兩種方法： 時域和頻域測試，如下：

?方法1. ATE time measurement unit （ TMU）測試。（時域，需要額外的TMU license，因此常不采用。）

實施步驟：ATE 構造TMU TASK。TMU可以非常高精度地根據task設置trigger到上升沿的時刻，因此可以通過兩個上升沿的差值計算出頻率，支持多次采樣，如下圖所示：

?方法2. 構造采樣向量，離散傅里葉公式計算頻譜，頻譜的最大和第2大頻率轉換即為待測信號頻率。（頻域）

?a）預先構造一條全L的向量，假設叫做PLL_sample.

?b） 運行DFT PLL向量的測試項。運行后， 不復位的情況下DUT此時穩定輸出時鐘信號。

?c） 運行預先構造好的向量PLL_sample，收集fail cycle，也就是ATE的error
map。獲得一串0/1組成的一維序列，如下圖（點擊可放大）：

?d）。對獲得一維序列進行漢明窗口卷積后，使用快速離散傅立葉變換獲得頻譜。通過頻譜可以相當高精度的獲得輸出的頻率，通過spec進行分bin。

實際步驟：首先應用DSP_FFT與漢明窗口。然后搜索頻譜第一大主頻kmax 和第二大頻，（kmax-1 或者kmax+1）。如圖所示，第1大和第2大頻率成為關鍵參數。

核心為兩個公式：