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ISO 16750-2:2023標準深度解讀

凌世電磁兼容 ? 來源:凌世電磁兼容 ? 作者:凌世電磁兼容 ? 2025-05-16 10:07 ? 次閱讀
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01標準定位與核心更新

ISO 16750-2:2023是國際標準化組織針對汽車電子電氣設備電氣負荷測試的新版本,適用于燃油車、新能源車及智能網(wǎng)聯(lián)汽車的電子部件驗證。相較于2012版,新版標準新增了部分內(nèi)容,重點強化了新能源與智能汽車的測試覆蓋范圍,具體變化包括:

4.3過電壓測試:增加了瞬態(tài)過電壓測試增加了跳躍啟動測試

4.4疊加交流電:紋波頻率增加到200kHz增加閉環(huán)監(jiān)控測試要求

4.6供電電壓瞬態(tài)變化:增加電源電壓微中斷測試,中斷時間<10us

4.7反極性測試:增加了過零點測試要求,必須配雙極性源

4.8接地和電源偏移:對于測試組合描述更明確,測試方法更具體化,需要供電端和接地端同時偏移

4.9開路試驗:要求在做單路斷開時,斷開時間<10us

4.10短路保護:增加負載過載測試項目

02核心測試項目解析

如無特殊規(guī)定設備的基本精度要求:頻率和時間:±5 %;電壓:±0.2 V;電流:±2 %;電感:±10 %;阻抗:±10 %;所有電壓曲線均為無負載

4.2 直流供電電壓

此測試的目的是驗證設備在最小和最大供電電壓下的功能。

wKgZO2gmndCAcTuFAAEgS5AUTdg883.pngwKgZPGgmndCAQnoNAAEso_iVqok306.pngwKgZO2gmndCAQtcHAAE-7Ng0is4215.png凌世設備連接示意圖wKgZO2gmndCAQtcHAAE-7Ng0is4215.png凌世設備連接示意圖

4.3過電壓

4.3.1.2 室溫及Tmin下跳躍啟動測試

此測試模擬從24V系統(tǒng)到12V系統(tǒng)的車輛跳啟動。一個模擬用例可以是使用24V系統(tǒng)的車輛進行跳啟動,但車輛不運行發(fā)動機(即在24V側(cè)不施加充電)。另一個用例可以是來自24V獨立電池組的跳啟動。此測試僅適用于12V系統(tǒng)。測試應在室溫條件下進行,也可以在Tmin條件下進行如果客戶與供應商達成一致,可以省略在Tmin條件下的測試。

wKgZPGgmndGAZE_3AAGHGO8dTyU664.pngwKgZO2gmndGAL_MAAACKzsjoVvk726.png

4.3.2 瞬時過電壓

此測試模擬當DUT受到開關負載或向電氣分配系統(tǒng)注入電流的負載影響時的情況。此測試對12v和24V系統(tǒng)都適用。

wKgZPGgmndKARXXmAACfYRqhBzY069.pngwKgZO2gmndKAF3RoAACEZiseDEc892.pngwKgZO2gmndKAF3RoAACEZiseDEc892.pngwKgZPGgmndOARVzHAAFgOmZ1NUo294.png凌世設備連接示意圖

4.4 疊加交流電

該測試旨在檢查組件對車載系統(tǒng)中的波紋(例如由交流發(fā)電機DC/DC轉(zhuǎn)換器引起)的免疫力。它規(guī)定了確定電子元件抗擾度的傳導電壓測試方法和程序。該方法同時應用于所有DUT電源線。對于具有冗余電源的DUT,客戶和供應商應就任何暴露組合達成一致。

wKgZO2gmndSACb9JAAF7FW6uopE397.pngwKgZPGgmndSAMP7oAAIGHVwLLW4725.pngwKgZO2gmndSAKW63AAFIie3jBD4723.pngwKgZO2gmndSAKW63AAFIie3jBD4723.pngwKgZPGgmndWAKQ0iAAHdN1Iz7tA477.png凌世設備連接示意圖wKgZPGgmndWAKQ0iAAHdN1Iz7tA477.png凌世設備連接示意圖

4.5 供電電壓緩升緩降

此測試模擬電池的逐漸放電和充電。此測試對12V和24V系統(tǒng)都適用。

wKgZO2gmndWAY-TkAAEgSpy289I271.png

4.6.1 供電電壓瞬時下降或中斷

此測試模擬常規(guī)保險絲元件在并聯(lián)電路中熔化的效果。此測試對12V和24V系統(tǒng)都適用。

wKgZPGgmndaAfh8jAADZA_4S4eE027.pngwKgZO2gmndaARi24AADZVsww1jo190.png

4.6.1.2電源電壓微中斷測試

該測試模擬了由于電源線的短路或開路(例如接觸故障、缺陷繼電器、繼電器觸點彈跳或從主電源切換到冗余電源)導致的電源電壓中的微中斷事件的影響。

wKgZPGgmndeAaYt4AADMMXrrrj0965.png

4.6.2 電壓下降時復位特性

此測試驗證DUT在不同電壓降下的復位行為。此測試適用于具有復位功能的設備,例如包含微控制器的設備。

wKgZO2gmndeADjBQAAGMCwkcIpU255.png

4.6.3 啟動特性

此測試驗證DUT在起動期間和起動后的行為。

wKgZPGgmndiANwCRAAElIduOEqA898.png

4.6.4拋負載測試

此測試模擬了在放電電池斷開連接時發(fā)生負載傾倒瞬變的情況,此時交流發(fā)電機正在與其他負載一起產(chǎn)生充電電流。測試B的嚴重程度(1、2、3或4)應由客戶和供應商商定。

wKgZO2gmndiAHgSeAAEebae3FFg591.pngwKgZPGgmndmAYq4mAAE471LWXvo769.pngwKgZPGgmndmAYq4mAAE471LWXvo769.pngwKgZO2gmndmAKbCMAAHV8XRRv3k814.png凌世設備連接示意圖

4.7 反向電壓

此測試檢查 DUT 在使用輔助啟動設備的情況下承受反向電池連接的能力。此測試適用于12 V系統(tǒng)(測試案例1或測試案例2)和24V系統(tǒng)(僅測試案例2)此測試不適用于:交流發(fā)電機;帶有鉗位二極管但無外部反向極性保護裝置的終端。

wKgZPGgmndqAGR1jAADpm0mA3Jc145.pngwKgZO2gmndqAFmt3AAEExkOE-f0615.png凌世設備連接示意圖

4.8 接地偏移

這個測試用于驗證在存在兩條或更多電源路徑的情況下組件的可靠運行(請注意,這并不一定等同于向DUT提供冗余電源)。例如,一個組件可以有電源地和信號地,這些是不同電路上的輸出(例如,對于圖18中給出的具有兩個接地連接和兩個電源連接DUT)。

wKgZPGgmndqAVkQ2AAEsYZPBCfI914.pngwKgZO2gmnduAdHXsAAE6_F74saU345.png凌世設備連接示意圖

4.9開路試驗

此測試模擬開放接觸條件,例如,如果一根電線或連接到DUT的電氣連接出現(xiàn)中斷。中斷類型可以是靜態(tài)或動態(tài)(松脫接觸)。靜態(tài)中斷通過測試方法1模擬,動態(tài)中斷通過測試方法2模擬。此測試適用于DUT的電源、接地、信號和負載電路。

wKgZPGgmndyAC-qJAADw20xVYd8014.pngwKgZO2gmndyAM6KdAADPM_8NxG0541.png凌世設備連接示意圖

4.10短路保護

這些測試模擬短路和過載到設備的輸入和輸出。

4.11耐電壓

此測試確保具有電隔離的電路的介質(zhì)耐受電壓能力。此測試僅適用于包含電感元件(如繼電器、電機、線圈)的系統(tǒng)/組件,或與具有電感負載的電路相連的系統(tǒng)/組件。故意在DUT的電隔離電流承載部件之間施加過電壓,可能會因電場而對絕緣性能產(chǎn)生負面影響。此測試會施加壓力給絕緣系統(tǒng),并檢查絕緣材料在電感負載斷開時承受更高電壓的能力。

4.12 絕緣電阻

該測試確保了避免電隔離電路和被測器件的導電部分之間的電流所需的歐姆電阻的最小值。該測試表明絕緣系統(tǒng)和材料的相對質(zhì)量。

標準相對應的測試設備

ISO 16750-2:2023 對應測試設備
4.2 直流供電電壓 VEP-7600+VEP-7640D
4.3.1長時間過電壓 VEP-7600+VEP-7640D
4.3.2 瞬時過電壓 VEP-7600+VEP-7640D
4.4 疊加交流電 VEP-7600+VEP-7640D+LFS-500+T-8000-100+電流探頭+電壓探頭
4.5 供電電壓緩升緩降 VEP-7600+VEP-7640D
4.6.1 供電電壓瞬時下降或中斷 VEP-7600+VEP-7640D
4.6.2 電壓下降時復位特性 VEP-7600+VEP-7640D
4.6.3 啟動特性 VEP-7600+VEP-7640D
4.6.4 甩負荷 VEP-7600+VEP-7650(A&B)(可用VEP-7600+VEP-7640供電)
4.7 反向電壓 VEP-7600+VEP-7640D
4.8 接地偏移 GBox-offset(可用VEP-7600+VEP-7640供電)
4.9.1 單線中斷 VMI-1016(可用VEP-7600+VEP-7640供電)
4.9.2 多線中斷 VMI-1016(可用VEP-7600+VEP-7640供電)


審核編輯 黃宇

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