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電子組件的自動(dòng)AXI射線檢測

aivs ? 來源:aivs ? 作者:aivs ? 2024-07-19 09:39 ? 次閱讀
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檢查PCBA缺陷的AOI、3D AOI系統(tǒng)有一個(gè)局限性:即使是AOI也無法目視檢查人眼隱藏的東西。帶有平面端子的組件(如BGA、CSP、倒裝芯片或QFN)的焊點(diǎn)通常不可見,現(xiàn)在每三個(gè)焊點(diǎn)中就有一個(gè)是隱藏的。然而,電子組件的可靠性本質(zhì)上與這些焊點(diǎn)的質(zhì)量有關(guān)。X射線檢測可以查看組件內(nèi)部,并可以顯著減少由于焊點(diǎn)故障而導(dǎo)致的故障。

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X 射線源位于 X 射線圖像探測器的對面并產(chǎn)生 X 射線。這些是像光一樣的電磁波。然而,由于波長短得多,它們能夠穿透物質(zhì)。穿透物體時(shí),部分 X 射線被吸收;物體穿過的面積越密集,被吸收的就越多。探測器拾取輻射,并根據(jù)強(qiáng)度以不同深淺的灰色顯示。在數(shù)字 X 射線圖像中,較致密或較厚的材料和區(qū)域通常看起來較暗,例如鐵或鉛。較薄和密度較低的區(qū)域看起來更亮,例如塑料、紙張或空氣等材料。這將創(chuàng)建眾所周知的 X 射線圖像,然后可以對其進(jìn)行顯示、數(shù)字處理和評估。

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在電子組件或組件的自動(dòng)在線3D AXI 射線檢測中,通過通常呈錐形的 X 射線束在輻射密封外殼中對試樣進(jìn)行 X 射線檢測。放大的 X 射線圖像記錄在下面的探測器上。X射線檢測系統(tǒng)可用作生產(chǎn)線的一部分(在線AXI)或單獨(dú)安裝的檢測島(離線3D X-RAY)。在這兩種情況下,試樣都通過皮帶模塊進(jìn)料,并在檢查后進(jìn)一步運(yùn)輸。全自動(dòng) 在線 AXI射線處理的持續(xù)時(shí)間對生產(chǎn)線的周期時(shí)間具有決定性意義。在線工藝通常用于大批量生產(chǎn)。對于原型分析、小批量或取樣,X射線檢測系統(tǒng)也用作手動(dòng)離線系統(tǒng)。在這里,機(jī)器是手工裝卸的,與生產(chǎn)線分離。

審核編輯 黃宇

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