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使用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的阻抗測(cè)試方法

agitek2021 ? 來(lái)源:agitek2021 ? 作者:agitek2021 ? 2026-03-04 15:11 ? 次閱讀
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使用網(wǎng)絡(luò)分析儀進(jìn)行阻抗測(cè)量的方法有3種:

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1.反射法:
反射法測(cè)量被測(cè)件的反射系數(shù)(Γx)。 反射系數(shù)Γx與阻抗的關(guān)系如下:
Γx=(Zx-Zo)/(Zx + Zo)
其中,Zo 是測(cè)量電路的特征阻抗(50Ω),Zx 是DUT阻抗。根據(jù)公式,測(cè)得的反射系數(shù)跟隨阻抗(Zx)變化在–1至1之間變化。在 Zx 等于 Zo 時(shí)可獲得最高的精度。阻抗越高,反射系數(shù)曲線的斜率就越慢,從而導(dǎo)致阻抗測(cè)量精度下降。阻抗通過(guò)以下公式計(jì)算:
Z = 50 x((1 +S11)/(1-S11))
反射法的阻抗測(cè)量范圍通常為 2Ω 至 1.5 kΩ(取決于所需的精度和測(cè)量頻率)。

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2.串聯(lián)直通法:
串聯(lián)直通法通過(guò)將 DUT 連接成“串聯(lián)傳輸”來(lái)測(cè)量阻抗。串聯(lián)直通在測(cè)量高阻抗值時(shí)最有效:10%的精度范圍約為 5Ω 至 20 kΩ或比反射法高大約十倍。阻抗通過(guò)以下公式計(jì)算:
Z =(50 x 2)x((1-S21)/ S21)

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3.并聯(lián)直通法:
并聯(lián)直通法通過(guò)將 DUT 連接成“并聯(lián)傳輸”來(lái)測(cè)量阻抗。這是測(cè)試低阻抗值的好方法,通常用于在毫歐范圍內(nèi)進(jìn)行測(cè)量(如電源完整性應(yīng)用)。 10%的準(zhǔn)確度范圍為 1 mΩ 至 10 Ω,低于典型的阻抗分析儀可以達(dá)到的范圍。阻抗通過(guò)以下公式計(jì)算:
Z =(50/2)x(S21 /(1-S21))

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E5061B網(wǎng)絡(luò)分析儀有增益相位測(cè)試端口和S參數(shù)測(cè)試端口,都可以測(cè)試阻抗。下面是不同的測(cè)試方法適用的測(cè)試頻率范圍和阻抗測(cè)試范圍。


審核編輯 黃宇

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