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華穗科技將攜雷達T/R組件自動測試系統,亮相2024雷達未來大會

華穗科技 ? 來源:華穗科技 ? 2024-05-09 14:43 ? 次閱讀
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華穗科技將于2024年5月12日-13日,于西安國際會展中心參加第四屆雷達未來大會。

展位號:B43

大會介紹

雷達未來大會是由中國雷達行業科技委發起的行業盛會,旨在匯聚雷達及電子信息工程領域和相關用戶行業的政、產、學、研、用、資等權威專家,共同探索與推動雷達及相關技術在各行各業的拓展應用,促進供應鏈、產業鏈的融合創新發展,實現雷達及相關行業攜手做強、做優、做大。

2024第四屆雷達未來大會將以“雷達鏈接國計民生,共建數智美好未來”為主題,于2024年5月12日在十三朝古都西安舉行。2024第四屆雷達未來大會組委會精心打造1場主論壇和18場"雷達與"系列主題分論壇,屆時將邀請多位院士作大會主旨報告,來自雷達及相關電子信息領域的專家學者、行業大咖齊聚一堂,聚焦雷達行業前沿技術突破、產業鏈安全暢通,共享“新機遇”、共瞻“新趨勢”、共促“新發展”,為促進傳統行業數智化轉型,助推全面建設社會主義現代化國家貢獻真知灼見。

參展產品

T/R組件自動測試系統

一、簡介

華穗科技推出的一站式雷達T/R組件自動測試系統,由自動測試機柜(核心VST系列產品)、上下料模組、搬運機器人、視覺檢測設備、插拔工裝等軟硬件組成。采用人機協同方式,可同時對多個產品進行測試,極大地提高了測試效率。

華穗科技作為優秀的測試系統一站式解決方案供應商,在應用VST系列產品構建的T/R組件黑燈測試系統中,實現了無人化生產,大幅提高了測試效率,并將誤差率盡可能降低。這種高度自動化的測試系統使得終端客戶將在競爭激烈的市場和蓬勃發展的需求市場中脫穎而出,產品質量和性能也得到了進一步提升。

產品特點:

? 24小時無人測試;

? 多接插件自動并行插拔;

? 快速裝拆設計;

? 信息上傳MES系統,全自動化測試。

產品指標:

? 頻率范圍 覆蓋X、Ku、K波段

產品功能:

S參數測量

? 通道增益特性

? 通道相位特性

? 端口駐波系數

? …… 噪聲系數測量

? 接受狀態噪聲系數

? …… 頻譜相關參數測量

? 諧波電平

? 雜散電平

? …… 交調測量

? ……

二、測試方法——黑燈測試

系統采用黑燈測試方法,可以提高效率、降低總體成本、減少人為裝插故障,真正實現降本增效。且一套設備可同時兼顧多個(4個及以上)測試機柜對多個產品(4個及以上)進行測試 ,極大地提高效率。操作人員只需完成將待測產品放入指定周轉料盒的放料工作和取走測試完成的產品的取料工作。

黑燈測試功能與特點:

實現測試產品的自動取放:組件自動上下料、自動插拔、裝配工藝檢測與指標測試;

具備無人化測試能力,7*24小時全天候工作;

同時兼容多種型號組件,通過更換工裝,實現快速換型;

生產過程全流程實時監控,設備狀態圖形化顯示(孿生系統);

設備互聯與遠程調控,具備上電順序自檢,自動故障診斷與恢復;

測試數據自動處理,測試結果保存于本地庫并可上傳;

具備一鍵自動化測試功能,可以實現儀器儀表的自動控制、測試軟件可以自動生成測試結果報表等;

過程記錄與質量追溯功能,為了保障產品和設備安全,配置視覺檢測模塊,用于對產品接插件的狀態進行拍照檢測和留存。及時發現產品和設備的異常,避免損失。同時可保存照片便于追溯,輔助提升產品質量;

三、關鍵技術——VST系列產品

通過靈活的配置和編程接口,VST系列產品可實現一站式全自動化的測試,減少了人工干預,滿足高通道的生產需求。其高精度信號發生和內嵌的實時分析功能,使得測試結果更加準確可靠。此外,VST可靈活配置以滿足高效自動測試條件,支持復雜的自動化測試環境,為T/R組件測試提供了更真實的應用場景。

72ae0936-0dba-11ef-a297-92fbcf53809c.png

傳統測試方法向黑燈測試方法轉變示意圖



審核編輯:劉清

聲明:本文內容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網站授權轉載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發燒友網立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用,如有內容侵權或者其他違規問題,請聯系本站處理。 舉報投訴
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原文標題:華穗科技——雷達T/R組件自動測試系統,亮相2024雷達未來大會

文章出處:【微信號:華穗科技,微信公眾號:華穗科技】歡迎添加關注!文章轉載請注明出處。

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