国产精品久久久aaaa,日日干夜夜操天天插,亚洲乱熟女香蕉一区二区三区少妇,99精品国产高清一区二区三区,国产成人精品一区二区色戒,久久久国产精品成人免费,亚洲精品毛片久久久久,99久久婷婷国产综合精品电影,国产一区二区三区任你鲁

0
  • 聊天消息
  • 系統消息
  • 評論與回復
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學習在線課程
  • 觀看技術視頻
  • 寫文章/發帖/加入社區
會員中心
創作中心

完善資料讓更多小伙伴認識你,還能領取20積分哦,立即完善>

3天內不再提示

0.2nm工藝節點的背后需要“背面供電”支撐

Hobby觀察 ? 來源:電子發燒友網 ? 作者:梁浩斌 ? 2026-01-03 05:58 ? 次閱讀
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

電子發燒友網報道(文/梁浩斌)半導體制程在近幾年摩爾定律失效的聲音中依然高歌猛進,最近韓國半導體工程師學會ISE在2026半導體技術路線圖中,預測了未來15年的半導體工藝演進路徑,表示2040年將實現0.2nm工藝節點。

而隨著芯片工藝節點的推進,芯片供電面臨越來越多問題,所以近年英特爾、臺積電、三星等廠商相繼推出背面供電技術,旨在解決工藝節點不斷推進下,芯片面臨的供電困境。

正面供電面臨物理極限

在半導體技術發展的歷程中,傳統的正面供電架構一直是芯片設計的普遍解法。在這種架構中,VDD/GND和信號互連共享晶圓正面的金屬層資源,通過多層金屬互連實現電力傳輸和信號路由的功能集成。然而,隨著工藝節點不斷向更小尺度演進,這種傳統架構正面臨前所未有的結構性困境。
?
當前先進工藝節點的供電挑戰主要體現在三個方面:首先是IR 壓降問題的急劇惡化,在 3nm 以下工藝中,傳統供電技術可能導致高達 50% 的電壓降,嚴重影響晶體管的可靠性和性能;其次是布線資源的嚴重擁堵,在 5nm 工藝節點,電源基礎設施消耗了近 40% 的可用布線資源,而金屬間距縮小到 24nm 時,IR 壓降比前一代技術節點增加 45%;第三是信號完整性的挑戰,電源和信號共享布線資源導致電磁干擾加劇,影響信號質量和時序收斂。?
這些挑戰的根本原因在于傳統架構的物理極限。隨著晶體管尺寸的縮小,為了保證足夠的電流傳輸能力,電源軌的寬度無法按比例縮小,目前電源軌的寬度約為其他邏輯單元組件的三倍,成為邏輯密度縮放的主要障礙。同時,在先進工藝節點中,互連電阻的增加速度遠超晶體管性能的提升速度,使得傳統的二維平面供電架構難以滿足高性能芯片的需求。

背面供電架構核心

背面供電非常直白地形容了供電架構的轉變,那就是將晶圓正面的供電網絡轉移到晶圓背面,實現了電源與信號的物理分離。

背面供電架構的核心主要是在空間、供電路徑、材料等方面帶來新的優勢。首先在空間上,背面供電將 VDD/GND 電源網絡從晶圓正面轉移到背面通過光刻和蝕刻加工,使用更粗、更短的金屬層,而晶圓正面僅保留信號布線功能。背面金屬層設計是整個技術架構的基礎,在典型的背面供電方案中,電源網絡被遷移到晶圓背面,使用專門設計的背面金屬層(通常為 M1-M3 層)進行供電線路的布局。這些背面金屬層具有顯著的物理優勢:線寬可以比正面金屬層寬 2-3 倍,厚度也相應增加,從而大幅降低了電阻值。根據 IMEC 的研究數據,背面使用的粗金屬線相對便宜,不僅降低了制造成本,還減少了對昂貴 EUV 光刻步驟的依賴。

路徑也實現了優化,通過納米級硅通孔(nano-TSV)垂直連接背面電源與正面晶體管,實現垂直供電,供電路徑長度減少 60%-80%;比如英特爾PowerVia 技術在垂直互連設計方面采用了創新的方法,在每個標準單元中嵌入納米級硅通孔,實現了高效的功率分配。這種設計不僅提高了供電效率,還為芯片設計提供了更大的靈活性。

材料方面,晶圓背面可部署更厚的金屬層,線寬提升約 2-3 倍,電阻降低 40%-60%,從而顯著改善 IR 壓降問題。但另一方面,還需要將硅晶圓進一步減薄,過程中要保證晶圓的平整度和結構完整,同時避免機械應力等導致晶圓變形。

通過這一系列的革新,背面供電帶來了非常大的優勢,首先是供電效率大幅提升,通過縮短供電路徑和降低電阻,實現了 85% 的片上 IR 壓降降低和 30% 的片外電壓降改善;二是布線資源的有效釋放,正面金屬層 100% 用于信號傳輸,繞線長度縮短 15%-20%,標準單元利用率從 75% 提升至 85%-90%;三是信號完整性的顯著改善,電源與信號徹底分離,有數據顯示串擾可減少42%,為高頻、高速信號傳輸提供了更好的電磁環境。

三巨頭進展

目前在背面供電技術上,走在最前的玩家就是英特爾、臺積電和三星,其中量產節奏最快的是英特爾,PowerVia技術已經在2024年底推出的20A節點小規模試產,而18A節點也在2025年全面量產,領先優勢明顯。

臺積電的Super Power Rail (SPR)預計會在2026年底的A16節點上量產,2025年據稱已完成測試芯片驗證;三星背面供電技術目前仍處于測試階段,目標是在2027年的SF2Z節點量產推出。

從架構上看,英特爾PowerVia的設計更加強調模塊化集成,采用網格化的nano-TSV陣列將晶圓背面的供電網絡與晶體管VDD/GND連接,但TSV密度相對保守,約每平方微米上百個,以平衡加工復雜性和熱應力。

相對來看,臺積電SPR更重視密度,每個晶體管的VDD/GND終端均通過獨立nano-TSV直接接入背面,TVS間距縮短至亞10nm級別,支持更高密度的布線。但高密度帶來的是對準精度要求更高,臺積電SPR依賴EUV多重曝光保障精度,成本也更高。

三星背面供電技術類似英特爾PowerVia,但更重視可靠性,通過可動態調整的TVS寬度,緩解了晶圓背面加工中可能出現的翹曲現象。不過TVS密度相對SPR更低,略高于PowerVia。


小結:

隨著各家背面供電技術在2026年開始全面量產,作為半導體行業邁向2nm節點的關鍵技術之一,這將會驅動AI算力以及移動設備性能的新一輪提升,為AI應用拓展帶來高算力、低能耗底層支撐。預計到到2030年,背面供電將占據先進節點產量的50%以上,而未來0.2nm工藝節點同樣還需要背面供電技術,以突破功耗墻維持摩爾定律的演進。
聲明:本文內容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網站授權轉載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發燒友網立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用,如有內容侵權或者其他違規問題,請聯系本站處理。 舉報投訴
  • 芯片
    +關注

    關注

    463

    文章

    54007

    瀏覽量

    465952
收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

    評論

    相關推薦
    熱點推薦

    旋極星源基于22nm工藝完成關鍵IP發布與驗證

    隨著物聯網、移動通信、人工智能及汽車電子等應用的快速發展,市場對芯片在算力、能效、集成度與成本等方面提出了更為嚴格的要求。22nm工藝節點憑借其在性能、功耗及成本之間的卓越平衡,已成為眾多中高端芯片
    的頭像 發表于 01-30 16:15 ?282次閱讀
    旋極星源基于22<b class='flag-5'>nm</b><b class='flag-5'>工藝</b>完成關鍵IP發布與驗證

    如何突破AI存儲墻?深度解析ONFI 6.0高速接口與Chiplet解耦架構

    6.0)支撐高性能 PCIe 5.0 SSD 存取 工藝覆蓋全制程 (包含 5nm, 8nm, 12nm 等)滿足消費級至數據中心全場景
    發表于 01-29 17:32

    CANFD總線多節點擴展技術:節點數量限制與突破方案

    總線節點數量限制的核心原因,提供切實可行的擴展方案,并梳理科學的測試驗證方法,為多節點系統設計提供技術支撐
    的頭像 發表于 12-15 17:35 ?1368次閱讀
    CANFD總線多<b class='flag-5'>節點</b>擴展技術:<b class='flag-5'>節點</b>數量限制與突破方案

    有源晶振需要外部電源供電

    有源晶振需要外部供電有源晶振內部集成了起振電路,無需外部添加其它元器件即可正常工作,但需要外部電源供電。如下圖所示:簡單來說:有源晶振=一個完整的振蕩器,它
    的頭像 發表于 12-12 18:12 ?458次閱讀
    有源晶振<b class='flag-5'>需要</b>外部電源<b class='flag-5'>供電</b>嗎

    關鍵節點的電能質量監測裝置需要監測哪些參數?

    關鍵節點(如 220kV 及以上主干網母線、新能源并網點、重要用戶供電專線、電網互聯節點)的電能質量監測裝置,需圍繞 “ 電網調度決策、故障定位溯源、并網合規判定、設備安全防護 ” 四大核心需求
    的頭像 發表于 11-05 10:19 ?671次閱讀

    看似簡單的自動泊車需要哪些技術支撐

    [首發于智駕最前沿微信公眾號]要實現自動泊車,背后需要哪些技術作為支撐?自動泊車作為現在很多車主應用非常多的一項功能,看似只是簡單的入庫操作,但想要完美入庫,其實需要非常多的技術支持。
    的頭像 發表于 10-30 09:09 ?685次閱讀
    看似簡單的自動泊車<b class='flag-5'>需要</b>哪些技術<b class='flag-5'>支撐</b>?

    AI如何重塑模擬和數字芯片工藝節點遷移

    工藝技術的持續演進,深刻塑造了當今的半導體產業。從早期的平面晶體管到鰭式場效應晶體管(FinFET),再到最新的全環繞柵極(GAA)架構,每一代新工藝節點都為顯著改善功耗、性能和芯片面積(PPA)創造了機會。
    的頭像 發表于 10-24 16:28 ?1391次閱讀
    AI如何重塑模擬和數字芯片<b class='flag-5'>工藝</b><b class='flag-5'>節點</b>遷移

    目前最先進的半導體工藝水平介紹

    1.8nm)制程 技術亮點:這是英特爾首個2納米級別制程節點,采用了全環繞柵極晶體管(Gate-All-Around, GAA)和背面供電網絡(Backside Power Deliv
    的頭像 發表于 10-15 13:58 ?2008次閱讀

    極細同軸線束需要同時傳信號+供電時該怎么選?

    極細同軸線束在同時傳輸信號和供電時,關鍵在于合理的線束結構設計和電磁兼容處理。工程師需要綜合考慮接口特性、供電需求、屏蔽方式和加工工藝,才能在保證高速信號質量的同時,滿足
    的頭像 發表于 09-28 15:18 ?1432次閱讀
    極細同軸線束<b class='flag-5'>需要</b>同時傳信號+<b class='flag-5'>供電</b>時該怎么選?

    【「AI芯片:科技探索與AGI愿景」閱讀體驗】+工藝創新將繼續維持著摩爾神話

    工藝節點進入5nm、3nm,這些連接用的金屬線的間距也在縮小,這就會導致金屬表面散射和晶界散射等效應,并使金屬的電阻率顯著增加。 為確保更低的直流電壓降,便提出了使用晶背
    發表于 09-06 10:37

    晶圓背面磨削工藝中的TTV控制深入解析

    在半導體制造的精密世界里,每一個微小的改進都可能引發效率的飛躍。今天,美能光子灣科技將帶您一探晶圓背面磨削工藝中的關鍵技術——總厚度變化(TTV)控制的奧秘。隨著三維集成電路3DIC制造技術
    的頭像 發表于 08-05 17:55 ?4311次閱讀
    晶圓<b class='flag-5'>背面</b>磨削<b class='flag-5'>工藝</b>中的TTV控制深入解析

    晶圓背面二氧化硅邊緣腐蝕的原因

    在集成電路生產過程中,晶圓背面二氧化硅邊緣腐蝕現象是一個常見但復雜的問題。每個環節都有可能成為晶圓背面二氧化硅邊緣腐蝕的誘因,因此需要在生產中嚴格控制每個工藝參數,尤其是對邊緣區域的處
    的頭像 發表于 07-09 09:43 ?946次閱讀

    廣明源172nm晶圓光清洗方案概述

    在半導體制造中,清洗工藝貫穿于光刻、刻蝕、沉積等關鍵流程,并在單晶硅片制備階段發揮著重要作用。隨著技術的發展,芯片制程已推進至28nm、14nm乃至更先進節點
    的頭像 發表于 04-24 14:27 ?832次閱讀

    絲桿支撐需要定期維護嗎?

    絲桿支撐座在機械設備運行中承擔著重要作用,定期維護是確保其性能、延長使用壽命以及保障設備穩定運行的重要環節。
    的頭像 發表于 03-20 17:44 ?687次閱讀
    絲桿<b class='flag-5'>支撐</b>座<b class='flag-5'>需要</b>定期維護嗎?

    曝三星已量產第四代4nm芯片

    據外媒曝料稱三星已量產第四代4nm芯片。報道中稱三星自從2021年首次量產4nm芯片以來,每年都在改進技術。三星現在使用的是其最新的第四代4nm工藝
    的頭像 發表于 03-12 16:07 ?1.3w次閱讀