矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀作為射頻領(lǐng)域的重要測量儀器,常用來測試S參數(shù)、增益、損耗、阻抗、隔離度等指標(biāo)。但對于大批量研發(fā)、生產(chǎn)測試的企業(yè)來說,手動測試或者半自動化測試程序復(fù)雜、效率低,無法滿足大批量測試的需求。因此,網(wǎng)絡(luò)分析儀全自動化測試逐漸成為客戶首選的測試方式。
ATECLOUD作為一個智能自動化測試平臺,從用戶測試需求出發(fā),不斷迭代升級,開發(fā)出NSAT-1000測試系統(tǒng),解決用戶測試痛點。系統(tǒng)可針對射頻天線、濾波器、放大器、衰減器等射頻器件進(jìn)行大批量測試,測試項目包括S參數(shù)、增益、損耗等指標(biāo)。納米軟件致力于為企業(yè)的生產(chǎn)、研發(fā)測試提供一站式自動化測試解決方案。從儀器選型到系統(tǒng)開發(fā)、再到數(shù)據(jù)洞察、最終導(dǎo)出數(shù)據(jù)報告,幫助企業(yè)實現(xiàn)智能測試和數(shù)字化管理。

NSAT-1000測試系統(tǒng)
北京某芯片公司需要用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀和探針臺測試晶圓的S參數(shù),由于一張晶圓上有一萬左右的芯片,之前使用的半自動化測試系統(tǒng)效率低,測試速度慢,測試成本高,因此急需一個全自動化測試系統(tǒng),提高測試效率。
在用NSAT-1000系統(tǒng)測試時,實現(xiàn)了測試系統(tǒng)與ACCRETECH探針臺和網(wǎng)絡(luò)分析儀之間的通訊,通過探針臺獲取產(chǎn)品狀態(tài)、位置信息,配合網(wǎng)絡(luò)分析儀完成產(chǎn)品測試。
首先,測試系統(tǒng)會讀取探針臺的狀態(tài),判斷是否可以開始測試;
其次,在測試過程中,系統(tǒng)會采集網(wǎng)絡(luò)分析儀的數(shù)據(jù),通過系統(tǒng)預(yù)設(shè)的流程完成S參數(shù)自動化測試,并將測試結(jié)果回傳給探針臺,從而實現(xiàn)晶圓的批量測試,判斷晶圓S參數(shù)是否達(dá)標(biāo)。
最后,系統(tǒng)的數(shù)據(jù)洞察功能會對晶圓的S參數(shù)進(jìn)行多圖表類型的自動化分析,節(jié)省人工分析時間和成本。此外,系統(tǒng)也會自動生成數(shù)據(jù)報告,報告模板可根據(jù)需求自定義,滿足用戶對報告的需求。
通過NSAT-1000測試系統(tǒng),矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀能夠更加智能、高效地完成測試任務(wù),節(jié)省用戶的時間和精力。
審核編輯 黃宇
-
芯片
+關(guān)注
關(guān)注
463文章
54007瀏覽量
465952 -
測試
+關(guān)注
關(guān)注
9文章
6201瀏覽量
131350 -
自動化測試
+關(guān)注
關(guān)注
0文章
268瀏覽量
27788 -
晶圓
+關(guān)注
關(guān)注
53文章
5408瀏覽量
132280
發(fā)布評論請先 登錄
「直驅(qū)技術(shù)」破解晶圓測試精度瓶頸:雅科貝思超精密運動平臺如何實現(xiàn)±0.5um重復(fù)定位?
芯片CP測試與FT測試的區(qū)別,半導(dǎo)體測試工程師必須知道
PCB板ATE測試探針卡設(shè)計和生產(chǎn)的核心技術(shù)要求,你知道多少?
海綿沖擊疲勞試驗機(jī)的自動化批量測試與數(shù)據(jù)采集
CI/CT自動化測試解決方案
射頻測試系統(tǒng)ATECLOUD-RF中都包含哪些設(shè)備?
測試小白3分鐘上手,零代碼自動化測試平臺,15分鐘搭建自動化測試方案
同惠LCR測試儀如何實現(xiàn)高效批量自動化測量
TOKYO SEIMITSU UF 系列二手探針臺 UF2000|現(xiàn)場驗機(jī)測試服務(wù)
季豐電子嘉善晶圓測試廠如何保障芯片質(zhì)量
電源模塊的短路保護(hù)如何通過自動化測試軟件完成測試
射頻芯片自動化測試解決方案案例分享
現(xiàn)代晶圓測試:飛針技術(shù)如何降低測試成本與時間
UTP系統(tǒng)通過ModBus協(xié)議對溫度傳感器的自動化測試介紹
NSAT-1000測試系統(tǒng)與ACCRETECH探針臺對接,助力晶圓芯片批量自動化測試
評論