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筑波科技與美商泰瑞達攜手ETS開創化合物半導體IC動態測試新紀元

半導體芯科技SiSC ? 來源:筑波科技 ? 作者:筑波科技 ? 2023-09-04 16:53 ? 次閱讀
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來源:筑波科技

筑波科技(ACE Solution)與美商泰瑞達(Teradyne)攜手合作,推出ETS GaN Mos、Power Module、IGBT測試整合方案,為半導體行業市場帶來突破性的競爭優勢。半導體功能測試(FT)向來需要克服各種挑戰,包括復雜的案例設計、執行和系統維護、數據分析管理,以及對測試環境穩定性的高度要求。如何以單一機臺實現CP與FT測試的一機多用,實現DUT批次特性驗證,產線大批量生產並兼顧「動態和靜態」測試,成為了業界關注的焦點。

ETS 動態測試整合方案結合多種專為IPM/PIM測試而設計之硬體配置(包括Teradyne ETS-88、PDU、OSCILLOSCOPE、LCR Meter和Test Head),ETS-88擁有雙扇區設計,為系統帶來高度靈活性,使其能在LAB環境下驗證CP&FT。該方案集成動態RDSon測試和AC測試功能,其獨特一體化測試頭設計,更在靜動態測試實現重大突破,確保高度的穩定整合與便利。

該方案展現業界領先的多項優勢:DC測試提供1000V/100A (Option: 3KV/1KA)、IV source (12A)、AC測試(2KV/2KA)、SC測試(8KA)、支持動態RDSon、至多10組的多脈沖測試、動靜一體式的測試頭、小于20nH的測試頭雜散電感、最小的電流精度nA等,同時提供多Site的FT測試和CP測試,搭配標準軟件客制化,整體開發周期短于兩個月,同時能夠獲得本地服務支持??傮w而言,ETS GaN Mos FT以其價格合理、靈活性高和一體化整合等特點,為客戶帶來全新測試體驗。

透過與泰瑞達ETS的合作,筑波科技為客戶提供全面的解決方案,實現高效、高便捷性的測試。ETS GaN Mos整合四大關鍵性能:業界領先的高測試效率、100%高穩定性、靈活高效的動態測試性能,以及自主研發的便捷使用及調適功能軟件。這些性能實現重復循環測試,支持任意脈沖數開關測試,實現不同電流等級開關參數的一次性測試,不影響測試時間。此外,還支持多模式的短路電流測試,可實現上下管單管短路和上下管直通短路測試,并可選擇VIN和ITRIP(CSC)作為關斷信號,測試程序的自動轉載及數據輸出工具一鍵操作,在批次測試結束時自動生成Excel格式數據,實現繼電器的可視化調適和壽命管控,以及測試項目的快速選擇工具。

筑波科技結合泰瑞達ETS在全球超過6600臺以上的裝機量市場優勢,共同提供軟件客制化整合策略:融合方案整合設計(探針臺/卡、分選機、Load Board、Socket之一站式ATE連接DUT設計)、特殊環境模擬設備、ETS系列、研發類One Box機臺,實現AC to DC一體測試(AC/DC),現在到未來的一機實現(650 vs 3KV),單工位到多工位的一架多位(1~16 Site),從研發到量產(CP/FT/Module)、單機到整合(Customized Software)等全方位方案。筑波科技在臺灣及中國深圳設有半導體工程中心,可提供本地化的即使服務。

關于筑波科技(ACE Solution)

筑波科技成立于2000年,位于臺灣新竹,在中國蘇州和深圳設有分公司。我們的使命是提供訂制的測試解決方案,以滿足電氣元件、設備和系統制造商的客戶需求,通過合作伙伴提供技術解決方案。我們專注于射頻、毫米波和太赫茲領域,擁有專業的技術支援團隊,提供專業、創新和多功能的綜合技術和解決方案。

審核編輯:湯梓紅
聲明:本文內容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網站授權轉載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發燒友網立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用,如有內容侵權或者其他違規問題,請聯系本站處理。 舉報投訴
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