參數掃描工具在電路的設計和驗證階段非常有用，通過掃描某個變量的一組值可以輕松找到此參數的最佳值，減少手動優化的次數。以下將介紹在Cadence IC中兩種參數掃描的方法。

搭建實例電路，本例子是一個T形衰減結構，通過掃描查看三個電阻的值如何影響S21和S11。

R1與R2范圍為20Ω到30Ω，步進為1Ω；R3范圍為30Ω到40Ω，步進為1Ω。

1使用ADE L中的Parametric Analysis

搭建好電路后點擊Launch > ADE L，設置S參數仿真如下。

點擊Tools > Parametric Analysis，設置參數掃描

點擊綠色按鈕開始仿真，仿真結束后會彈出結果框。

2使用ADE Explorer

前一種方法一次只掃描一個變量，對于簡單的電路來講這樣速度很慢，如果能設置一次掃描多個變量這樣會節省很多時間，但是Parametric Analysis工具并未提供這樣的選項。好在另一個工具ADE Explorer可設置，因此現在選擇用此工具來做參數掃描。

搭建好電路后點擊Launch > ADE Explorer，打開ADE Explorer。

由于之前保存過仿真設置，現在只需要點擊菜單欄的Session > Load ADE L State即可將之前的仿真設置導入，同樣需要設置R1-R3的范圍。設置好后如下所示

先不要點仿真運行按鈕，現在設置同時運行的任務數。

點擊菜單欄Setup > Job Setup，彈出對話框，在Max.Job輸入同時運行的任務數即可。

請注意太多的任務數會讓電腦卡死，我的經驗是根據電腦核心數來設置，核心數對應任務數，若是虛擬機內存也不影響設置太小。

點擊右側運行按鈕你會發現這樣參數掃描的速度比方法一快很多。

實測，方法二總共1331個點，掃描完只需要80s（虛擬機環境10核10G內存）.