電子發燒友網報道(文/梁浩斌)半導體制程在近幾年摩爾定律失效的聲音中依然高歌猛進,最近韓國半導體工程師學會ISE在2026半導體技術路線圖中,預測了未來15年的半導體工藝演進路徑,表示2040年將實現0.2nm工藝節點。
而隨著芯片工藝節點的推進,芯片供電面臨越來越多問題,所以近年英特爾、臺積電、三星等廠商相繼推出背面供電技術,旨在解決工藝節點不斷推進下,芯片面臨的供電困境。
正面供電面臨物理極限
在半導體技術發展的歷程中,傳統的正面供電架構一直是芯片設計的普遍解法。在這種架構中,VDD/GND和信號互連共享晶圓正面的金屬層資源,通過多層金屬互連實現電力傳輸和信號路由的功能集成。然而,隨著工藝節點不斷向更小尺度演進,這種傳統架構正面臨前所未有的結構性困境。
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當前先進工藝節點的供電挑戰主要體現在三個方面:首先是IR 壓降問題的急劇惡化,在 3nm 以下工藝中,傳統供電技術可能導致高達 50% 的電壓降,嚴重影響晶體管的可靠性和性能;其次是布線資源的嚴重擁堵,在 5nm 工藝節點,電源基礎設施消耗了近 40% 的可用布線資源,而金屬間距縮小到 24nm 時,IR 壓降比前一代技術節點增加 45%;第三是信號完整性的挑戰,電源和信號共享布線資源導致電磁干擾加劇,影響信號質量和時序收斂。?
這些挑戰的根本原因在于傳統架構的物理極限。隨著晶體管尺寸的縮小,為了保證足夠的電流傳輸能力,電源軌的寬度無法按比例縮小,目前電源軌的寬度約為其他邏輯單元組件的三倍,成為邏輯密度縮放的主要障礙。同時,在先進工藝節點中,互連電阻的增加速度遠超晶體管性能的提升速度,使得傳統的二維平面供電架構難以滿足高性能芯片的需求。
背面供電架構核心
背面供電非常直白地形容了供電架構的轉變,那就是將晶圓正面的供電網絡轉移到晶圓背面,實現了電源與信號的物理分離。
背面供電架構的核心主要是在空間、供電路徑、材料等方面帶來新的優勢。首先在空間上,背面供電將 VDD/GND 電源網絡從晶圓正面轉移到背面通過光刻和蝕刻加工,使用更粗、更短的金屬層,而晶圓正面僅保留信號布線功能。背面金屬層設計是整個技術架構的基礎,在典型的背面供電方案中,電源網絡被遷移到晶圓背面,使用專門設計的背面金屬層(通常為 M1-M3 層)進行供電線路的布局。這些背面金屬層具有顯著的物理優勢:線寬可以比正面金屬層寬 2-3 倍,厚度也相應增加,從而大幅降低了電阻值。根據 IMEC 的研究數據,背面使用的粗金屬線相對便宜,不僅降低了制造成本,還減少了對昂貴 EUV 光刻步驟的依賴。
路徑也實現了優化,通過納米級硅通孔(nano-TSV)垂直連接背面電源與正面晶體管,實現垂直供電,供電路徑長度減少 60%-80%;比如英特爾PowerVia 技術在垂直互連設計方面采用了創新的方法,在每個標準單元中嵌入納米級硅通孔,實現了高效的功率分配。這種設計不僅提高了供電效率,還為芯片設計提供了更大的靈活性。
材料方面,晶圓背面可部署更厚的金屬層,線寬提升約 2-3 倍,電阻降低 40%-60%,從而顯著改善 IR 壓降問題。但另一方面,還需要將硅晶圓進一步減薄,過程中要保證晶圓的平整度和結構完整,同時避免機械應力等導致晶圓變形。
通過這一系列的革新,背面供電帶來了非常大的優勢,首先是供電效率大幅提升,通過縮短供電路徑和降低電阻,實現了 85% 的片上 IR 壓降降低和 30% 的片外電壓降改善;二是布線資源的有效釋放,正面金屬層 100% 用于信號傳輸,繞線長度縮短 15%-20%,標準單元利用率從 75% 提升至 85%-90%;三是信號完整性的顯著改善,電源與信號徹底分離,有數據顯示串擾可減少42%,為高頻、高速信號傳輸提供了更好的電磁環境。
三巨頭進展
目前在背面供電技術上,走在最前的玩家就是英特爾、臺積電和三星,其中量產節奏最快的是英特爾,PowerVia技術已經在2024年底推出的20A節點小規模試產,而18A節點也在2025年全面量產,領先優勢明顯。
臺積電的Super Power Rail (SPR)預計會在2026年底的A16節點上量產,2025年據稱已完成測試芯片驗證;三星背面供電技術目前仍處于測試階段,目標是在2027年的SF2Z節點量產推出。
從架構上看,英特爾PowerVia的設計更加強調模塊化集成,采用網格化的nano-TSV陣列將晶圓背面的供電網絡與晶體管VDD/GND連接,但TSV密度相對保守,約每平方微米上百個,以平衡加工復雜性和熱應力。
相對來看,臺積電SPR更重視密度,每個晶體管的VDD/GND終端均通過獨立nano-TSV直接接入背面,TVS間距縮短至亞10nm級別,支持更高密度的布線。但高密度帶來的是對準精度要求更高,臺積電SPR依賴EUV多重曝光保障精度,成本也更高。
三星背面供電技術類似英特爾PowerVia,但更重視可靠性,通過可動態調整的TVS寬度,緩解了晶圓背面加工中可能出現的翹曲現象。不過TVS密度相對SPR更低,略高于PowerVia。
小結:
隨著各家背面供電技術在2026年開始全面量產,作為半導體行業邁向2nm節點的關鍵技術之一,這將會驅動AI算力以及移動設備性能的新一輪提升,為AI應用拓展帶來高算力、低能耗底層支撐。預計到到2030年,背面供電將占據先進節點產量的50%以上,而未來0.2nm工藝節點同樣還需要背面供電技術,以突破功耗墻維持摩爾定律的演進。
而隨著芯片工藝節點的推進,芯片供電面臨越來越多問題,所以近年英特爾、臺積電、三星等廠商相繼推出背面供電技術,旨在解決工藝節點不斷推進下,芯片面臨的供電困境。
正面供電面臨物理極限
在半導體技術發展的歷程中,傳統的正面供電架構一直是芯片設計的普遍解法。在這種架構中,VDD/GND和信號互連共享晶圓正面的金屬層資源,通過多層金屬互連實現電力傳輸和信號路由的功能集成。然而,隨著工藝節點不斷向更小尺度演進,這種傳統架構正面臨前所未有的結構性困境。
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當前先進工藝節點的供電挑戰主要體現在三個方面:首先是IR 壓降問題的急劇惡化,在 3nm 以下工藝中,傳統供電技術可能導致高達 50% 的電壓降,嚴重影響晶體管的可靠性和性能;其次是布線資源的嚴重擁堵,在 5nm 工藝節點,電源基礎設施消耗了近 40% 的可用布線資源,而金屬間距縮小到 24nm 時,IR 壓降比前一代技術節點增加 45%;第三是信號完整性的挑戰,電源和信號共享布線資源導致電磁干擾加劇,影響信號質量和時序收斂。?
這些挑戰的根本原因在于傳統架構的物理極限。隨著晶體管尺寸的縮小,為了保證足夠的電流傳輸能力,電源軌的寬度無法按比例縮小,目前電源軌的寬度約為其他邏輯單元組件的三倍,成為邏輯密度縮放的主要障礙。同時,在先進工藝節點中,互連電阻的增加速度遠超晶體管性能的提升速度,使得傳統的二維平面供電架構難以滿足高性能芯片的需求。
背面供電架構核心
背面供電非常直白地形容了供電架構的轉變,那就是將晶圓正面的供電網絡轉移到晶圓背面,實現了電源與信號的物理分離。
背面供電架構的核心主要是在空間、供電路徑、材料等方面帶來新的優勢。首先在空間上,背面供電將 VDD/GND 電源網絡從晶圓正面轉移到背面通過光刻和蝕刻加工,使用更粗、更短的金屬層,而晶圓正面僅保留信號布線功能。背面金屬層設計是整個技術架構的基礎,在典型的背面供電方案中,電源網絡被遷移到晶圓背面,使用專門設計的背面金屬層(通常為 M1-M3 層)進行供電線路的布局。這些背面金屬層具有顯著的物理優勢:線寬可以比正面金屬層寬 2-3 倍,厚度也相應增加,從而大幅降低了電阻值。根據 IMEC 的研究數據,背面使用的粗金屬線相對便宜,不僅降低了制造成本,還減少了對昂貴 EUV 光刻步驟的依賴。
路徑也實現了優化,通過納米級硅通孔(nano-TSV)垂直連接背面電源與正面晶體管,實現垂直供電,供電路徑長度減少 60%-80%;比如英特爾PowerVia 技術在垂直互連設計方面采用了創新的方法,在每個標準單元中嵌入納米級硅通孔,實現了高效的功率分配。這種設計不僅提高了供電效率,還為芯片設計提供了更大的靈活性。
材料方面,晶圓背面可部署更厚的金屬層,線寬提升約 2-3 倍,電阻降低 40%-60%,從而顯著改善 IR 壓降問題。但另一方面,還需要將硅晶圓進一步減薄,過程中要保證晶圓的平整度和結構完整,同時避免機械應力等導致晶圓變形。
通過這一系列的革新,背面供電帶來了非常大的優勢,首先是供電效率大幅提升,通過縮短供電路徑和降低電阻,實現了 85% 的片上 IR 壓降降低和 30% 的片外電壓降改善;二是布線資源的有效釋放,正面金屬層 100% 用于信號傳輸,繞線長度縮短 15%-20%,標準單元利用率從 75% 提升至 85%-90%;三是信號完整性的顯著改善,電源與信號徹底分離,有數據顯示串擾可減少42%,為高頻、高速信號傳輸提供了更好的電磁環境。
三巨頭進展
目前在背面供電技術上,走在最前的玩家就是英特爾、臺積電和三星,其中量產節奏最快的是英特爾,PowerVia技術已經在2024年底推出的20A節點小規模試產,而18A節點也在2025年全面量產,領先優勢明顯。
臺積電的Super Power Rail (SPR)預計會在2026年底的A16節點上量產,2025年據稱已完成測試芯片驗證;三星背面供電技術目前仍處于測試階段,目標是在2027年的SF2Z節點量產推出。
從架構上看,英特爾PowerVia的設計更加強調模塊化集成,采用網格化的nano-TSV陣列將晶圓背面的供電網絡與晶體管VDD/GND連接,但TSV密度相對保守,約每平方微米上百個,以平衡加工復雜性和熱應力。
相對來看,臺積電SPR更重視密度,每個晶體管的VDD/GND終端均通過獨立nano-TSV直接接入背面,TVS間距縮短至亞10nm級別,支持更高密度的布線。但高密度帶來的是對準精度要求更高,臺積電SPR依賴EUV多重曝光保障精度,成本也更高。
三星背面供電技術類似英特爾PowerVia,但更重視可靠性,通過可動態調整的TVS寬度,緩解了晶圓背面加工中可能出現的翹曲現象。不過TVS密度相對SPR更低,略高于PowerVia。
小結:
隨著各家背面供電技術在2026年開始全面量產,作為半導體行業邁向2nm節點的關鍵技術之一,這將會驅動AI算力以及移動設備性能的新一輪提升,為AI應用拓展帶來高算力、低能耗底層支撐。預計到到2030年,背面供電將占據先進節點產量的50%以上,而未來0.2nm工藝節點同樣還需要背面供電技術,以突破功耗墻維持摩爾定律的演進。
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