本文介紹了為什么要用液態鎵作為FIB的離子源以及鎵離子束是如何產生的。
什么是FIB?
FIB,全名Focused Ion Beam,聚焦離子束,在芯片制造中十分重要。主要有四大功能:結構切割,線路修改,觀察,TEM制樣等。
為什么用金屬鎵做離子源?
鎵的熔點為 29.76°C,在室溫稍高的條件下即為液態,這使其非常適合操作。 液態鎵的蒸氣壓非常低(<10-13Torr),即使在高真空環境下也能保持穩定,不易揮發而污染真空腔。 ? 表面張力高,可以穩定地形成 Taylor cone,從而精確地提取離子。 ? 亮度高,束斑尺寸小,通常小于10nm,加工精度高。 ?
鎵離子束是如何產生的?

如上圖,液態鎵存儲在儲存器(Ga Reservoir)中,通過線圈(heater wires)加熱,使鎵保持液態。液態鎵通過毛細作用流向鎢針尖(W needle) 的表面,在鎢針尖和提取電極之間施加數十千伏的強電場,電場會集中在針尖處,使液態鎵受到電場力拉伸。 液態鎵在電場的作用下被拉伸成一個非常小的曲率半徑的錐形(Taylor cone),在Taylor cone的尖端,液態鎵的原子被強電場游離,形成鎵離子,離子以初始發射角約為50°的角度射出,經過下游的電磁透鏡聚焦,最終形成一個高亮度、高精度的高斯分布束斑(Gaussian Profile),即聚焦離子束。
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原文標題:FIB為什么要用液態鎵來做離子源?
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聚焦離子束掃描電子顯微鏡(FIB-SEM)的用途
為什么要用液態鎵作為FIB的離子源
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