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Onsemi NTH4LN067N65S3H MOSFET:滿足高效電力系統需求的理想之選

lhl545545 ? 2026-03-30 15:50 ? 次閱讀
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Onsemi NTH4LN067N65S3H MOSFET:滿足高效電力系統需求的理想之選

在電子工程領域,MOSFET作為關鍵的功率半導體器件,其性能直接影響著各類電力系統的效率和穩定性。Onsemi推出的NTH4LN067N65S3H MOSFET,憑借其卓越的性能和先進的技術,成為眾多電力系統應用的理想選擇。

文件下載:NTH4LN067N65S3H-D.PDF

產品概述

NTH4LN067N65S3H屬于Onsemi的SUPERFET III系列,這是一款全新的高壓超結(SJ)MOSFET產品。它采用了電荷平衡技術,具有出色的低導通電阻和較低的柵極電荷性能。這種先進技術不僅能有效降低傳導損耗,還具備卓越的開關性能,能夠承受極高的dv/dt速率。因此,SUPERFET III MOSFET FAST系列非常適合各種追求小型化和高效率的電力系統。

產品特性

電氣性能優越

  • 耐壓能力強:在TJ = 150°C時,可承受700V的電壓;正常工作時,漏源擊穿電壓(BVDSS)在TJ = 25°C時為650V,TJ = 150°C時可達700V。
  • 低導通電阻:典型的RDS(on)為55mΩ,在VGS = 10V、ID = 20A的測試條件下,最大RDS(on)為67mΩ,能有效降低導通損耗。
  • 低柵極電荷:典型的Qg = 80nC,可減少開關過程中的能量損耗,提高開關速度。
  • 低輸出電容:典型的Coss(eff.) = 691pF,有助于降低開關損耗。

可靠性高

  • 雪崩測試:該器件經過100%雪崩測試,能夠承受一定的雪崩能量,提高了產品的可靠性。
  • 環保合規:符合RoHS標準,無鉛設計,滿足環保要求。

應用領域

NTH4LN067N65S3H適用于多種電力系統,包括但不限于:

  • 電信/服務器電源:在電信和服務器領域,對電源的效率和穩定性要求極高。該MOSFET的低導通電阻和卓越的開關性能,能夠有效提高電源的轉換效率,降低功耗。
  • 工業電源:工業環境對電源的可靠性和耐用性要求較高。NTH4LN067N65S3H的高耐壓能力和雪崩測試特性,使其能夠在復雜的工業環境中穩定工作。
  • UPS/太陽能:在不間斷電源(UPS)和太陽能系統中,需要高效的功率轉換和可靠的保護機制。該MOSFET能夠滿足這些需求,提高系統的整體性能。

絕對最大額定值

參數 符號 數值 單位
漏源電壓 VDSS 650 V
柵源電壓(DC VGSS ±30 V
柵源電壓(AC,f > 1Hz) VGSS ±30 V
連續漏極電流(TC = 25°C) ID 40 A
連續漏極電流(TC = 100°C) ID 25 A
脈沖漏極電流 IDM 112 A
單脈沖雪崩能量 EAS 422 mJ
雪崩電流 IAS 6.5 A
重復雪崩能量 EAR 2.66 mJ
MOSFET dv/dt dv/dt 100 V/ns
峰值二極管恢復dv/dt - 20 -
功率耗散(TC = 25°C) PD 266 W
25°C以上降額 - 2.13 W/°C
工作和存儲溫度范圍 TJ, TSTG -55 to +150 °C
焊接時最大引線溫度(距外殼1/8″,5秒) TL 260 °C

需要注意的是,超過絕對最大額定值可能會損壞器件,影響其功能和可靠性。

熱特性

  • 結到外殼熱阻(RJC):最大為0.47°C/W。
  • 結到環境熱阻(RJA):最大為40°C/W。

了解熱特性對于合理設計散熱系統至關重要,能夠確保器件在正常工作溫度范圍內穩定運行。

電氣特性

關斷特性

  • 漏源擊穿電壓(BVDSS):在VGS = 0V、ID = 1mA、TJ = 25°C時為650V;在TJ = 150°C時為700V。
  • 零柵壓漏極電流(IDSS):在VDS = 650V、VGS = 0V時,最大值為2μA;在VDS = 520V、TC = 125°C時,典型值為1.6μA。
  • 柵體泄漏電流(IGSS):在VGS = ±30V、VDS = 0V時,最大值為±100nA。

導通特性

  • 柵極閾值電壓(VGS(th)):在VGS = VDS、ID = 3.9mA時,最小值為2.4V,最大值為4.0V。
  • 靜態漏源導通電阻(RDS(on)):在VGS = 10V、ID = 20A時,典型值為55mΩ,最大值為67mΩ。
  • 正向跨導(gFS):在VDS = 20V、ID = 20A時,典型值為28S。

動態特性

  • 輸入電容(Ciss):在VDS = 400V、VGS = 0V、f = 250kHz時,典型值為3750pF。
  • 輸出電容(Coss):典型值為60pF。
  • 有效輸出電容(Coss(eff.)):在VDS從0V到400V、VGS = 0V時,典型值為691pF。
  • 與能量相關的輸出電容(Coss(er.)):在VDS從0V到400V、VGS = 0V時,典型值為107pF。
  • 總柵極電荷(Qg(tot)):在VDS = 400V、ID = 20A、VGS = 10V時,典型值為80nC。
  • 柵源柵極電荷(Qgs):典型值為21nC。
  • 柵漏“米勒”電荷(Qgd):典型值為20nC。
  • 等效串聯電阻(ESR):在f = 1MHz時,典型值為0.6Ω。

開關特性

  • 導通延遲時間(td(on)):在VDD = 400V、ID = 20A、VGS = 10V、Rg = 4.7Ω時,典型值為28ns。
  • 導通上升時間(tr):典型值為7.2ns。
  • 關斷延遲時間(td(off)):典型值為81ns。
  • 關斷下降時間(tf:典型值為2.6ns。

源漏二極管特性

  • 最大連續源漏二極管正向電流(IS):最大值為40A。
  • 最大脈沖源漏二極管正向電流(ISM):最大值為112A。
  • 源漏二極管正向電壓(VSD:在VGS = 0V、ISD = 20A時,最大值為1.2V。
  • 反向恢復時間(trr):在VGS = 0V、ISD = 20A、dIF/dt = 100A/μs時,典型值為411ns。
  • 反向恢復電荷(Qrr):典型值為7.8μC。

典型特性曲線

文檔中提供了多種典型特性曲線,包括導通區域特性、傳輸特性、導通電阻隨漏極電流和柵極電壓的變化、體二極管正向電壓隨源電流和溫度的變化、電容特性、柵極電荷特性、擊穿電壓隨溫度的變化、導通電阻隨溫度的變化、最大安全工作區、最大漏極電流隨外殼溫度的變化、Eoss隨漏源電壓的變化、瞬態熱阻抗等。這些曲線能夠幫助工程師更好地了解器件在不同工作條件下的性能,為電路設計提供參考。

封裝信息

NTH4LN067N65S3H采用TO - 247 4 - 引腳、細引腳封裝(CASE 340CW),提供了詳細的封裝尺寸信息,包括各尺寸的最小值、標稱值和最大值。在進行PCB設計時,需要根據這些尺寸信息合理布局器件,確保安裝和散熱的有效性。

總結

Onsemi的NTH4LN067N65S3H MOSFET憑借其卓越的性能、高可靠性和廣泛的應用領域,為電子工程師在設計各類電力系統時提供了一個優秀的選擇。在實際應用中,工程師需要根據具體的電路需求和工作條件,合理選擇和使用該器件,并注意其絕對最大額定值和熱特性,以確保系統的穩定運行。你在使用這款MOSFET的過程中遇到過哪些問題呢?歡迎在評論區分享你的經驗和見解。

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