鎵憑借其超高耐壓(禁帶寬度約4.8eV,遠(yuǎn)超SiC和GaN)和低成本硅基集成的潛力,有望在高壓電力電子領(lǐng)域(如智能電網(wǎng)、電動汽車逆變器、高鐵牽引系統(tǒng))形成新的競爭格局。
· 當(dāng)前,中國企業(yè)正積極布局碳化硅(SiC)和氮化鎵(GaN)產(chǎn)業(yè)鏈,但氧化鎵在異質(zhì)外延、p型摻雜等核心工藝上的快速進(jìn)展,提示我們必須提前布局——包括相關(guān)專利、關(guān)鍵設(shè)備、材料生長及器件設(shè)計(jì)等。
· 如果忽視這一技術(shù)路線,未來可能在下一代功率半導(dǎo)體的標(biāo)準(zhǔn)制定和市場競爭中陷入被動。
因此,建議國內(nèi)科研機(jī)構(gòu)與產(chǎn)業(yè)界密切關(guān)注日本在氧化鎵領(lǐng)域的最新動態(tài),加強(qiáng)基礎(chǔ)研究投入,推動產(chǎn)學(xué)研協(xié)同攻關(guān),爭取在即將到來的氧化鎵時代占據(jù)一席之地。
中國半導(dǎo)體,未來可期
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