核心導讀

近日，2026 年江蘇省普通高等教育本科省級規劃教材評選結果正式公布，由廣電計量聯合南京大學、哈爾濱工業大學、上海交通大學等國內頂尖高校專家團隊聯合編寫的《聚焦離子束：應用與實踐》成功入選。作為國內聚焦離子束（FIB）領域系列專著的開篇之作，此次獲評不僅是對其教學價值、學術價值與產業實踐價值的權威認可，更是廣電計量深耕半導體檢測領域，推動校企產學研用深度融合、協同創新的標志性成果。

《聚焦離子束：應用與實踐》是國內首部FIB領域專業著作，由廣電計量與頂尖高校聯合編撰。自出版以來便被南京大學、哈爾濱工業大學、上海交通大學等多所高校選定為課程教輔用書，構建了FIB技術從理論原理到實操應用的完整知識體系，填補了國內該領域系統化、實踐型專業著作的空白。

以此為起點，廣電計量始終作為唯一參編企業單位，持續深化校企產學研用協同機制，聯動高校專家團隊繼續推出《聚焦離子束：失效分析》《聚焦離子束：芯片檢測》兩部系列專著，形成了覆蓋“基礎教學—科研攻關—產業應用”的全鏈條FIB技術知識體系；整套著作深度融合高校的學術理論縱深與廣電計量在半導體產業一線的海量實踐成果，既為高校人才培養、科研創新提供了權威體系化的教學與研究藍本，也為芯片失效分等產業核心場景提供了可落地的實操指引，真正實現了“學、研、產、用”的閉環融合，為國內FIB技術的普及、人才梯隊建設與產業核心技術突破提供了系統性支撐。

系列專著的持續產出與權威認可，源于廣電計量在半導體檢測領域深耕多年構建的產學研用一體化核心能力。作為國內半導體集成電路領域技術能力最全面的上市第三方檢測機構之一，廣電計量打造了一支兼具學術研究能力與產業實踐經驗的專家團隊，由陳振博士、劉辰博士等核心技術骨干領銜，深度聯動高校科研團隊，成為銜接學術研究與產業應用的核心紐帶；硬件平臺方面，搭建了行業領先的芯片顯微分析技術平臺，配備透射電子顯微鏡（TEM）、賽默飛 Helios G5 系列雙束聚焦離子束（DB FIB）等國際頂尖設備，配套專業芯片分析設備 300余套，既為高校科研攻關提供了先進的實驗支撐，也為產業端提供了納米級精度的檢測分析服務。

依托產學研用一體化的技術體系，廣電計量實現了科研成果與產業需求的高效雙向轉化，可提供覆蓋芯片研發到量產全生命周期、器件級到系統級全維度的檢測分析服務，核心能力覆蓋3nm及以上制程芯片TEM分析、FIB失效分等關鍵環節，服務客群涵蓋國內頭部晶圓廠、芯片設計企業、科研院所等半導體全產業鏈主體，服務產品覆蓋AI高算力芯片、功率器件、車規芯片等核心品類。同時，廣電計量擁有工業和信息化部 “面向集成電路、芯片產業的公共服務平臺” 等多項國家級、省級平臺資質，深度參與半導體領域的技術標準建設、人才培養與產業公共服務，持續推動 FIB 技術的國產化應用與創新突破。