此前致晟光電提到過這樣一個觀點:一顆 “失效的芯片”,實則是幫助企業(yè)認(rèn)清整個制造流程的最佳老師。
順著這一思路,我們將深入探討失效分析(Failure Analysis, FA)—— 在芯片測試過程中,當(dāng)樣品出現(xiàn)電性不達(dá)標(biāo)、熱穩(wěn)定性不足或結(jié)構(gòu)一致性偏差等問題時,所必須開展的關(guān)鍵工作。它通過對失效現(xiàn)象的復(fù)現(xiàn)、觀測與邏輯推理,最終挖掘出失效的根本原因與內(nèi)在機(jī)理,不僅是一種專業(yè)的分析工具,更是品質(zhì)閉環(huán)機(jī)制的核心體現(xiàn)。
失效分析的完整流程
標(biāo)準(zhǔn)失效分析流程與設(shè)備對照
1. 外觀檢查:由表及里的初始環(huán)節(jié)
作為失效分析的起點,此步驟通常借助光學(xué)顯微鏡系統(tǒng)對芯片表面進(jìn)行顯微觀察,排查是否存在破損、污染物殘留、邊緣崩裂、引線斷裂等外顯缺陷。
2. 內(nèi)部分析:非破壞性的深層掃描
當(dāng)外觀檢查未發(fā)現(xiàn)明顯異常時,需進(jìn)一步對封裝內(nèi)部進(jìn)行 “透視”。此時可運用 X-Ray 或超聲掃描顯微鏡開展封裝完整性檢測,重點排查斷線、金球脫落、分層等結(jié)構(gòu)性隱患。
3. 熱點測試(封裝前)
這一步驟的關(guān)鍵價值日益凸顯 —— 即便芯片處于封裝狀態(tài),借助熱紅外顯微鏡仍可實時觀測其工作時產(chǎn)生的熱點,為早期缺陷識別提供重要依據(jù)。
致晟推薦:在熱紅外檢測技術(shù)領(lǐng)域,致晟光電的 RTTLIT 實時瞬態(tài)鎖相紅外熱分析技術(shù)擁有完全自主知識產(chǎn)權(quán)。該技術(shù)無需破壞芯片封裝,即可快速定位異常發(fā)熱點及失效點,在功率器件、車規(guī)芯片等多個分析案例中展現(xiàn)出極高靈敏度,在無損定位方面大幅提升了檢測效率,目前已逐步替代部分進(jìn)口設(shè)備。

致晟光電Thermal EMMI——熱點測試案例
4. 開封 / 去層處理 & 熱點微光測試(裸晶階段)
若封裝級檢測手段仍無法精準(zhǔn)判斷問題根因,則需通過物理開封處理,將芯片裸晶暴露,為后續(xù)更精細(xì)的測試流程鋪路。
再進(jìn)入更為精準(zhǔn)的失效點定位階段,可采用 InGaAs EMMI、OBIRCH、Thermal EMMI 等高精度系統(tǒng)對裸晶進(jìn)行電激發(fā)測試,精準(zhǔn)定位漏電、短路或偏置失調(diào)等問題。
致晟產(chǎn)品優(yōu)勢:致晟光電的微光顯微鏡(EMMI)與熱紅外顯微鏡(Thermal EMMI),能夠在低光照條件下捕捉微弱發(fā)光及熱信號,具備亞微米級定位精度;同時配合智能算法實現(xiàn)失效熱點的快速判斷,已廣泛應(yīng)用于多家半導(dǎo)體客戶在功率器件、電源 IC、模擬芯片等領(lǐng)域的失效分析工作。

致晟光電RTTLIT E20 微光顯微鏡
5. 物理分析
通過無損定位后,進(jìn)一步的通過掃描電鏡(SEM)、聚焦離子束(FIB)、能譜分析(EDS)、透射電鏡(TEM)等手段,對失效位置的物理結(jié)構(gòu)、化學(xué)成分進(jìn)行深入剖析。這一步驟通常是整個流程中成本最高、操作最復(fù)雜的環(huán)節(jié)之一。
6. 確定失效機(jī)理
工程師綜合前期所有測試數(shù)據(jù)與物理分析結(jié)果,結(jié)合設(shè)計規(guī)范與工藝流程,最終判定失效原因 —— 可能涉及材料缺陷、工藝瑕疵、電性異常或環(huán)境應(yīng)力等多個維度。
7. 糾正措施 & 驗證閉環(huán)
當(dāng)失效機(jī)理明確后,工程團(tuán)隊將聯(lián)合設(shè)計、制造、封裝等多部門制定針對性調(diào)整方案,例如設(shè)計冗余優(yōu)化、封裝工藝改進(jìn)、清洗流程升級等;并在新一輪測試中完成驗證,確保問題不再重現(xiàn),形成完整的品質(zhì)閉環(huán)。
結(jié)尾:
失效分析絕非流程的終點,而是開啟新一輪質(zhì)量提升循環(huán)的起點。在致晟光電看來每一次電性失效背后,都隱藏著優(yōu)化產(chǎn)品與流程的寶貴機(jī)會。我司從 RTTLIT 技術(shù)的獨立研發(fā),到微光 / 熱紅外系統(tǒng)的持續(xù)迭代,致晟光電正以技術(shù)自主、安全可信的紅外檢測方案,為中國芯片產(chǎn)業(yè)打造 “看得清、抓得住” 的品質(zhì)保障體系。
若您正在尋找一套高效、靈敏且適配性強(qiáng)的失效分析工具,歡迎深入了解蘇州致晟光電科技有限公司熱紅外 / 微光顯微鏡系列系統(tǒng)。
審核編輯 黃宇
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