實驗名稱：聚合物薄膜電學(xué)性能的測試

實驗內(nèi)容：電學(xué)性能包括介電頻譜特性、擊穿特性、電滯回線等，下文將對其簡單介紹。

測試設(shè)備：高壓放大器、阻抗分析儀、電滯回線測量儀、鐵電測試儀等。

圖1：聚合物擊穿電場強度測試示意圖

實驗過程：

（1）介電頻譜特性：聚合物薄膜的介電頻譜特性反應(yīng)了電容在交流電場下隨電場頻率變化的規(guī)律。本論文使用4294A型阻抗分析儀對介電頻譜進行測試。

（2）擊穿特性：由于聚合物的非理想特性，當(dāng)向聚合物施加一定電壓時，固體電介質(zhì)中的載流子會定向移動，形成微弱的電導(dǎo)電流；但是當(dāng)施加電壓超過某一臨界值時，電介質(zhì)中電導(dǎo)電流急劇增大而使電介質(zhì)失去絕緣特性變?yōu)閷?dǎo)通狀態(tài)，這一現(xiàn)象被稱為電介質(zhì)的擊穿。

（3）電滯回線測量：為了獲得聚合物薄膜在充電與放電過程中電位移矢量和電場強度的關(guān)系，通常使用電滯回線測量儀來測量聚合物材料的充放電曲線，由此獲得材料的儲能特性，如極化強度、充放電效率、充電能量密度、放電能量密度等信息。

（4）絕緣電阻率：由于介質(zhì)材料并非完美的絕緣體，因此在樣品中普遍存在有漏導(dǎo)電流，漏導(dǎo)電流越大，表明材料的絕緣特性越差，這也意味著在高壓工況下所產(chǎn)生的損耗越多。

實驗結(jié)果：

闡述了本論文所用到的聚合物薄膜的表征方法，最后簡單介紹了聚合物介質(zhì)膜的電學(xué)性能測試方法，同時搭建電場強度測試實驗系統(tǒng)。

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