臺階儀通過掃描被測樣品表面,獲取高分辨率的表面形貌數(shù)據(jù),能夠揭示微觀結(jié)構(gòu)的特征和性能。
了解工作原理和性能特點(diǎn)
臺階儀利用掃描探針在樣品表面上進(jìn)行微觀測量,通過探測探針和樣品表面之間的相互作用力,獲取表面形貌信息。具體而言,掃描探針通過細(xì)微的力變化,測量樣品表面的起伏程度以及凹凸部分的高度差。然后通過數(shù)據(jù)處理,形成高分辨率的圖像。
它能夠?qū)崿F(xiàn)納米級別的測量,對微觀結(jié)構(gòu)的細(xì)節(jié)進(jìn)行觀測和分析,揭示出表面的微觀特征;還具備高速掃描的能力,實(shí)現(xiàn)快速獲取樣品的形貌數(shù)據(jù)。

功能和作用介紹
作為一款超精密接觸式微觀輪廓測量儀,臺階儀可以對微米和納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波紋和表面粗糙度等的測量。測量參數(shù):
(1)臺階高度:能夠測量納米到330μm甚至1000μm的臺階高度;
(2)粗糙度與波紋度:可獲取粗糙度與波紋度相關(guān)的Ra、RMS、Rv、Rp、Rz等20余項(xiàng)參數(shù);
(3)翹曲與形狀:能夠測量樣品表面的2D形狀或翹曲。
臺階儀的應(yīng)用
臺階儀具有廣泛的適用范圍,在科學(xué)研究、材料表征、納米技術(shù)、半導(dǎo)體制造等領(lǐng)域都有應(yīng)用。如在半導(dǎo)體制造中,臺階儀可以用于檢測半導(dǎo)體材料表面的缺陷和形貌,為半導(dǎo)體器件的開發(fā)和生產(chǎn)提供可靠的數(shù)據(jù)參考。
測量晶圓表面粗糙度臺階儀具備出色的精確性和穩(wěn)定性,而且樣品適應(yīng)面廣,對測量工件的表面反光特性、材料種類、材料硬度都沒有特別要求。在材料科學(xué)、制造業(yè)、科研等領(lǐng)域都有著重要的應(yīng)用價值。相信隨著科技的不斷發(fā)展,臺階儀將會在測量領(lǐng)域發(fā)揮更加重要的作用。
臺階儀優(yōu)勢總結(jié)
1、高精度的測量能力
臺階儀在微觀表面形貌的測量中非常準(zhǔn)確,能夠滿足高精度測量的需求。CP系列臺階儀具有亞埃級分辨率,結(jié)合單拱龍門式設(shè)計降低環(huán)境噪聲干擾,確保儀器具有良好的測量精度及重復(fù)性。其500萬像素高分辨率彩色攝像機(jī),即時進(jìn)行高精度定位測量。

采用具有超微力可調(diào)和亞納米級分辨率的臺階儀測量ITO膜厚,高精度測量同時不損傷樣件本身。


2、快速測量的能力
臺階儀配備精密XY位移臺、360°電動旋轉(zhuǎn)平臺和電動升降Z軸,可對樣品的XYZ、角度等空間姿態(tài)進(jìn)行調(diào)節(jié),提高測量精度及效率。快速獲取表面的高程數(shù)據(jù),將測量結(jié)果以圖形的形式展現(xiàn)出來。這提高了測量效率,減少了測量時間。
3、廣泛的適用范圍
臺階儀可以對各種不同材料的表面進(jìn)行測量,包括金屬、塑料、玻璃等材料。不管是平坦的表面還是曲面,臺階儀都能夠輕松應(yīng)對,確保測量結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。
典型應(yīng)用

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