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LED燈具可靠性測(cè)試方案-Lab Companion

北京宏展儀器 ? 來源:北京宏展儀器 ? 作者:北京宏展儀器 ? 2024-01-11 16:48 ? 次閱讀
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目前,國內(nèi)不少廠家在生產(chǎn)燈具后僅僅對(duì)燈具進(jìn)行簡單的老化測(cè)試后出貨,顯然這是無法檢驗(yàn)出LED的壽命期的失效情況,同時(shí)無法保證產(chǎn)品的質(zhì)量,因此后期可能會(huì)有不少的客戶退貨返修。也有部分廠家對(duì)燈具做高溫、濕度相關(guān)的可靠性試驗(yàn),對(duì)失效的產(chǎn)品進(jìn)行部件或者材料更換,直到通過測(cè)試則選用。雖然此模式可以簡單的完成產(chǎn)品的設(shè)計(jì),然而未對(duì)失效的產(chǎn)品的失效根本原因進(jìn)行分析,對(duì)此后的技術(shù)發(fā)展有很大的阻礙作用。

Lab Companion 實(shí)驗(yàn)室在燈具可靠性測(cè)試方面有豐富的經(jīng)驗(yàn)及雄厚的實(shí)力,為國內(nèi)眾多燈具廠提供LED可靠性試驗(yàn)及其試驗(yàn)后的失效分析和技術(shù)咨詢。我們有專業(yè)的團(tuán)隊(duì)、技術(shù)與積累的行業(yè)經(jīng)驗(yàn),能夠準(zhǔn)確快速的找到可靠性測(cè)試或者認(rèn)證測(cè)試后燈具失效的原因。通過失效分析確定LED的失效機(jī)制,在生產(chǎn)工藝以及應(yīng)用層面進(jìn)行研究改善,提高LED燈具的可靠性。LED燈具失效模式主要分為芯片失效、封裝失效、高溫失效、過流失效以及裝配失效。通過解剖失效的燈具綜合分析,掌握LED失效的根本原因,才能在實(shí)踐中確實(shí)提高LED燈具的質(zhì)量。不少客戶的燈具在老化測(cè)試、可靠性試驗(yàn)后出現(xiàn)死燈或者光衰嚴(yán)重導(dǎo)致的失效,通過我們找到了失效分析根本原因,從而改進(jìn)燈具的缺陷,提高燈具的可靠性。
復(fù)式高低溫試驗(yàn)箱.png

服務(wù)客戶: LED照明廠、燈具代理商、燈具經(jīng)銷商、裝修公司

具體測(cè)試方案:

一、高溫高壓及其沖擊測(cè)試

測(cè)試方法:

1、將5款LED燈具放置在一個(gè)室溫為60℃的房間;

2、通過調(diào)壓器將LED燈具的輸入電壓調(diào)為最大額定輸入電壓的1.1倍;

3、接通電源,點(diǎn)燈24H,并觀察燈具是否有損壞、材料受熱變形等異常現(xiàn)象;

4、點(diǎn)燈測(cè)試后,通過繼電器控制燈具在此環(huán)境下進(jìn)行沖擊測(cè)試,測(cè)試設(shè)置為:點(diǎn)燈20s、熄燈20s,循環(huán)100次。

測(cè)試要求:

A、燈具在經(jīng)過高溫高壓測(cè)試后,不能發(fā)生表面脫漆、變色、開裂、材料變形等異?,F(xiàn)象;

B、燈具在經(jīng)過沖擊測(cè)試后,不能發(fā)生漏電、點(diǎn)燈不亮等電氣異?,F(xiàn)象。

二、低溫低壓及其沖擊測(cè)試

測(cè)試方法:

1、將5款LED燈具放置在一個(gè)-15℃的環(huán)境下;

2、通過調(diào)壓器將LED燈具的輸入電壓調(diào)為最小額定輸入電壓的0.9倍;

3、接通電源,點(diǎn)燈24H,并觀察燈具是否有損壞、材料受熱變形等異?,F(xiàn)象;

4、點(diǎn)燈測(cè)試后,通過繼電器控制燈具在此環(huán)境下進(jìn)行沖擊測(cè)試,測(cè)試設(shè)置為:點(diǎn)燈20s、熄燈20s,循環(huán)100次。

測(cè)試要求:

A、燈具在經(jīng)過低溫低壓測(cè)試后,不能發(fā)生表面脫漆、變色、開裂、材料變形等異?,F(xiàn)象;

B、燈具在經(jīng)過沖擊測(cè)試后,不能發(fā)生漏電、點(diǎn)燈不亮等電氣異?,F(xiàn)象。

三、常溫常壓沖擊測(cè)試

測(cè)試方法:

1、將5款LED燈具放置在一個(gè)室溫為25℃的環(huán)境下;

2、按LED燈具的額定輸入電壓接通電源點(diǎn)燈;

3、通過繼電器控制燈具在常溫常壓下進(jìn)行沖擊測(cè)試,測(cè)試設(shè)置為:點(diǎn)燈30s、熄燈30s,循環(huán)10000次。

測(cè)試要求:

A、燈具在經(jīng)過常溫常壓沖擊測(cè)試后,不能發(fā)生漏電、點(diǎn)燈不亮等電氣異?,F(xiàn)象。

審核編輯 黃宇

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