12月16日消息,近日國家知識識產權局公告,華為技術有限公司申請一項名為“晶圓處理裝置和晶圓處理方法”的專利獲批,公開號CN117219552A,申請日期為2022年6月。
專利摘要顯示,本公開的實施例涉及晶圓處理裝置和晶圓處理方法。
晶圓處理裝置包括:晶圓載臺,晶圓載臺可沿旋轉軸線旋轉;機械臂,包括機械手,用于搬運晶圓并將晶圓放置在晶圓載臺上;控制器;以及校準組件。
包括:光柵板,相對于晶圓載臺固定;光源,相對于光柵板固定;以及成像元件,固定設置在機械臂上,并且適于接收從光源發出的、透過光柵板的光。
其中,控制器被配置成基于成像元件對接收到的光的檢測,控制機械臂或機械臂上的調整裝置來調整晶圓的位置。

在晶圓載臺承載晶圓的情況下,光柵板和成像元件分別位于晶圓載臺的上表面所在平面相對兩側,上表面用于承載晶圓。
本公開的實施例提供的裝置和方法能夠提高晶圓對準效率和對準精度。
據悉,截至2022年底,華為持有超過12萬項有效授權專利,主要分布在中國、歐洲、美洲、亞太、中東和非洲。
其中,華為在中國和歐洲各持有4萬多項專利,在美國持有22000多項專利。



-
晶圓
+關注
關注
53文章
5441瀏覽量
132648 -
華為
+關注
關注
218文章
36138瀏覽量
262547 -
精度
+關注
關注
0文章
274瀏覽量
20828
原文標題:華為重磅新專利公開:能提高晶圓對準效率、精度
文章出處:【微信號:semiwebs,微信公眾號:芯通社】歡迎添加關注!文章轉載請注明出處。
發布評論請先 登錄
智測電子 TC Wafer 晶圓有線測溫系統 半導體高精度多點測溫方案
「直驅技術」破解晶圓測試精度瓶頸:雅科貝思超精密運動平臺如何實現±0.5um重復定位?
晶圓搬運機器人搭配Aligner尋邊器,能提升定位傳輸效率嗎?
上銀晶圓搬運機器人的重復定位精度能否滿足半導體高精度傳輸要求?
【新啟航】玻璃晶圓 TTV 厚度在光刻工藝中的反饋控制優化研究
降低晶圓 TTV 的磨片加工方法
瑞樂半導體——TC Wafer晶圓測溫系統持久防脫專利解決測溫點脫落的難題
華為重磅新專利公開:能提高晶圓對準效率、精度
評論