射頻芯片的研發是國內外研發團隊的前沿選題，其優秀的性能特點，如高速、低功耗、高集成度等，使得射頻芯片在通信、雷達、電子對抗等領域具有廣泛的應用前景。面對射頻芯片日益增長的功能需求，針對射頻芯片的測試要求也逐漸提升，如何準確快速的完成射頻芯片的批量測試則成了眾多射頻芯片企業面臨的難題。

射頻晶圓芯片測試

為了滿足射頻芯片的大批量快速測試，采用自動化平臺配合矢量網絡分析和探針臺是大多數射頻芯片企業的選擇方案。那么這套方案是如何實現射頻芯片的測試呢？

以ATECLOUD自動化測試平臺為例，平臺在測試射頻芯片時可以直接控制矢量網絡分析儀和探針臺，通過探針臺定位被測晶圓芯片的坐標，通過網絡分析儀的采集測試數據，生成map圖，測試完成之后再將數據傳回平臺，測試結果也會實時展示在測試面板中，pass、fail指標自動判別測試結果，這樣即可完成一顆射頻芯片的自動化測試。而平臺中可以直接使用批量測試，直接通過平臺不斷重復上述操作即可實現快速批量測試。

射頻芯片測試項目

測試完成后，可以在平臺的記錄報告中查看所有產品的測試指標數據，包括測試時配置的參數、產品合格信息、測試項目參數等重要信息均可直接顯示。想要對數據進行對比分析則可以在數據洞察界面，查看對應方案的數據分析圖表，包括產品合格率、人員能效比、產品效率曲線對比、指標參數分布圖等各維度分析。

射頻芯片測試指標判斷

采用上述流程測試射頻芯片不僅可以實現射頻芯片的自動化批量測試，數據報告和數據分析的步驟也可以采用自動化的方式導出，大幅度提升測試的效率。

審核編輯 黃宇