国产精品久久久aaaa,日日干夜夜操天天插,亚洲乱熟女香蕉一区二区三区少妇,99精品国产高清一区二区三区,国产成人精品一区二区色戒,久久久国产精品成人免费,亚洲精品毛片久久久久,99久久婷婷国产综合精品电影,国产一区二区三区任你鲁

0
  • 聊天消息
  • 系統消息
  • 評論與回復
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學習在線課程
  • 觀看技術視頻
  • 寫文章/發帖/加入社區
會員中心
創作中心

完善資料讓更多小伙伴認識你,還能領取20積分哦,立即完善>

3天內不再提示

英飛凌碳化硅晶圓處理黑科技——冷切割

英飛凌工業半導體 ? 2023-05-18 10:36 ? 次閱讀
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

近兩年新能源汽車和光伏儲能市場的火熱,讓半導體供應上升到了很多公司戰略層面的考慮因素。特別是SiC的供應更加緊俏。最近幾年用戶對SiC的使用更有經驗,逐漸發揮出了其高效率高功率密度的優點,正在SiC使用量增大的階段,卻面臨了整個市場的缺貨的狀態。碳化硅功率器件缺貨有很多因素,目前前道是最大的瓶頸,特別是前道的“最前端” ,SiC襯底片和外延片是目前缺貨最嚴重的材料。

面對這種問題,作為功率半導體的領頭羊英飛凌又有哪些舉措呢?一方面,英飛凌與多家晶圓廠簽訂長期供貨協議推動其碳化硅(SiC)供應商體系多元化,保證晶圓供應。就在本月,英飛凌與中國碳化硅供應商北京天科合達半導體股份有限公司和山東天岳先進科技股份有限公司分別簽訂了長期協議,以確保獲得更多而且具有競爭力的碳化硅材料供應。協議將為英飛凌供應高質量并且有競爭力的150毫米碳化硅晶圓和晶錠,以及助力英飛凌向200毫米直徑碳化硅晶圓的過渡。其供應量預計將占到英飛凌長期需求量的兩位數份額。另一方面,英飛凌繼續在歐洲和亞洲擴產,增加碳化硅產能。

除此之外,英飛凌還有一個增加晶圓利用率的獨門黑科技:冷切割(cold split)技術。幾年前英飛凌收購了一家名為SILTECTRA的科技公司,其核心技術“冷切割”,是一種高效的晶體材料加工工藝,能夠將材料損失降到最低。英飛凌目前已經開始將這項技術用于SiC晶錠的切割上,從而讓單個晶錠可出產的芯片數量翻番。在未來,這項技術還可以用于晶圓制作過程中的切割,進一步提高芯片產量。


傳統的芯片制作過程包括晶圓切片,外延生長,芯片正面工藝和背部減薄等。其中晶錠的切片和背部減薄工序對SiC材料的“浪費”最多,幾乎可以達到四分之三。

晶圓切割工藝包括鋸切割和研磨,其中鋸切割通常采用金剛石線切割碳化硅的晶錠,效率低而且碳化硅晶錠和金剛石線的損耗也很高。不僅如此,鋸切割的晶圓片切割面平整度比較差,這對后續SiC芯片的制作良率也造成一定的障礙。研磨除了在晶圓處理過程中需要使用之外,在芯片最后的背部減薄工藝中也經常會用到,這一步對于原材料的損耗也很大。針對傳統的處理方式,冷切割技術則可以大大的提高晶圓利用率,并改進切面的平整度和良率。

那么冷切割技術又是如何進行的呢?首先在碳化硅晶錠切片過程中,采用低溫和激光技術切出晶圓片Wafer,這一步相比于鋸切割對于材料的損耗幾乎可以忽略不計。

48a6564c-f511-11ed-ba01-dac502259ad0.png

在芯片工藝的最后,冷切割技術又可以替代背部減薄工藝,將本來需要磨掉的材料切下完整的一片晶圓片。更重要的是,這一片晶圓還可以再次利用,回到之前的工藝繼續生產芯片。

48c4ad9a-f511-11ed-ba01-dac502259ad0.png

通過晶錠的切片和背部減薄的切割方法,冷切割技術理論上可以達到傳統晶圓處理方法4倍的利用率。不僅如此,冷切割技術還可以用于GaN晶錠的生產過程中。英飛凌目前已經在晶錠的切片過程中開始試產冷切割技術,未來兩年會繼續把冷切割技術用到背部減薄工藝中去。

英飛凌正著力提升碳化硅產能,以實現在2030年之前占據全球30%市場份額的目標。預計到2027年,英飛凌的碳化硅產能將增長10倍。英飛凌位于馬來西亞居林的新工廠計劃于2024年投產,屆時將補充奧地利菲拉赫工廠的產能。迄今為止,英飛凌已向全球3,600多家汽車和工業客戶提供碳化硅半導體產品。

聲明:本文內容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網站授權轉載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發燒友網立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用,如有內容侵權或者其他違規問題,請聯系本站處理。 舉報投訴
  • 英飛凌
    +關注

    關注

    68

    文章

    2518

    瀏覽量

    142886
  • 硅晶
    +關注

    關注

    0

    文章

    11

    瀏覽量

    7769
收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

    評論

    相關推薦
    熱點推薦

    切割機技術升級 破解碳化硅/氮化鎵低損傷切割難題

    切割機技術升級破解碳化硅/氮化鎵低損傷切割難題碳化硅(SiC)、氮化鎵(GaN)作為第三代半
    的頭像 發表于 02-27 21:02 ?363次閱讀
    <b class='flag-5'>晶</b><b class='flag-5'>圓</b><b class='flag-5'>切割</b>機技術升級 破解<b class='flag-5'>碳化硅</b>/氮化鎵低損傷<b class='flag-5'>切割</b>難題

    Wolfspeed成功制造出單晶300mm碳化硅

    碳化硅技術引領者 Wolfspeed, Inc. (美國紐約證券交易所上市代碼: WOLF) 今日宣布了一項重大行業里程碑:成功制造出單晶 300 mm(12英寸)碳化硅。憑借著
    的頭像 發表于 01-16 09:21 ?1940次閱讀

    破局300mm!Wolfspeed碳化硅取得關鍵突破

    電子發燒友網綜合報道 美國東部時間2026年1月13日,全球碳化硅技術領域的領軍企業Wolfspeed公司宣布成功制造出單晶300毫米(12英寸)碳化硅,標志著寬禁帶半導體材料迎來
    的頭像 發表于 01-15 09:29 ?904次閱讀

    重大突破!12 英寸碳化硅剝離成功,打破國外壟斷!

    9月8日消息,中國科學院半導體研究所旗下的科技成果轉化企業,于近日在碳化硅加工技術領域取得了重大突破。該企業憑借自主研發的激光剝離設備,成功完成了12英寸碳化硅
    的頭像 發表于 09-10 09:12 ?1686次閱讀

    如何利用 AI 算法優化碳化硅襯底 TTV 厚度測量數據處理

    碳化硅半導體制造中,總厚度變化(TTV)是衡量襯底質量的關鍵指標。TTV 厚度測量數據處理的準確性直接影響工藝優化與產品良率。然而,測量數據常受環境噪聲、設備誤
    的頭像 發表于 08-25 14:06 ?654次閱讀
    如何利用 AI 算法優化<b class='flag-5'>碳化硅</b>襯底 TTV 厚度測量數據<b class='flag-5'>處理</b>

    激光干涉法在碳化硅襯底 TTV 厚度測量中的精度提升策略

    提供理論與技術支持。 引言 隨著碳化硅半導體產業的蓬勃發展,對碳化硅襯底質量要求日益嚴苛,總厚度變化(TTV)作為關鍵質量指標,其精確測量至關重要。激光干涉法
    的頭像 發表于 08-12 13:20 ?1097次閱讀
    激光干涉法在<b class='flag-5'>碳化硅</b>襯底 TTV 厚度測量中的精度提升策略

    【新啟航】如何解決碳化硅襯底 TTV 厚度測量中的各向異性干擾問題

    精確的測量技術支持。 引言 碳化硅(SiC)作為第三代半導體材料,憑借其優異的物理化學性能,在高功率、高頻電子器件領域展現出巨大的應用潛力。總厚度變化(TTV
    的頭像 發表于 08-08 11:38 ?941次閱讀
    【新啟航】如何解決<b class='flag-5'>碳化硅</b>襯底 TTV 厚度測量中的各向異性干擾問題

    碳化硅特性及切割要點

    01襯底碳化硅襯底是第三代半導體材料中氮化鎵、碳化硅應用的基石。碳化硅襯底以碳化硅粉末為主要原材料,經過晶體生長、錠加工、
    的頭像 發表于 07-15 15:00 ?1180次閱讀
    <b class='flag-5'>碳化硅</b><b class='flag-5'>晶</b><b class='flag-5'>圓</b>特性及<b class='flag-5'>切割</b>要點

    碳化硅襯底切割自動對刀系統與進給參數的協同優化模型

    一、引言 碳化硅(SiC)襯底憑借優異性能在半導體領域地位關鍵,其切割加工精度和效率影響產業發展。自動對刀系統決定切割起始位置準確性,進給參數控制切割過程穩定性,二者協同優化對提升
    的頭像 發表于 07-03 09:47 ?549次閱讀
    <b class='flag-5'>碳化硅</b>襯底<b class='flag-5'>切割</b>自動對刀系統與進給參數的協同優化模型

    基于機器視覺的碳化硅襯底切割自動對刀系統設計與厚度均勻性控制

    一、引言 碳化硅(SiC)作為第三代半導體材料的代表,以其卓越的物理化學性能,在新能源汽車、軌道交通、5G 通信等關鍵領域展現出不可替代的作用。然而,SiC 材料硬度高、脆性大的特性,給其襯底切割
    的頭像 發表于 06-30 09:59 ?850次閱讀
    基于機器視覺的<b class='flag-5'>碳化硅</b>襯底<b class='flag-5'>切割</b>自動對刀系統設計與厚度均勻性控制

    自動對刀技術對碳化硅襯底切割起始位置精度的提升及厚度均勻性優化

    摘要:碳化硅襯底切割對起始位置精度與厚度均勻性要求極高,自動對刀技術作為關鍵技術手段,能夠有效提升切割起始位置精度,進而優化厚度均勻性。本文深入探討自動對刀技術的作用機制、實現方式及其對切割
    的頭像 發表于 06-26 09:46 ?751次閱讀
    自動對刀技術對<b class='flag-5'>碳化硅</b>襯底<b class='flag-5'>切割</b>起始位置精度的提升及厚度均勻性優化

    碳化硅襯底切割進給量與磨粒磨損狀態的協同調控模型

    摘要:碳化硅襯底切割過程中,進給量與磨粒磨損狀態緊密關聯,二者協同調控對提升切割質量與效率至關重要。本文深入剖析兩者相互作用機制,探討協同調控模型構建方法,旨在為優化碳化硅襯底
    的頭像 發表于 06-25 11:22 ?737次閱讀
    <b class='flag-5'>碳化硅</b>襯底<b class='flag-5'>切割</b>進給量與磨粒磨損狀態的協同調控模型

    基于進給量梯度調節的碳化硅襯底切割厚度均勻性提升技術

    碳化硅襯底切割過程中,厚度不均勻問題嚴重影響其后續應用性能。傳統固定進給量切割方式難以適應材料特性與切割工況變化,基于進給量梯度調節的方法為提升切割
    的頭像 發表于 06-13 10:07 ?623次閱讀
    基于進給量梯度調節的<b class='flag-5'>碳化硅</b>襯底<b class='flag-5'>切割</b>厚度均勻性提升技術

    切割進給量與碳化硅襯底厚度均勻性的量化關系及工藝優化

    引言 在碳化硅襯底加工過程中,切割進給量是影響其厚度均勻性的關鍵工藝參數。深入探究二者的量化關系,并進行工藝優化,對提升碳化硅襯底質量、滿足半導體器件制造需求具有重要意義。 量化關系分析
    的頭像 發表于 06-12 10:03 ?659次閱讀
    <b class='flag-5'>切割</b>進給量與<b class='flag-5'>碳化硅</b>襯底厚度均勻性的量化關系及工藝優化

    碳化硅何以英飛凌?—— SiC MOSFET性能評價的真相

    碳化硅(SiC)技術的應用中,許多工程師對SiC的性能評價存在誤解,尤其是關于“單位面積導通電阻(Rsp)”和“高溫漂移”的問題。作為“碳化硅何以英飛凌”的系列文章,本文將繼續為您揭開這些誤區
    的頭像 發表于 04-30 18:21 ?949次閱讀
    <b class='flag-5'>碳化硅</b>何以<b class='flag-5'>英飛凌</b>?—— SiC MOSFET性能評價的真相