此前，2025年5月9日至12日， EDA國際研討會（International Symposium of EDA，ISEDA）在中國香港成功舉辦。該研討會旨在探索新的挑戰、展示前沿技術，并為電子設計自動化（EDA）領域提供預測未來研究方向的機會。

廣立微執行副總裁陸梅君在大會上宣布ISEDA2026將在新加坡舉辦。他表示期待2026年與各位專家學者相聚在充滿活力的花園城市新加坡，共同開啟EDA領域的新篇章。

廣立微副總裁潘偉偉博士受邀參加Reliability Engineering and Post-Layout Optimization專題研討會，并發表了主題為《Pattern-Driven Yield Enhancement Solutions for Semiconductor Design》的演講。潘博士向與會者報告了需要更加重視系統性缺陷中風險圖形造成的良率損失問題。隨著集成電路設計密度和復雜度的不斷增加，制造工藝的日益復雜，系統性缺陷成為影響良率的主要因素，且影響在日益加大。系統性缺陷中的風險圖形是指在設計和制造過程中出現的一些特定圖形，雖然符合設計規則檢查，但在實際生產中卻成為影響良率的不可忽視的因素。

潘博士介紹了產業現有的圖形驅動的解決方案，來系統性地創建圖形庫，排查風險圖形，預測潛在風險，促進設計和制造優化，快速提升產品良率。同時她也講述這些方案對應的關鍵技術和挑戰，以及圖形感知設計，人工智能驅動的圖形優化等未來的發展方向。

廣立微作為EDA開放創新合作機制（EDA2）的理事長單位之一，在本次研討會上發揮了積極作用。公司不僅通過演講、學術發表，還通過設立展位全面展示了近年來的快速發展軌跡及其在EDA工具開發領域的創新成果吸引了國內外學術界與工業界眾多專家和同仁的關注。

ISEDA 2025大會不僅展現了濃厚的學術氛圍，還提供了包括主旨演講、技術研討、產業成果展示及學術論文發表等多樣化的活動。在本次大會中，被入選的題目為《Unsupervised Defect Detection Based on Self Supervised Transformers》的論文，由廣立微的機器學習專家和工程師葉倩倩完成。有效管理晶圓缺陷是提升生產效率的關鍵環節。相比傳統依賴人工專家進行的缺陷分析，基于深度學習的自動缺陷檢測技術可以顯著提高識別速度和準確性，使工程師能夠更迅速地定位問題根源并提升良率。然而，深度學習模型的訓練通常依賴大量人工標注，成本高昂，限制了其廣泛應用。為應對這一挑戰，我們提出了一種無需訓練數據的無監督缺陷定位方法。這一創新顯著減少了對人工標注的依賴，為未來全自動化大規模數據訓練奠定了基礎，對推動自動檢測技術的普及和發展有著重要影響。

在這場國際化的EDA領域學術盛宴中，廣立微技術團隊在開放融洽的交流氛圍里，與業界及學界的專家同仁們深入探討產業生態的創新方向與發展前景。面向未來，廣立微將充分整合企業與高校的資源和優勢，致力于推進可持續且深度的產學研合作與創新，推動未來技術的變革，引領EDA新境界！

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杭州廣立微電子股份有限公司（股票代碼：301095）是領先的集成電路EDA軟件與晶圓級電性測試設備供應商，公司專注于芯片成品率提升和電性測試快速監控技術，是國內外多家大型集成電路制造與設計企業的重要合作伙伴。公司提供EDA軟件、電路IP、WAT電性測試設備以及與芯片成品率提升技術相結合的整套解決方案，在集成電路設計到量產的整個產品周期內實現芯片性能、成品率、穩定性的提升，成功案例覆蓋多個集成電路工藝節點。