隨著工業(yè)的迅猛發(fā)展,精密測量技術(shù)的重要性日益凸顯。位移測量作為幾何量精準(zhǔn)測定的關(guān)鍵,不僅要求極高的測量精度,還必須適應(yīng)多樣化的環(huán)境條件及材料特性,同時趨向于實(shí)現(xiàn)實(shí)時、無損傷的檢測方式。相較于傳統(tǒng)的接觸式測量技術(shù),光譜共焦位移傳感器以其高速、高精度和強(qiáng)適應(yīng)性等顯著優(yōu)勢脫穎而出。本文將深入探討光譜共焦位移傳感器在光伏板硅片測量領(lǐng)域的應(yīng)用。
硅片對射厚度檢測
檢測需求:
1. 對射安裝測試硅片的厚度。
2. 精度要求0.005mm
3. 速度要求:1s測試一片料
行業(yè)應(yīng)用|立儀光譜共焦對光伏板硅片厚度測量
檢測方式:雙鏡頭對心安裝,利用一個標(biāo)準(zhǔn)厚度的標(biāo)定塊,傳感器記錄下這個標(biāo)準(zhǔn)厚度,進(jìn)行標(biāo)定。然后將產(chǎn)品進(jìn)行測量,動態(tài)測量多個點(diǎn)位,將多個點(diǎn)位的值保存下來,去除最大值最小值,然后余下的數(shù)據(jù)做平均。

行業(yè)應(yīng)用|立儀光譜共焦對光伏板硅片厚度測量
檢測結(jié)果:測試五片料32組靜態(tài)重復(fù)性數(shù)據(jù):靜態(tài)重復(fù)精度最大值為2.013μm;
光伏板硅片柵線厚度測量
測量需求:測量太陽能光伏板硅片刪線的厚度(難點(diǎn):柵線不是一個平整面,自身有一定的曲率,對測量區(qū)域的選擇隨機(jī)性影響較大)。

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測試方法:單探頭在二維運(yùn)動平臺上進(jìn)行掃描測量——將需要掃描測量的硅片選擇三個區(qū)域進(jìn)行標(biāo)記,用光譜共焦單探頭單側(cè)測量(柵線厚度是柵線高度-基底的高度差),掃描過程中得到柵線的輪廓圖,柵線厚度=柵線高度與硅片基底的高度差。

行業(yè)應(yīng)用|立儀光譜共焦對光伏板硅片厚度測量

行業(yè)應(yīng)用|立儀光譜共焦對光伏板硅片厚度測量
測量結(jié)果:測量結(jié)果數(shù)據(jù)對比最大誤差區(qū)間為0.001μm左右。
審核編輯 黃宇
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